• ニッセン シールドバルブリベット 製品画像

    ニッセン シールドバルブリベット

    PR当社国内工場で生産!従来の密封型(シールド)形状に加えて、独自の座屈形…

    『シールドバルブリベット』は密封型(シールド)形状に加えて、独自設計の座屈形状により安定した接合強度を得る事ができる画期的なオールステンレスのブラインドリベットです。 【特長】 ◎密封型(シールド)形状により内部マンドレルの脱落なし ◎高い水密性(JIS C0920)IPX7に準じた試験で水漏れなし ◎独自の座屈形状により安定した接合強度を得る事ができます ◎材質はオールステンレス ...

    メーカー・取り扱い企業: ニッセンリベット株式会社

  • ハンディタイプ高精度デジタル温度計 Model: CTP1500 製品画像

    ハンディタイプ高精度デジタル温度計 Model: CTP1500

    PR小型軽量のハンディタイプ温度計。高精度±0.05℃。単三乾電池駆動。校…

    ◆製品概要 CTP1500はハンディタイプの温度計としてコンパクトながらも優れた精度を持ち、様々な用途や場所での測定が可能です。- 20 ... +180 °Cの範囲で±0.05 °Cの精度を達成しています。この高い精度により、バイオテクノロジーや医薬、食品業界など様々な産業における基準温度計としても活用することが可能です。 ◆製品特徴 CTP1500は小型軽量であるため、簡単に持ち運びをするこ...

    メーカー・取り扱い企業: ビカ・ジャパン株式会社

  • JIS C 60068-2-30 温湿度サイクル試験 製品画像

    JIS C 60068-2-30 温湿度サイクル試験

    弊社では、JIS C 60068-2-30 環境試験ー温湿度サイクル試…

    1.JIS C 60068-2-30 試験の概要: ・JIS C 60068-2-30 では「高湿度環境下で温度変化が繰り返されて、部品、機器またはその他の製品の表面に結露が生じるような条件で使用、輸送または保管する供試品に対する適性を判定するための試験方法です。 ・小形又は体積が小さい供試品の場合には,この試験手順では供試品の表面に結露しにくい場合があります。その場合,JIS C 60068...

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    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジネスロジスティクス(JBL)株式会社 藤沢北事業所

  • 非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D) 製品画像

    非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D)

    2次元像が標準的ですが、より視覚的・立体的に状態を捉えるために3次元化…

    非破壊解析技術である「C-SAM(2D~3D)」についてご紹介いたします。 超音波顕微鏡では、主にA-Scanデータを基にして、外観上では確認できない 内部領域の空隙やクラック等の有無を評価しています。 検出データを選択的に用いて画像化できるため、対象の界面情報のみを抽出 できる点がメリット。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • コンパクトCT機器『Phoenix V|tome|x C』 製品画像

    コンパクトCT機器『Phoenix V|tome|x C

    低コストで生産工程向け堅牢かつ省スペース設計!信頼性のコンパクトCT

    コンパクトCT機器『Phoenix V|tome|x C』は、生産工程管理向け320/450kV管球搭載コンパクトCT機器です。 3次元スキャニング範囲は最大 500mmØ x 1000mmで、欠陥の場所及びその数を正確に評価することが可能です。 低コスト保守メンテナンスで生産工程向けにサンプルの積み下ろし及び、バーコード・リーダー等の機能を搭載。同様に、自動化one-button|C...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ベーカーヒューズ株式会社&ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社  (旧)GEセンシング&インスペクション・テクノロジーズ株式会社 & GEエナジー・ジャパン株式会社

  • JIS C 60068-2-27 衝撃試験方法 製品画像

    JIS C 60068-2-27 衝撃試験方法

    ◤ 衝撃試験(正弦半波・台形波)◢ エラストマを装着して作用時間の長い…

    。 弊社保有のエラストマを装着することにより、以下の衝撃試験が可能です。 衝撃パルス:正弦半波(ハーフサイン)   ピーク加速度  作用時間 1.  150 G    6 msec 2.  100 G    6 msec 3.  100 G    11 msec 4.   50 G    11 msec 5.   50 G    18 msec 6....

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    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジネスロジスティクス(JBL)株式会社 藤沢北事業所

  • 受託不具合調査 製品画像

    受託不具合調査

    色々な角度から評価可能!多数の試験装置をそろえております

    当社の技術試験センターでは、「受託不具合調査」を行っております。 不具合品の外観調査等の初期調査結果からの"調査の方向性"、"想定しうる 故障モード"等をこれまでの知見から、お客様に合わせたアドバイスをご提供。 自社の試験装置を使い調査することで、現場・現場のサイズを見て原因究明 を行い不具合メカニズムを解明、またお客様に合った適切な再発防止策の ご提案・余寿命診断等も行います。...

    メーカー・取り扱い企業: 関西電力送配電株式会社 技術試験センター

  • 受託試験 製品画像

    受託試験

    企業や大学等、幅広いお客様を対象!様々な知見やノウハウが蓄積

    当社の技術試験センターでは、「受託試験」を承っております。 試験する資料をお預かりし、試験の実施と報告書の作成を実施。 また、装置貸出も行っており、お客様ご自身で試験装置を使用して いただけます。 技術試験センターには、用品の品質確認・性能試験・不具合調査で 培ってきた様々な知見やノウハウが蓄積されており、専門的な試験装置・ 解析装置・分析装置も揃っております。ぜひお役立てくだ...

    メーカー・取り扱い企業: 関西電力送配電株式会社 技術試験センター

  • [C-SAM]超音波顕微鏡法 製品画像

    C-SAM]超音波顕微鏡法

    C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です…

    C-SAMは、SAT:Scanning Acoustic Tomographyとも呼ばれます。 ・X線CTによる観察では確認が困難な「電極の接合状態」や「貼り合わせウエハの密着性」などの確認に有効。 ・反射波のほか、...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 数値解析(C.F.D.)の受託業務 製品画像

    数値解析(C.F.D.)の受託業務

    CADデータの修正、解適合解析等を実例に基づくアニメーションでの説明!

    当社では「温度分布(熱拡散)解析」をはじめ、「濃度分布(物質拡散)解析」 「ガス反応/流れ/燃焼解析」などの数値解析の受託業務をおこなっています。 解析・設計段階で、時間がかかる、費用がかかる、リスクがかかるという 問題をかかえている時、解析シュミレーションで事前に確認することが 出来ます。 費用、労力のコスト削減できればというご要望にお応えし、 お客様をアシストします。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社T&Dソリューション

  • 【分析事例】半導体パッケージのはんだ濡れ性試験_C0699 製品画像

    【分析事例】半導体パッケージのはんだ濡れ性試験_C0699

    劣化加速試験後の電極のはんだ濡れ性試験が可能です。

    半導体を多く使う電子機器では各部品をはんだ付けにより実装しています。このはんだ接合部に不良が生じると電子機器に不具合が生じます。その為はんだに関して濡れ性を評価することは部品の信頼性を評価するうえで重要です。今回は疑似的に試料を劣化させ、はんだの濡れ性がどうなるかを検証しました。恒温恒湿試験後、電極表面の濡れ性が変化することが分かりました。 測定法:恒温恒湿試験,はんだ濡れ性試験 製品分野:パ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • PFAS(有機フッ素化合物)分析 製品画像

    PFAS(有機フッ素化合物)分析

    「PFASの特徴と各国の規制について」 資料進呈中!

    「PFASの特徴と各国の規制について」まとめた小冊子を無料進呈中です! 新任者の方の社内教育として、今後の対応を考えるために規制の流れをつかむ資料として、有機フッ素化合物を知るための資料としてなど、ぜひお手に取ってご活用ください! PFHxS、PFOS、PFOA、C9-C14PFCAsやC9-C21PFCAs等のPFAS(有機フッ素化合物)に対する規制は国内外で広がりを見せています。 弊...

    メーカー・取り扱い企業: 内藤環境管理株式会社

  • 【分析事例】C60,GCIBを用いたアルカリ金属の深さ濃度分布 製品画像

    【分析事例】C60,GCIBを用いたアルカリ金属の深さ濃度分布

    SiO2膜の不純物の評価

    アルカリ金属であるLi,Na,Kは半導体における各種故障原因の要の元素です。これらは測定時に膜中を移動してしまう可動イオンと言われており、正確な分布を得ることが困難とされてきました。 今回、スパッタイオン源にC60(フラーレン)とGCIB(Arクラスター)を用いたTOF-SIMSの深さ方向分析を行うことにより、常温下の測定でもアルカリ金属の移動が抑えられることがわかりました。この測定を行うことで...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • Leitz PMM-C「高速・高精度三次元測定」 製品画像

    Leitz PMM-C「高速・高精度三次元測定」

    高速・超高精度!大型の部品や治具の測定が可能です。

    「高速・高精度三次元測定」では、門固定型テーブル移動方式による超高精度測定を行っています。 プロービング速度は、400mm/sec よる高速スキャニング。グラナイト製テーブルは常時浮上量のモニタリング機能を持つ三軸エアベアリング機構です。 大型の部品や治具の測定が可能。特殊金属・セラミックス・樹脂・ガラスなど、測定データから...

    メーカー・取り扱い企業: 三ッ引興業株式会社

  • 車両基礎特性測定装置(K&Cテスター) 受託試験 製品画像

    車両基礎特性測定装置(K&Cテスター) 受託試験

    サスペンション及びステアリング系のパラメータを台上測定受託試験。各種シ…

    オートマックスは、サスペンション及びステアリング系のパラメータを台上で測定する『車両基礎特性測定装置(K&Cテスター)』のメーカーであり、この度、本装置を弊社福島工場に新設し、受託試験サービスも開始いたしました。 シミュレーション精度は、モデルの精度に左右されます。 本装置は、その中でも重要なパラメータを測定することができる装置です。 【試験内容】 (1)目的・用途  ■サスペン...

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    メーカー・取り扱い企業: オートマックス株式会社 本社・工場

  • 形状記憶合金の変態温度測定 製品画像

    形状記憶合金の変態温度測定

    物質が温度変化にともない相変態を起こすとき、熱エネルギー変化が起こりま…

    形状記憶合金は、変形させても固有の温度以上にすると元の形状に戻る という特性を持つ合金であり、形状記憶性の発現は、 相変態(マルテンサイト変態)によるものです。 変態時の熱エネルギー変化をDSCにて捉える事で、3種類の形状記憶合金 製品の変態温度を測定し、元素分析によって組成との関係を調べました。 変形した針金をお湯に漬けると一瞬で元の形状に戻ります。 【DSCによる変態温...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【分析事例】天然物の構造解析 製品画像

    【分析事例】天然物の構造解析

    13C-13C INADEQUATE測定により、13C-13Cの相関を…

    13C-13C INADEQUATE測定は、13C-13Cの相関を直接観測する手法であり、 水素が結合していない炭素同士の繋がりを明らかにできる利点があります。 しかし、13Cの天然存在比が約1%であるため、13Cの隣に13Cが結合する確率は 約0.01%となり、多くの試料および長時間を要するといった弱点があります。 ここでは、クライオプローブ付き 700MHz NMRにより、天然...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社カネカテクノリサーチ                本社、東京営業所、名古屋営業所、大阪分析センター、高砂分析センター

  • トリビュート5Gドングル・無線ネットワークの評価解析サポート 製品画像

    トリビュート5Gドングル・無線ネットワークの評価解析サポート

    お客様のローカル5G環境の構築および検証、導入に貢献致します。

    5G通信対応のUSBドングルです。TELEC技適認証を取得済みで日本国内でご利用可能です。 【ドライバ】 Microsoft Windows 10、11 Mac 10.15以降 Ubuntu 14.04以降 Linux 3.13 以降 【インターフェース】 Type-C(USB 3.1 Gen1...

