• カット機・研磨機による受託サービス|JTL 製品画像

    各種分析用・観察用・展示用の断面サンプルを作製します。

    はんだ接合部断面・溶接部断面の観察や、異物断面の分析、ASSY品の内部の確認などを行う際には、試料の切断や研磨などの前処理が必要になります。 JTLでは試料のサイズ・材料・目的に応じたカット機・包埋樹脂・研磨機を選定しまして、切断→樹脂包埋→研磨までの試料調整をお受け致します。 【平和テクニカ製】 ファインカット HS-100 ●切断砥石径:φ230mm ●試料台移動:左右方向110...(つづきを見る

  • X線透過観察装置による受託サービス|JTL 製品画像

    X線透過装置を用いて製品・部品の内部構造を非破壊で観察します。

    を用いて、試験体の内部構造状態を非破壊で観察・検査・計測を行うことができます。 各種素材、部品・製品形状の試料について、内部構造観察から不具合の多数個検査まで幅広いニーズに対応致します。 Dage製 XiDAT XD7600NT ●最大試料寸法:440×500×130mm ●最大撮影範囲:40×50mm ●最大試料重量:5kg ●X線管電圧:30~160kV ●X線管電力:0...(つづきを見る

  • シミ分析の受託サービス|JTL 製品画像

    試料表面の微量なシミの分析から調査まで一貫してご対応します。

    製品表面に発生したシミには、ケースに応じて様々な原因が考えられます。 弊社ではシミの状態に応じて、最適な分析手法を提案致します。 成分分析によるシミの原因物質の特定のみでなく、外観撮影から広がり具合の調査まで一貫して取り組み、問題を解決致します。...●様々なシミの分析に対応 シミ状の異常の発生原因には、様々なパターンが存在します。 当社では、有機・無機・化合物問わず、原因物質の特定を行う...(つづきを見る

  • イオンミリング装置による受託サービス|JTL 製品画像

    機械研磨では潰れて観察できない構造をきれいに面仕上げします。

    イオンミリング装置とは試料の表面に非常に弱いアルゴンイオンビームを照射することで、観察・分析用の研磨・エッチングを行う断面研磨装置です。 従来の機械研磨では、銅やアルミ材などの軟質材では研磨面が潰れたり、ダレが発生し、セラミックやシリコンなどの硬質材では割れやクラックが発生しましたが、イオンミリング装置ではこれらの問題を解消し、きれいで損傷のない観察面が得ることができます。 イオンミリング装置...(つづきを見る

  • 断面分析の受託サービス|JTL 製品画像

    目的に応じた設備で、断面試料作製及び分析を実施します。

    試料内部評価の際は、断面試料作製後、分析を実施します。 断面試料作製では、機械研磨、イオンミリング(CP)、ミクロトームなどの様々な手法があります。 試料作製後に、SEM、FE-EPMA等の装置にて分析を実施します。 いずれも解析目的に応じて最適な方法をご提案します。...【特徴】 ●ご依頼内容に応じた最適な研磨方法 試料状態や解析目的に応じて、最適な断面作成方法を実施致します。 通常...(つづきを見る

  • 粉体分析の受託サービス|JTL 製品画像

    無機物・有機物問わず、様々な粉体試料の成分分析を実施します。

    金属粒子、土壌、医薬品など多種多様な粉体試料の分析に対応しています。 粉体試料は、その構成成分、粉体の量、あるいは粒径などによって、用いる装置や試料調製方法が多岐に渡ります。 JTLでは、ご依頼内容に応じた最適な分析手法を提案させて頂きます。...【特徴】 ●様々な粉末試料に対応 粉末試料は、無機・有機問わず分析が可能です。 結晶質または有機物の試料であれば、化合物の分析にも対応していま...(つづきを見る

  • マッピング分析の受託サービス|JTL 製品画像

    カラーマッピングにより、元素の分布を確認します。

    マッピング分析とは元素や成分の分布状態を視覚的に確認する分析手法です。 当社では、電子線(EDX,WDX)と、赤外顕微鏡(FT-IR)を用いたマッピング分析に対応しております。 元素マッピングにより、対象の元素がどこに・どの程度存在しているのかを把握することができます。 表面観察・定量分析等のサービスと併せて利用することにより、より分析対象の状態への理解に繋がります。...【特徴】 ●視覚...(つづきを見る

  • 膜分析の受託サービス|JTL 製品画像

    メッキや薄膜、多層膜の分析を多彩な手法で適切に実施致します。

    主に断面研磨、イオンミリング(CP加工)、EDX、WDX、XRFの4つの手法から、メッキや薄膜などの観察・分析を実施致します。 無機物・有機物問わず、硬い膜や多層膜まで幅広くご対応しております。...【特徴】 ・断面研磨:10μm以上の観察 樹脂包埋を行い、指定箇所で断面だしを実施後、光学顕微鏡もしくは、SEMで観察します。 膜厚が約10μmまでなら、凹凸のない研磨が可能です。それ以上の薄...(つづきを見る

  • 定性分析の受託サービス|JTL 製品画像

    試料中に含まれる未知の成分を特定することで、お客様の研究開発を支援致し…

    A):エネルギー分解能が10eV程度 近接したピーク間の干渉を抑え、EDXでは分離不可能なピークの解析も可能です。定性範囲は、B~Uになります。 ●ED-XRF:非破壊分析 定性範囲は、Na~U、分析範囲は、φ0.3、1、3、10mmになります。 SEM-EDXよりも分析深さがあり(金属は数十μm、樹脂は数mm程度)バルク試料の分析に適しています。 ●ICP分析:高感度な微量分...(つづきを見る

  • RoHS/ELVスクリーニング分析の受託サービス|JTL 製品画像

    ED-XRFによるRoHS/ELVスクリーニング分析を実施します。

    ELVとは自動車・廃自動車及び部品・材料の鉛(Pb)、水銀(Hg)、カドミウム(Cd)、六価クロム(Cr6+)の4物質を規定値以下にする欧州連合の指令です。 RoHSとは電子・電気機器における鉛(Pb)、水銀(Hg)、カドミウム(Cd)、六価クロム(Cr6+)、ポリ臭化ビフェニル(PBB)、ポリ臭化ジフェニルエーテル(PBDE)の6物質を使用を制限する欧州連合の指令です。 (※新たに4種類のフ...(つづきを見る

  • 腐食分析の受託サービス|JTL 製品画像

    金属の錆分析や樹脂やゴムの劣化分析により、お客様の問題解決をサポートし…

    腐食とは材料が周囲の環境との間に化学反応を起こし、変質、消耗、破壊されて本来の機能を失う現象です。 JTLでは、所有する機器分析装置を組み合わせることで、様々な金属の錆分析や樹脂やゴムの劣化分析を実施します。...【特徴】 ●金属腐食分析 金属錆発生の必要条件は水と酸素です。 またハロゲンや硫化物は表面酸化膜を破壊し錆を促進させる因子です。 SEM-EDX、ED-XRF、EPMAによりこ...(つづきを見る

  • 劣化分析の受託サービス|JTL 製品画像

    FT-IRにより、高分子材料の劣化具合を評価します。

    プラスチックなど高分子材料は金属材料と異なり錆のような腐食が起こりづらい反面、熱や紫外線により劣化が起こります。プラスチックによく見られる黄変もその一例です。劣化分析サービスでは、このような試料に対してFT-IRを用いて劣化具合の評価を行います。この結果は破損のみられた製品など不具合品に対し、原因特定の材料として利用することができます。...【特徴】 ●結合から構造の変化を推定 FT-IRは分...(つづきを見る

  • ミクロトームによる受託サービス|JTL 製品画像

    切削技術で機械研磨より高精度な試料調整を実施します。

    光学顕微鏡、電子顕微鏡での観察に用いる試料調整の一つであり、目的に応じたミクロトームでの試料調整を受託にて実施致します。試料調整方法は研磨法・切削法・FIB法などありますが、ミクロトームでは広範囲での対応が可能な切削法を用います。 ミクロトームによる切削試料調整は機械研磨と比べると精密に加工ができる反面、観察目的により様々な技術が必要になります。JTLでは豊富な経験・知識を基に、目的に合わせた最...(つづきを見る

  • 異物分析の受託サービス|JTL 製品画像

    製品や素材に混入した不明な異物を特定するため、様々な手法で分析致します…

    不明な異物の性状を分析するためには、異物の大きさ、組成などの情報から適した分析方法を選択する必要があります。 また、異物が発生した周囲の環境情報や、異物が発生していない対象品のご提供も大きな情報となります。 JTLでは、異物分析によりお客様の課題解決をサポート致します。...【特徴】 ●金属のような異物の分析 異物が金属であることを予想された場合、ED-XRFにより、非破壊&前処理不要で元...(つづきを見る

  • 付着物分析の受託サービス|JTL 製品画像

    製品や部品に発見された未知な付着物の分析を実施致します。

    未知な付着物の性状を分析するためには、付着物の大きさ、厚み、組成などの情報から適した分析方法を選択する必要があります。 付着物が発生した周囲の環境情報や、付着物のない対象品のご提供も大きな情報となります。...【特徴】 ●未知の付着物スクリーニング分析が可能 未知の付着物にはSEM-EDXによって付着物がどのような元素で構成されているかスクリーニング分析します。 付着物のない対象品と比較分...(つづきを見る

  • VOC分析の受託サービス|JTL 製品画像

    加熱脱着GC-MSおよびHPLCによって、VOCの測定を実施します。

    VOCは揮発性有機化合物の略称であり、浮遊粒子状物質や光化学オキシダントの原因のひとつです。これらは大気汚染をもたらすと共に人の健康への影響が懸念される物質であるため、排出規制や自主的取り組みによる規制が進められています。 VOC分析サービスでは加熱脱着GC-MS法およびHPLC法を用いて、VOCに該当する項目の測定を行います。...【特徴】 ●加熱脱着GC-MSで8成分、HPLCで3成分の測...(つづきを見る

  • 元素分析の受託サービス|JTL 製品画像

    製品や材料の主成分を特定することで、お客様の研究開発をサポート致します…

    様々な製品や材料等に含まれる元素の種類と構成比率を特定することで、お客様の課題解決に繋がる情報をご提供します。 手法としては、EDX、WDX、XRF、ICPから材料の分析を実施します。...【特徴】 ●SEM-EDX:多元素同時分析 試料を観察しながら分析することで、100μm以下の異物を狙って分析できます。分析深さは1μm程度で、表面分析に適しています。 ●WDX(FE-EPMA):...(つづきを見る

  • 有機酸分析の受託サービス|JTL 製品画像

    HPLC、LC-MS/MSを用いて有機酸分析を実施します。

    分離できない成分や、試料のマトリクスによる夾雑物の影響を受けてしまう成分については、選択性が高く夾雑物の影響を受けづらいLC-MS/MSを用いて測定を行います。 ●最大18項目分析可能 trans-アコニット酸/アジピン酸/ギ酸/クエン酸/グリコール酸/グルタル酸/コハク酸/酢酸/酒石酸/乳酸/ピルビン酸/フマル酸/プロピオン酸/マレイン酸/マロン酸/酪酸/イソ酪酸/リンゴ酸の18成分の...(つづきを見る

  • 残留溶媒分析の受託サービス|JTL 製品画像

    GC-MSによって、製品中の残留溶媒測定を実施します。

    残留溶媒はプラスチックなどの高分子材料、医薬品、食品、化粧品といった様々な製品の評価に使用されます。 残留溶媒分析サービスでは、ヘッドスペースバイアルに試料を入れ、加熱後に発生したガスをGC-MSを用いて分析します。試料や目的によっては加熱脱着GC-MSを用いて、より高温の条件で分析を行うことも可能です。...【特徴】 ●GC-MSを用いた定性分析 GC-MS分析結果より、得られたマススペク...(つづきを見る

  • 油種定性分析の受託サービス|JTL 製品画像

    GC-MSによって油に含まれる成分を特定し、どのような油種であるか評価…

    不具合品が発生した場合、残留油分の評価を行い原因究明の手がかりとすることが出来ます。 油種定性分析サービスではGC-MSを用いて油に含まれる成分を同定し、付着している油がどのような成分を含む油であるか評価することが可能です。 さらに、比較対象とする油をご提供頂くことで、より詳細な分析が可能となります。...【特徴】 ●GC-MSで各成分を分離 重量法やFT-IR法では油種の区別は困難です。...(つづきを見る

