• イベントディテクタシステム(衝撃試験機連動) 製品画像

    イベントディテクタシステム(衝撃試験機連動)

    イベントディテクタシステム(衝撃試験機連動)

    ・落下衝撃試験等、一定周期で機械ストレスを印加するような試験において、ストレス周期毎に10msec間抵抗値データ集録(1μsec間隔で10000point) ・標準構成において最大16ch同時に集録・判定・保存が可能。 ・瞬断検知と波形情報の取得を同時に実行。 ・集録済みのリストデータ及び波形データについても、付属のViewerソフトにより分析可能。 ・応力シミュレーションサービスのご提案...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社Wave Technology

1〜1 件 / 全 1 件
表示件数
45件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • icadtechnicalfair7th_1_pre2.jpg