HIKMICROAnalyzer/HIKMICROViewer

様々な形でキャプチャされた画像を分析！サーモグラフィ情報分析のソフトウ…

当社で取り扱う『HIKMICRO Analyzer/HIKMICRO Viewer』について ご紹介いたします。 「HIKMICRO Analyzer」は、ポイント・ライン・長方形・円・ポリゴンなど 様々な形でキャプチャされた画像を分析し、レポートを生成することが可能。 また、「HIKMICRO Viewer」は、ハンディ設備向けとなっており、 リモート操作ができ、当社製品の"M...

メーカー・取り扱い企業： ハイクマイクロ株式会社 HIKMICRO

【事例】イベントディテクタシステム（環境試験槽連動）

最大160chの瞬断Eventを同時にモニタリング可能！！

・温度サイクル槽と連動して、導通部分の瞬断Eventを1μsecの分解能でモニタリングすることができるシステム。 ・最大160chの瞬断Eventを同時にモニタリングすることができ、瞬断Event以外にも関連する複数の情報を取得・表示・保存。 ・Event情報（各ch毎） ・Event発生回数、発生期間（瞬断時間） ・サイクル数、温度、冷熱衝撃試験器温度遷移情報（up/down/hold）...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【事例】高速温度集録システム

高速性を維持した長時間（１時間以上）集録が可能！

・高速性、高精度の実現　　⇒　　データ間隔 ： 10ms　安定性 ：±0.05℃ ・同時8チャンネル計測／リアルタイムモニター が可能。 ・トリガモード選択機能（ソフトウエア or　ハードウエア）。 ・高速性を維持した長時間（１時間以上）集録が可能。 ・”特殊熱電対”を採用し高応答／高精度を実現。熱電対：Ｋ型タイプ、極細先端25μm径 ・詳細分析が可能なViewerソフト付属。...【特...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【事例】熱抵抗受託解析・熱抵抗検査装置のご提供

『業界初の手法』！独自技（特許出願中）を用いて正しい解を導き出します。

・カスタムの熱抵抗検査装置 ・半導体製品の熱抵抗解析受託（実測及びシミュレーション） 弊社独自技術により、曖昧な部分を多く含んだ半導体実製品PKGの熱抵抗解析を、これまでにない精度で検証することができます。 『業界初の手法』として特許出願中。...【特徴】 ○弊社受託評価用システムの例 ○最大10chでの並列測定が可能 ○定電流、定電圧、定電力の3モードに対応 ⇒2端子制御の制約内で...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【事例】導通ＯＰＥＮモニタリングシステム

落下衝撃試験等に最適！機械的ストレスの瞬間をモニタリングします！

・落下衝撃試験等、一定周期で発生する機械的ストレスに対し、電子部品の導通経路で電気抵抗が高くなる、もしくはOPNEとなる瞬間をモニタリングできるシステム。 ・衝撃信号（加速度等）のトリガ情報を基点に前後一定期間を10msec間抵抗値データを1μsec間隔で集録（10000point）。 ・管理規格との比較で、各chのピ－ク抵抗値が管理値を超えるとイベント信号を発生することができる。 ・保存し...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology