• 高精度光エンコーダヘッド「SMD-01A基板タイプ(仮称)」 製品画像

    高精度光エンコーダヘッド「SMD-01A基板タイプ(仮称)」

    PR小型・高精度・位置決め容易な光エンコーダ SMD-01Aがより使いやす…

    SMD-01Aは、光エンコーダに必要なLED光源と光センサー搭載CMOSアンプICを一体化した、ワンチップ光エンコーダヘッドです。 今回、SMD-01Aとエンコーダ用逓倍IC SM3470BBを1つの基板に実装することで、お客様においては基板を取り付けるだけで容易に使用が可能となり、これまで以上に採用検討が容易となりました。 併せて、SMD-01Aと逓倍ICの組み合わせによりサブミクロンを超え...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーNPC株式会社

  • 安心・安全な抗菌スプレー『AUSIRO(オウシロシリーズ)』 製品画像

    安心・安全な抗菌スプレー『AUSIRO(オウシロシリーズ)』

    PR6時間以上の抗菌作用が持続!ナノ粒子を用いた抗菌・抗ウイルス製品です!…

    『AUSIRO(オウシロシリーズ)』は、病原菌を自己融解へ導き、ウイルスを 不活性する機能を持った製品です。 人にやさしいく環境にも配慮した技術で菌やウイルスを未然に予防できます。 菌を殺す生物毒ではないため、人だけでなく、動物・植物・昆虫にも 作用せず生活環境に配慮。手のひら最長6時間以上、モノに対して 1週間以上の持続効果を有します。 無香料タイプや、微量のアルコール配合製...

    メーカー・取り扱い企業: 日立工油株式会社

  • 新製品リリース!品質管理システム『Mr.Manmos Sora』 製品画像

    新製品リリース!品質管理システム『Mr.Manmos Sora

    ※新製品!まだ検査データを手でPCに入力していませんか?定器から出力さ…

    『Mr.Manmos Sora』は、検査データ取込、検査表発行、グラフ管理図を 作成する品質管理システムです。 データ出力のある多種多様な測定/検査機器の取込対応、入力工数を削減し、 ミスをなくします。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アサカ理研

  • 繊維配向画像解析ソフト ExFactAnalysisFiber 製品画像

    繊維配向画像解析ソフト ExFactAnalysisFiber

    繊維配向 分布 3D画像解析ソフト ExFact Analysis F…

    『ExFact Analysis for Fiber』は、繊維、燃料電池、ワイヤなど、 細長いファイバーの構造が連続する材料をX線CTなどで撮像した時に、 その三次元構造や形態を評価する三次元画像解析ソフ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジュアルサイエンス株式会社

  • I I U 携帯型音響アナライザーAMADIS-P 製品画像

    I I U 携帯型音響アナライザーAMADIS-P

    スマフォやタブレットとの組合せで現場の異常音を切り口に設備不具合の兆し…

    I I Uの携帯型音響アナライザーは自動車内の音にまつわる問題や乗り心地、快適性の評価技術を背景に生まれた汎用の簡易音響解析ツールです。 乗り物以外、特に回転体を持つ大型製造設備や配管、集合住宅やオフィス、ホールなどの音や振動を起因とした問題の原因調査解析と改善対策立案用ツールとしてお役に立ちます。専用解析ソフトはI I Uが大型プラント分野で培った特殊振動解析技術が反映されており、オプションや...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ファーストライト

  • 【分析事例】UVセンサ AlGaN中不純物濃度の高精度評価 製品画像

    【分析事例】UVセンサ AlGaN中不純物濃度の高精度評価

    様々なAl組成のAlGaN標準試料をラインアップ

    SIMS分析において、より確かな濃度定量値を算出するには測定サンプルと組成の近い標準サンプルを用いることが不可欠です。 紫外LEDやUVセンサに用いられるAlGaNについて、Al含有量に応じたAlGaN標準試料を幅広く取り揃えたことで、より高精度にAlGaN中不純物濃度を求めることができるようになりました。 UVセンサのSIMS分析を行い、ドーパントである...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】HAADF-STEM像とは 製品画像

    【分析事例】HAADF-STEM像とは

    HAADF-STEM:高角散乱環状暗視野走査透過顕微鏡法

    ■原理 HAADF-STEM( High-angle Annular Dark Field Scanning TEM)像は細く絞った電子線を試料に走査させながら当て、透過電子のうち高角に散乱したものを環状の検出器で検出することにより得られます...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】a-Si薄膜太陽電池中のドーパント濃度分布評価 製品画像

    【分析事例】a-Si薄膜太陽電池中のドーパント濃度分布評価

    対象元素に応じて測定条件を選択

    フレキシブル薄膜Si太陽電池において、a-Si(アモルファスシリコン)中のドーパントの濃度分布を定量的に評価した事例をご紹介します。樹脂で封止されたサンプルを解体し、SIMS分析を行いました。 Bの分析(図3)では表面側の浅い箇所に存在...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • CAEツール『Simcenter Femap』 製品画像

    CAEツール『Simcenter Femap』

    多種で高度な解析が可能!複雑な有限要素モデリングが可能なプリポスト統合…

    『Simcenter Femap』は、プリプロセッサ「Femap」と 有限要素法ソルバー「Simcenter Nastran」が高度に統合されたCAEツールです。 Femapでは、簡単な操作で複雑な有限要素モデリングが可...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社計算力学研究センター【略称:RCCM】 東京本社

  • 製品分析 有機フッ素化合物(PFOS・PFOA)分析 製品画像

    製品分析 有機フッ素化合物(PFOS・PFOA)分析

    製品中のPFOS・PFOA分析は内藤環境管理株式会社にお任せください!

    2008年6月27日より、「PFOSの販売と使用の制限」(指令2006/122/EC)が施行され、PFOS含有製品のEU域内への上市ができなくなりました。PFOSは製品中に少量添加するだけで各種効果が得られ、撥水剤(防水剤)、防汚剤、塗料、難燃剤、表面処理剤(調理器具焦げ付き防止剤等)などに広く用いられていますが、製品のMSDSに記載される事はほとんどありません。従って分析を行うことでリスク管理が...

    メーカー・取り扱い企業: 内藤環境管理株式会社

  • フォギングテスター(霧化試験器) PARAM FT-F1 製品画像

    フォギングテスター(霧化試験器) PARAM FT-F1

    自動車の内装用素材のフォギング測定に! 高温下に揮発する成分を測定、…

    本装置は高温下において揮発する成分を測定できます。 サンプルをガラスビーカーへ入れて加熱し、揮発成分を冷却用チャンバーで冷却し、グロスチェッカーやヘーズメータを使用してガラスプレートの曇度合いや重量を凝結前後で比較してフォギング特性を測定します。 自動車の室内が直射日光などで高温になると、内装に用いられている多種多様な素材から揮発性成分が放出されます。気温が低下した夜間に、それらの成分はフロン...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイビック・リサーチ

  • モーターやモーター周辺部品の解析「Romax Evolve」 製品画像

    モーターやモーター周辺部品の解析「Romax Evolve」

    モーター設計者のためのエレクトロ・メカニカル解析ツールです。

    ー設計者は、電磁場解析による解析検討だけでなく、モーター周辺部品も考慮した構造解析を行い、ギヤボ ックスとモーターを別体にするのか、あるいは一体化にするのかなどの検討が重要となってきています。Romax社は、機電システムに対する構造およびNVH解析に対して、多くのプロジェクトを通して培った実績があります。これらの経験と技術を生かして、Romax Evolveはモーター含めたフルシステムでの設計、...

    メーカー・取り扱い企業: ローマックス・テクノロジー・ジャパン株式会社

  • ASTM F1929 ダイペネトレーション試験 製品画像

    ASTM F1929 ダイペネトレーション試験

    ASTM F1929に規定されたダイペネトレーション試験が実施可能です…

    ・この試験は染色浸透液を使用し医療包装のシール漏れを検出するため、ASTMによって制定された試験方法です。 ・この試験の目的は、透明な材料と多孔質シート材とのシール部分に染料を浸しチャネル(導通)の欠陥の有無(漏れ)を目視で確認する事です。 ・ISO 11607-1 では、包装システム性能試験として、「滅菌及びその後の性能試験後に滅菌バリアシステムの完全性を実証しなければならない。」と記載され...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジネスロジスティクス(JBL)株式会社 藤沢北事業所

  • ASTM F1886 目視検査 製品画像

    ASTM F1886 目視検査

    ASTM F1886に規定されたVisual Inspection試験…

    ・この試験方法は、包装物の完全性に影響するような欠陥の存在を目視で測定するために、ASTM (米国材料試験協会)によって制定された試験方法です。 ・この試験方法は、シール部分がはっきりと見えている少なくとも一面が透過している未開封で傷の無い包装物に対してシールの見た目を目視で評価する試験です。 ・包装物のシールの欠陥を目視で探す能力は、穴のサイズ、シールとシール以外の部分の差異の度合、2つの包...

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    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジネスロジスティクス(JBL)株式会社 藤沢北事業所

  • IVA/HR-IVA分析及び封止パッケージの気密性試験 製品画像

    IVA/HR-IVA分析及び封止パッケージの気密性試験

    内の水分量、ガス成分分析)本分析ではMIL規格(MIL-STD-750…

    A/HR-IHA分析 ( 封止パッケージ内の水分、ガス分析 ) ・封止パッケージの気密性試験 (ヘリウムリーク試験及びKr85 リーク試験 ) ・DPA ; Destructive Physical Analysis ( 破壊的物理分析; 規格準拠の製品テスト) ・X線顕微鏡による3次元解析 ●詳しくはお問い合わせください。 ...

    メーカー・取り扱い企業: ユーロフィンイーエージー株式会社

  • FARO Edge ScanArm HD 製品画像

    FARO Edge ScanArm HD

    スキャンスピード1秒間に560,000点を取得できる測定機をご紹介しま…

    『FARO Edge ScanArm HD』は、複雑なコンポーネントを高解像度で 取り込み可能な測定機です。 広いスキャン幅と高速なフレームレートによりスキャニング時間の 短縮を実現します。   また、対比色、光...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ナベヤ製作所

  • 【資料】Simcenter FEMAP 建設分野機能編 製品画像

    【資料】Simcenter FEMAP 建設分野機能編

    全世界の様々な分野で使用!建設分野での解析機能をご紹介します!

    当資料は、プリポストプロセッサ(FEMAP)と、 構造用有限要素法ソルバー(Simcenter Nastran)で構成される、 『Simcenter FEMAP』の建設分野での解析機能をご紹介しています。 Simcenter Nastranは全世界の様々な分野で使用されており、建設分野でも...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社計算力学研究センター【略称:RCCM】 東京本社

  • ASTM F88 シール強度測定 製品画像

    ASTM F88 シール強度測定

    ASTM F88に規定されたシール強度測定が実施可能です。

    ・この試験は軟質バリア材料のシール強度を評価するため、ASTMによって制定された試験方法です。 ・ISO 11607-1では、包装システム性能試験として、「滅菌及びその後の性能試験後に滅菌バリアシステムの完全性を実証しなければならない。」と記載されており、その付属書Bでは、医療包装のシール完全性を評価するための標準試験方法としてASTM F88が記載されています。 ・シール強度の測定方法には、...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジネスロジスティクス(JBL)株式会社 藤沢北事業所

  • 電子材料誘電特性解析計算クラウドーSUMCLOUD-RFCALC 製品画像

    電子材料誘電特性解析計算クラウドーSUMCLOUD-RFCALC

    高周波帯・低損失用途の電子材料の高精度な特性解析!SUMシリーズ電子材…

    高周波帯・低損失用途向け厳密解析計算アルゴリズムをベースに、高精度に計算して評価します。 当解析計算クラウドサービスは、誘電体材料の特性を厳密に解析しデータ取得するのに不可欠な一連の計算処理を、DaaS方式でお客様へネットレンタル提供するサービスです。 特に新規に設備投資するニーズがない開発・回路設計エンジニアのお客様は、測定する個々の材料特性による計算複雑さの度合いに応じて柔軟に高精度解析...

    メーカー・取り扱い企業: サムテック有限会社

  • [XAFS]X線吸収微細構造 製品画像

    [XAFS]X線吸収微細構造

    XAFSは、物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルを解析する…

    物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルには物質中に含まれる元素特有の急峻な立ち上がり(=吸収端)が見られます。 この吸収端近傍±50 eV程度に現れる微細構造をXANES(=X-ray Absorption Near Edge Structure)と呼び、吸収端から高エネルギー側1000 eV程度に現れる振動構造をEXAFS(=Extended X-ray Absorption...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析】PFOS/PFOA 製品画像

    【分析】PFOS/PFOA

    人工有機フッ素化合物「PFOS」と「PFOA」の分析を行っております

    「PFOS(パーフルオロオクタンスルホン酸)」「PFOA (パーフルオロオクタン酸)」及びそれらの関連物質は、フッ素を含んだ 人工有機フッ素化合物です。 撥水剤、塗料、防汚剤、グリース、オイル表面処理剤など様々な用途で 工業製品や家庭用品などの分野に幅広くされている物質です。 人間や動物の血液を汚染する非常に有毒で、極めて残留性が高い化学物質 である可能性が指摘され、世界各国で...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社JTC

  • 【無料】成果志向のAIIT PBLの運営戦術 村越PTの活動から 製品画像

    【無料】成果志向のAIIT PBLの運営戦術 村越PTの活動から

    【論文集 無料進呈】3D画像解析丸分かり!14本の論文を60Pに凝縮 …

    る樹脂成形品中のガラス繊維の観察と三次元解析 4.X線CTによるメタリック射出成形品の配向挙動解析 5.高分解能X線CTによる厚肉球状黒鉛鋳鉄の三次元組織観察 6.X線CTとExFact VR 2.0による鋳造品の内部品質評価 7.セメントコンクリート舗装の三次元損傷診断 8.三次元空隙ネットワーク解析によるリチウムイオン電池電極の評価法の開発 9.三次元画像...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジュアルサイエンス株式会社

  • 【分析事例】CiGS,a-Si薄膜太陽電池の解析手法について 製品画像

    【分析事例】CiGS,a-Si薄膜太陽電池の解析手法について

    CIGS、a-Siなどの薄膜太陽電池の解析のことならお任せ下さい

    CIGS、a-Siなどの薄膜太陽電池の解析手法について、「a-Si, μc-Si 薄膜太陽電池の解析手法」、「a-Si,μc-Siが混在するSi薄膜のTEM/電子線回折」、「a-Si 薄膜太陽電池(p-i-n構...

    メーカー・取り扱い企業: ユーロフィンイーエージー株式会社

  • 株式会社WADOWのシミュレーション受託 製品画像

    株式会社WADOWのシミュレーション受託

    世界最小のものから宇宙で使われるものまで!経験と実績のシミュレーション…

    他 →使用ツール:ALLEGRO、ライトニング、ハイパーリンクス、ADS、他 ○PIシミュレーション →インプットインピーダンス、トランスファーインピーダンス、他 →使用ツール:PIStream,SIwave,Ansoft Designer、他 ○EMIシミュレーション →プレーン共振、電磁放射、EMIルールチェック、他 →使用ツール:DEMITAS NX、EMIアドバイザー、 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社WADOW

  • PICWave (Photonic IC/Laser /SOA) 製品画像

    PICWave (Photonic IC/Laser /SOA)

    PICWave は、アクティブデバイスを含む(半導体レーザ・SOA)光…

    PICWave is a photonic integrated circuit (PIC) design tool which brings together: an advanced laser dio...

    メーカー・取り扱い企業: CTflo株式会社

  • 断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析 ExFactVR 製品画像

    断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析 ExFactVR

    断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析ソフト ExFact V…

    ExFact VRはX線CTなどから得た断層画像を3次元構築し、2次元/3次元的に可視化するソフトウェアです。 ○業務や研究で三次元画像デバイスを使うユーザーの定型的な利用形態に着目。再生互換性が高く...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジュアルサイエンス株式会社

  • 断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析 ExFactVR 製品画像

    断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析 ExFactVR

    断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析ソフト ExFact V…

    『ExFact VR 2.0』は、X線CTなどから得られた断層画像を ボリュームレンダリングにより二次元/ 三次元的に可視化する 三次元断層画像可視化ソフトウェアです。 断面画像と立体画像、付加情報...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジュアルサイエンス株式会社

  • AFM(原子間力顕微鏡) 製品画像

    AFM(原子間力顕微鏡)

    微小プローブによる高分解能でのイメージング!ナノレベルの構造解析を実現…

    当社では、試料表面を微小プローブで走査し、ナノレベルの 構造解析を実現いたします。 「形状測定(タッピングモード)」では、周期的に振動させた プローブで試料表面を軽くタッピングし、表面形状を計測。 また、「位相イメージング」は、カンチレバーを動かす周期信号と カンチレバーの振動との間の位相遅れをマッピングし、形状には 現れない物性の違いを可視化します。 【特長】 ■微小...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス 分析解析・信頼性評価サービス

  • ものづくりQ&A 製品画像

    ものづくりQ&A

    もっと安くしたい!などの、ものづくりに関してのQ&Aにお答えし…

    モデルトライアルは、自動車関係やOA機器の試作品、アミューズメント関係の 部品製作などのプラスチック加工を行っている会社です。 「サイズが大きい/小さいけど作ってくれる?」「もっと安くしたい!」 「治具を製作したいけど、どんな作りにすればいいの?」 などのお悩みはありませんか。 そんなお悩みも当社が解決致します。 真空注型や切削加工、治具製作までプラスチックの事ならお任せくださ...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社モデル・トライアル

  • [SAXS]X線小角散乱法 製品画像

    [SAXS]X線小角散乱法

    ・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能

    SAXSは、X線を物質に照射して散乱したX線のうち、2θ<10°以下の低角領域に現れるものを測定し、物質の構造を評価する分析手法です。通常、数nm~数十nm程度の大きさの構造を評価できます。 ・ナノスケールでの周期構造・配向性の評価が可能 ・微粒子や材料中の空孔分布を評価することが可能 ・タンパク質など生体材料の評価が可能 ・サンプルを加熱して評価することが可能...■周期構造による散...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [AFM]原子間力顕微鏡法 製品画像

    AFM]原子間力顕微鏡法

    ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

    AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能...■使用する探針 シリコン単結晶ウエハを加工して作られた鋭い探針で試料表面を走査します。先端径は10nm未満にまで加工されています...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】IC法によるSi含有溶液中のTMAH分析事例 製品画像

    【分析事例】IC法によるSi含有溶液中のTMAH分析事例

    IC(イオンクロマトグラフ)法でアミン類の測定が可能です

    水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)は、半導体の現像液やエッチング液として用いられています。 Siのエッチング液に用いたTMAH溶液の濃度を測定する場合、溶液中に多量に溶解したSiが夾雑物となり、測定結果に影響を与える場合がありますが、IC(イオンクロマトグラフ)法による評価ではSiの影響を受けることなく、TMAH濃度の定量分析が可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】AFMデータ集 製品画像

    【分析事例】AFMデータ集

    AFM :原子間力顕微鏡法

    AFMは微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 金属・半導体・酸化物などの材料評価だけでなく、毛髪やコンタクトレンズなどのソフトマテリアルまで幅広い材料を測定可能です。 本資料では、様々な材質のAFM像をご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XAFSによるシリコン酸化膜評価 製品画像

    【分析事例】XAFSによるシリコン酸化膜評価

    シリコン周囲の局所構造解析、中間酸化物の定量、バルク・界面の評価

    シリコン酸化膜はMOSデバイスやリチウムイオン二次電池の負極材料として広く利用されていますが、中間酸化物の有無や界面での結合状態がデバイス特性に大きな影響を与えることが知られています。 放射光を用いたXAFS測定では試料表面から数十nmの深さの情報を検出するため、非破壊でバルク・界面における構造および結合状態を解析することが可能です。 本資料ではXAFSを用いてシリコン酸化膜の中間酸化物の有無...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】環境制御in-situXAFSによるRuO2触媒評価 製品画像

    【分析事例】環境制御in-situXAFSによるRuO2触媒評価

    着目のガス雰囲気・温度条件下での測定が可能

    in-situ XAFSは、試料周りの環境を着目に応じたガス雰囲気・温度に制御した条件下で、試料の化学結合状態・局所原子構造が評価できます。そのため、触媒等、特殊な環境での状態評価が必要な場合に適しています。本資料では、in-situ XAFSを用いてRuO2粉末を還元雰囲気下で室温から400℃まで昇温させ、RuO2の状態変化を捉えた事例をご紹介します。スペクトルの形状から、100℃~200℃の間...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • IAVの国内エンジニアリングサービス 製品画像

    IAVの国内エンジニアリングサービス

    パワートレーン開発サポートを国内設備で提供します。日本人エンジニアと本…

    応はお任せ下さい。 日本国内設備だけでなく世界各地のIAV所有設備も活用出来ますので、いかなるご要望でも先ずはご相談下さい。 主な受託業務 - エンジン性能試験設備 [Euro-VI/Stage-V対応] - 車両環境試験設備 - モデルベース開発サポート - パワートレイン・排気後処理システムの仕様選定及びコンセプト立案 - ECU/DCUソフトウェアロジック開発及び組み込...

    メーカー・取り扱い企業: IAV株式会社

  • 【分析事例】IGZO薄膜のXAFSによる局所構造解析 製品画像

    【分析事例】IGZO薄膜のXAFSによる局所構造解析

    酸化物半導体中、金属元素の価数・配位数・構造秩序性の評価

    透明酸化物半導体のIGZO薄膜はディスプレイ用TFT材料として研究開発が進められていますが、TFT特性の安定性の面で実用に課題が残されております。この課題を解決するためにはIGZO成膜メカニズムの解明が重要です。IGZO薄膜について、金属元素の電子状態およびその局所構造を、放射光を用いたXAFS解析によって明らかにすることでIGZO成膜メカニズムに関する知見を得ることが可能です。 Zn-K 端X...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 受託サービス『微生物同定用 rRNAシーケンス』 製品画像

    受託サービス『微生物同定用 rRNAシーケンス』

    バクテリア・カビ・酵母が対象!菌株到着後、4-5営業日で結果を報告いた…

    ご提供しております。 バクテリア・カビ・酵母を対象として、DNA抽出からBLASTまで解析を行います。 菌株到着後、4-5営業日で結果を報告。Result Report、Contig Data、Blast Data、 Raw Dataをメールでお知らせします。 【特長】 ■バクテリア・カビ・酵母が対象 ■DNA抽出からBLASTまで解析 ■菌株到着後、4-5営業日で結果...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社マクロジェン・ジャパン 東京営業所

  • 多孔体 3D画像解析ソフト ExFact Analysis PP 製品画像

    多孔体 3D画像解析ソフト ExFact Analysis PP

    多孔体 粒子 3D画像解析ソフト ExFact Analysis Po…

    ExFact Analysis for Porous/Particlesは、多くの穴や空隙を持つ材料をX線CTなどで撮像した時に、その三次元構造や形態を解析、評価するソフトウェアです。薬顆粒、生体材料、新素...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジュアルサイエンス株式会社

  • 【分析事例】ABF-STEM観察によるGaNの極性評価 製品画像

    【分析事例】ABF-STEM観察によるGaNの極性評価

    Csコレクタ付STEMにより原子レベルでの観察が可能です

    パワーデバイス・光デバイスとして実用化されているGaNは六方晶ウルツ鉱構造をとり、c軸方向に結晶学的な非対称性(Ga極性とN極性)が存在します。Ga極性とN極性ではエピタキシ膜の成長プロセスが異なるほか、結晶の表面物性・化学反応性も異なります。 本...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 依頼分析 「NanoSIMS50」 製品画像

    依頼分析 「NanoSIMS50」

    高分解能二次イオン質量分析装置

    NanoSIMS 50は微小領域の極微量分析と同位体分析用に開発されたSIMSです。 【特徴】 ○超高感度で微小部の分析が行える ○同時に5元素(5種イオン)の分析が行えるため、  同じ分析...

    メーカー・取り扱い企業: エルミネット株式会社

  • 【分析事例】角度分解XPS(ARXPS)による極薄膜組成分布評価 製品画像

    【分析事例】角度分解XPS(ARXPS)による極薄膜組成分布評価

    基板上の極薄膜についてデプスプロファイルを評価可能です

    角度分解XPS(ARXPS)はX線照射によって放出される光電子を取出角ごとに検出し、それぞれ検出深さの異なるスペクトルを用いてサンプル表面極近傍のデプスプロファイルを評価する手法です。従来のArイオンスパッタを用いた方法と比較すると、深さ方向分解能が向上し、かつ選択スパッタやミキシングによる組成変化が無いといったメリットがあり、基板上の極薄膜(数nm程度)のデプスプロファイル評価に有効です。 本...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察 製品画像

    【分析事例】液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察

    大気中・水溶液中での試料構造変化の可視化

    高分子は組成・構造を変えることで多様な機能が発現されることが知られており、様々な製品に利用されています。 高分子の評価においては、実環境での評価が重要です。今回は環境制御型AFM(原子間力顕微鏡)を用いて、大気中および水溶液中にて基板上の高分子形状を可視化した事例を紹介します。また、データ解析を併用することでポリマー粒子の分散具合を数値化しました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】AFMによる注射針の表面微細構造観察 製品画像

    【分析事例】AFMによる注射針の表面微細構造観察

    表面のコート膜の状態を評価できます

    注射針等の金属加工面は一般的に粗くなりますが、粗い表面のまま注射針を使用すると、患者に不快感を引き起こす事が知られています。そのため、注射針には表面が粗い事による表面摩擦を抑えるために、生物学的不活性なシリコーン潤滑剤を用いています。 本資料では、シリコーン潤滑剤を用いた表面加工の有無による粗さ評価をAFM(原子間力顕微鏡)を用いて評価した事例をご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧く...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【Q&A】悪臭防止のサナ『悪臭に突撃中!』 製品画像

    【Q&A】悪臭防止のサナ『悪臭に突撃中!』

    悪臭のQ&A!悪臭防止の解決策を無料でご提案いたします

    臭気対策は、発生場所や発生臭気などにより必要な対策が大きく異なります。 しかしながら、いずれの場合においても、発生現場や周辺環境を深く観察する ことが必要不可欠です。 近隣住民の嗅覚は敏感です。脱水ケーキや汚泥の臭気がきついと感じてる お客様、当社では、技術者が調査し、無料で解決策をご提案します。 【Q&A(一例)】 ■Q:臭いはするのですが苦情もないし…。  A:悪臭問題は...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サナ 本社、九州営業所、東北営業所、埼玉工場

  • ボイド/内部欠陥/異物抽出 ExFact VR ボイド解析 製品画像

    ボイド/内部欠陥/異物抽出 ExFact VR ボイド解析

    ボイド/内部欠陥/異物抽出 ExFact VR ボイド解析オプション

    『ExFact VR 2.0 ボイド解析オプション』は、 ソフトウェア「ExFact VR 2.0」に別売りで機能追加できるオプション製品です。 鋳造品や樹脂などの三次元画像から内部欠陥や粒子を抽出し...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジュアルサイエンス株式会社

  • マイクロESCAによる分析 事例集 製品画像

    マイクロESCAによる分析 事例集

    400LPIの銅メッシュ(メッシュ間隔:63.5μm)の分析結果を掲載…

    当事例集では、400LPIの銅メッシュ(メッシュ間隔:63.5μm)を マイクロESCA(Quantum-2000)により分析した結果を紹介しております。 二次電子像から分析視野を指定してその領域の銅の面分析を行った結果 二次電子像に対応した銅の分布が得られ、さらにこのデータから測長機...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

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