• 低コストを実現! ゆるみ止めナット『TRES LOCKシリーズ』 製品画像

    PRねじ込みトルクのバラツキを抑える構造設計により、締め付けトルクの設定・…

    自社ブランド品のゆるみ止めナット『TRES LOCKシリーズ』は、 高いゆるみ性能はもちろんのこと、使いやすさと低コストを実現しました。 ねじ込みトルクのバラツキを抑える構造設計により、 締め付けトルクの設定・管理が簡単になりました。 お客様の様々なご要望にお応えできるよう、 規格・サイズなど、多種にわたり揃えています。 【TRES LOCKシリーズの特長】 ■安定したゆ...(つづきを見る

  • ブラインドリベット ※無料サンプル進呈中 製品画像

    PR【見直しのチャンス】原材料の価格高騰でお困りでは御座いませんか?低コス…

    ブラインドリベットは、裏側に治具や手が入らない場所に専用工具を使用し、締結する事が出来る製品です。 中国メーカーより直接調達。低コストにてご提案致します。 オールステンレス シールドタイプの「BBF-Sシリーズ」をはじめ、 オール鉄 オープンタイプの「SSシリーズ」などをご用意しています。 カタログ掲載品だけでなく、ユーザー様のサンプルや図面に基づいた仕様での製作も対応させて頂...(つづきを見る

  • 【英語版】Bartington社製 汎用磁気センサ Mag-03 製品画像カタログあり

    海中、真空、小型タイプと様々な環境で使用できる3軸磁気センサ

    当カタログは、ロックゲート株式会社で取り扱っているBartington社製 のフラックスゲート磁気センサ『Mag-03』の製品ブローシャです。 海中、真空、小型タイプと様々な環境で使用できる3軸磁気センサーで、 低ノイズタイプは1Hzにて<6pTrms になります。 【特長】 ■測定範囲: ±70~1000µT ■ノイズレベル: 低ノイズレベル<6pTrms(@1Hz) ■円...(つづきを見る

  • 大気・排ガス・作業環境 ハンディVOCセンサー 製品画像カタログあり

    VOCの総量を現場で簡単操作&スピード測定  印刷・塗装・洗浄・乾燥工…

    ◆製品特徴◆ 〜石油系・塩素系等の揮発性有機物質(VOC)濃度の総量を現場で簡易、  迅速に検出することができるハンディタイプの測定器〜 〜内蔵ポンプにより、ダクト内排ガス、表層ガス測定やボーリング孔(深さ10mなど)から直接吸引測定ができるので、簡易チェック・一次スクリーニングに最適〜 〜ヘッドスペース測定法により、水中VOC成分の高感度検出が可能〜 ・専門知識が必要なく、...(つづきを見る

  • 設置型照度センサー/品番 WPLP-PHOT-01 製品画像

    設置型照度センサー

    【WPLP-PHOT-01】は面に入射する光束(ルーメン)と単位面積(m2)の比として定義される照度(lux)を測定します。 光測定プローブのスペクトル応答カーブは、標準明所視カーブV(λ)として知られている人間の目の応答カーブに近似しています。スペクトル応答における「WPLP-PHOT-01」と標準明所視カーブV(λ)の差は誤差f'1で計算されます。プローブの校正は一次度量衡標準機関の校正を受...(つづきを見る

  • 設置型紫外線放射照度センサー/品番 WPLP-UV-01 製品画像

    設置型紫外線放射照度センサー

    UVA / UVB / UVCスペクトル範囲において、面に入射する放射フラックス(W)と単位面積(m2)の比として定義される放射照度(W/m2)を測定します。新しいフォトダイオードの採用により、?および赤外光に対して不感です。 屋外設置タイプはMC8P-PHOT3Sシリーズになります。 ■mV信号出力 VIS-NIR、UVA、UVB、UVCのスペクトル領域において、光および放射量を、...(つづきを見る

  • 設置型光合成光量子センサー/品番 WPLP-PAR-01 製品画像

    設置型光合成光量子センサー

    【WPLP-PAR-01】は400~700nmのスペクトル範囲において、1秒間に面に入射する光量子数と、単位面積(m2)の比を測定します。この量はPAR、光合成有効放射として定義されます。 プローブの校正はハロゲンランプを使用して、特定のスペクトルは二の、既知のスペクトル放射によって行います。プローブのスペクトル応答はわずかに温度の影響を受けます。 ディフューザとプローブの特別な構造により、余...(つづきを見る

  • 設置型放射照度センサー/品番 WPLP-RAD-01 製品画像

    設置型放射照度センサー

    WPLP-RAD-01】はVIS-NIRスペクトル範囲(400~1050nm)において、面に入射する放射フラックス(W)と、単位面積(m2)の比として定義される放射照度(W/m2)を測定します。 これらの特長は可視および近赤外領域の測定に適した測定器に適用されます。 プローブの校正は、スペクトル干渉フィルターを通した、Xe-Hg(キセノン-水銀)ランプの577/579nmラインを使用しています...(つづきを見る

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