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実環境空間表現ソフトウェア SpaceSight※データ見える化
PR計測データを「もっと」わかりやすく!市販のデータロガーに対応!リアルタ…
空間/領域計測の実測データを空間座標軸(XYZ軸)に割り当てることで、 三次元空間のビジュアル化を行い、時間軸と同期をとることで“直感的にわかりやすい“空間表現になります。 可視画像や図面データ上で計測データを重ねたり、実測値から近似値を高速演算で算出したり、いまよりも、「もっともっと」わかりやすい計測表現を提供します。 【特長】 ■リアルタイムにデータ観察(2D,3D)が可能 ■市...
メーカー・取り扱い企業: 九州計測器株式会社
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Amazonで販売開始! 最短3日で出荷ができるリニアガイド
PR弊社では国内販売開始20年の実績があり、大手工作機メーカー様でも採用さ…
【シリーズ】 ・MSA:デファクトスタンダード品、重荷重、高剛性 *他社品交換性あり MSA~E/フランジ型 MSA~S/スクエア型 ・MSB:コンパクトタイプ 高荷重 *他社品交換性あり MSB~E/フランジ型 MSB-S/スクエア型 *他社品交換性については仕様をご確認ください。 【在庫対応サイズ】 ・MSA15,20,25,30 ・MSB15,20,25,30...
メーカー・取り扱い企業: トーアメック株式会社
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自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット!正確な原子間力顕微鏡をご紹…
【仕様】 ■システム仕様:電動XYステージ ・200 mm:駆動 275 mm × 200 mm、分解能0.5 µm ・300 mm:駆動 375 mm × 300 mm、分解能0.5 µm ■XYスキャナ レンジ:シング...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…
【仕様】 ■モーター駆動XYステージ ・最大移動範囲:150 mm × 150 mm ・繰り返し誤差:2 µm ■モーター駆動Zステージ ・Z移動距離:25 mm ・分解能:0.1 µm ・繰り返し誤差:...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール
【仕様(スキャナー)】 ■XYスキャナー ・クローズドループ制御単一XYスキャナー ・スキャン範囲:100μm×100μm、50μm×50μm(オプション)、25μm×25μm(オプション) ・20ビット位置制御と2...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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NXテクノロジーを導入した完全自動化産業用AFM
、オーバーハングプロファイル、高解像度側壁 イメージング、および臨界角測定用に設計された完全自動AFMシステムの 原子間力顕微鏡(AFM)です。 傾斜Zスキャナを備えた特許取得済みの分離型XYおよびZスキャン システムにより、正確な側壁分析における通常およびフレアチップ法の 課題を克服します。 【ウエハファブ用で必須なツール】 ■高度で正確なPark NX技術を用いた完全自動...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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強力なライフサイエンス用走査型プローブ顕微鏡
M)と高い評価をいただいている原子間力顕微鏡(AFM)技術の 両機能を可能にしています。 【ナノスケール生物学研究のための総合的なソリューション】 ■フレクチャー式の完全独立Z軸スキャナ/XYスキャナを搭載、 完全非接触技術(TM)を備えた高精度Park NX AFM ■倒立型光学顕微鏡技術による超高分解光学イメージング ■スキャニング イオンコンダクタンス顕微鏡搭載により進化し...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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【日本版カタログ進呈中】低コスト・高機能・短納期が可能な新製品!当社が…
すべて搭載されており、 かつお手頃な価格でお求め頂けます。 当製品は細部に至るまで上位モデル同様に設計されており、 研究を促進することが可能。 また、ボーイングのないフラットな直交XYスキャンができます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■拡張性の高いAFMソリューション ■ボーイングのないフラットな直交XYスキャン ■低ノイズZ検出器 ■...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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最高レベルのナノスケール解像度で信頼あるデータを提供する原子間力顕微鏡
鏡(AFM)です。 本製品なら、ユーザーはより多くの時間と、より優れたデータを基盤に 革新的な研究に集中することができます。 【特長】 ■クロストーク除去によるボーイングの無い正確なXYスキャン ■低ノイズZ検出器を使った正確なAFMトポグラフィー ■真のノンコンタクト(TM)モードによる最高クラスのチップ寿命、分解能 およびサンプルの保護 ■半導体/ポリマー/電池材料や...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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故障解析アプリケーションに適した真空環境スキャニング
【仕様(スキャナー)】 ■XYスキャナー:50μm×50μm(100μmx100μmオプション) ■Zスキャナー:15μm ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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