  • 無機ガス分析の受託サービス|JTL 製品画像

    GC-TCD、GC-BIDによって無機ガスの測定を実施します。

    無機ガス分析サービスでは、各種無機ガス(一部有機ガスを含む)を測定いたします。窒素・酸素・ヘリウムをGC-TCD、水素・一酸化炭素・二酸化炭素・メタン・エタン・プロパン・エチレンをGC-BIDで分析いたします。各種試験と組み合わせた測定も行っております。...【特徴】 ●無機ガスを高感度に測定 発生ガスが微量である場合、バリア放電イオン化検出器を持つGC-BIDを用いることでGC-TCDと比較...(つづきを見る

  • 清浄度分析の受託サービス|JTL 製品画像

    ICPおよびICによって陽イオン・陰イオンを測定し、清浄度を評価します…

    清浄度分析サービスでは、ICPで陽イオン、ICで陰イオンを測定し、定性または定量分析を行います。その結果を基板などの製品の清浄度、洗浄工程の効果確認として評価いたします。IPC-TM-650を参考に、基板以外の製品に対しても同様の方法で清浄度の評価が可能です。...【特徴】 ●高感度に測定 ICP-MSでは低バッググラウンドでの測定を行うことが出来るため、液中濃度でμg/L(ppb)レベルの測...(つづきを見る

  • 不純物分析の受託サービス|JTL 製品画像

    ICPによって不純物として含まれる無機物の測定を実施します。

    不純物分析サービスでは、ICPを用いて不純物として試料に含まれる無機物を測定します。 不純物としての評価は製品や材料に対してだけでなく、作業工程上で使用される洗浄液なども対象とすることができます。 洗浄を行うことである元素が増加していく様子をモニターし、その結果から工程管理を行うことも可能です。...【特徴】 ●高感度に測定 ICP-MSの場合、低バッググラウンドでの測定を行うことが出来る...(つづきを見る

  • アニオン分析の受託サービス|JTL 製品画像

    ICを用いて、無機イオンの測定を行い、腐食の原因調査や不具合解析をしま…

    アニオン分析サービスでは、IC(イオンクロマトグラフ)を用いてF⁻、Cl⁻、Br⁻、I⁻といったハロゲンに加えてNO₂⁻、NO₃⁻、SO₄²⁻、PO₄³⁻といった無機イオンを測定します。これらの無機陰イオンは腐食の原因となり得るため、得られた結果を不具合解析に用いることが可能です。...【特徴】 ●サプレッサー方式IC サプレッサー方式ICにより、溶離液のバックグラウンドを低下させ、液中濃度で...(つづきを見る

  • 同位体分析の受託サービス|JTL 製品画像

    ICP-MSにより特定の質量数を測定することで同位体比を評価します。

    原子には質量数が異なる同位体が存在します。同位体分析サービスでは、ICP-MS(ICP質量分析装置)が質量数をもとに測定を行うことを利用し、各元素について同位体の測定を行います。その測定結果をもとに同位体比をもとめ、評価することが可能です。...【特徴】 ●ICP-MSによる質量数ごとの測定 ICP-MSは質量数ごとの信号となって検出されます。鉛の場合であれば、質量数204、206、207、2...(つづきを見る

  • 添加物分析の受託サービス|JTL 製品画像

    GC-MSやLC-MSによって、高分子材料中の添加剤分析を実施します。

    樹脂などの高分子材料は様々な添加剤を配合し、機能性を付与しています。添加剤には酸化防止剤や滑剤、可塑剤などが挙げられます。 添加剤分析サービスではこれらを前処理によって抽出し、GC-MSやLC-MSを用いて分析を実施します。...【特徴】 ●GC-MSを用いた定性分析 ●樹脂の種類に応じた前処理 樹脂には様々な種類があり、有機溶媒に可溶な樹脂と不溶な樹脂では前処理方法が異なります。樹脂...(つづきを見る

  • アウトガス分析の受託サービス|JTL 製品画像

    GC-MS、GC-TCD、GC-BIDで製品から発生するガスの測定を実…

    製品の素材や周辺の材料から発生するガスが、製品の不具合を引き起こすことがあります。 アウトガス分析サービスでは、これらの発生ガスについて、有機ガス(揮発性有機化合物)をGC-MS、無機ガスをGC-TCDまたはGC-BIDで測定いたします。また、試料の状態や目的に従って分析項目や分析方法のご提案をいたします。 そのほか、ご指定の条件で発生するガスについて分析を行うことも可能です。...【特徴】 ...(つづきを見る

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