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    メーカー・取り扱い企業: 伯東株式会社 本社

  • 考古学・地球科学・地質学に中性子放射化分析サービス 製品画像

    考古学・地球科学・地質学に中性子放射化分析サービス

    中性子放射化分析は多元素を同時に正確に定量分析できます。 土壌・鉱物…

    s, Er, Eu, Fe, Ga, Ge, Gd, Hf, Hg, Ho, Ir, K, La, Lu, Mo, Nb, Nd, Os, Pd, Pr, Pt, Rb, Re, Ru, Sb, Sc, Se, Sm, Sn, Sr, Ta, Tb, Te, Th, Tm, U, W, Yb, Zn, Zr B) 短時間の照射で分析可能な元素: Al, Ca, Cl, Cu, Dy, I, I...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エナテック 東京本社

  • バレット洗浄システム 製品画像

    バレット洗浄システム

    発電所熱交換器のトータル管理!

    当社は熱交換器細管の洗浄において、米国で多大のシェアをもつコンコ・ サービス社との代理店契約を結び、熱交換器細管のハードな汚れの除去を 目的としてコンコシステムを導入しています。 クリーナの販売から洗浄工事、細管の汚れ測定までのトータル管理を行い 経費の節減にもご協力させていただきます。 【特長】 ■クリーナを細管に投入して、水圧で押し出すことにより、細管を洗浄 ■スクレイパ...

    メーカー・取り扱い企業: 姫路エコテック株式会社

  • 【検査機器の新規導入】 発光分光分析機(成分分析機) 製品画像

    【検査機器の新規導入】 発光分光分析機(成分分析機)

    最短半日見積り/成分分析機を使用し、鋼材の確認や保証を致します。

    ただいております。 ・生産現場での異材混入がないか確認する ・製品出荷前や材料受入時に材料が仕様と合致するか確認、保証する ・溶接部分の確認(溶接材に使われている材質が正しいか確認)をする etc... 測定可能元素 炭素(C)、窒素(N)、チタン(Ti)、リン(P) 、ニッケル(Ni)、硫黄(S)、ホウ酸(B)、銅(Cu) コバルト(Co)、アルミニウム(Al)、マグネシウム(Mg)、錫...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社 エージェンシーアシスト 京都本社 営業所(仙台・東京・埼玉・神奈川・浜松・愛知・岐阜・新潟・福井・奈良・兵庫・岡山・福岡)

  • 【分析事例】化学修飾XPSによる水酸基の定量 製品画像

    【分析事例】化学修飾XPSによる水酸基の定量

    高分子フィルムの水酸基評価

    高分子フィルムの接着性や濡れ性といった特性を制御するにあたって、表面に存在する極性官能基(アルコール基)を定量的に評価することは非常に重要です。XPSは定量的な評価に最適ですが、ピーク位置が隣接している酸化状態(C-O-C)と水酸化状態(C-OH)を切り分けて定量することが困難です。 MSTではポリビニルアルコール(PVA)について化学修飾法を用いてアルコール基のみを選択的に反応させた後に、XP...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ESD(HBM・MM)試験受託サービス 製品画像

    ESD(HBM・MM)試験受託サービス

    DUTボード作製から試験まで!ご要望や目的に応じた試験をご提案、実施致…

    『ESD(HBM・MM)試験サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なHuman Body ModelとMachine Modelの ESDによる破壊に対する耐性を評価します。 512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応。 ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【分析事例】ウエットエッチングによる有機付着物除去 製品画像

    【分析事例】ウエットエッチングによる有機付着物除去

    表面汚染を除去してXPSによる評価を行います

    XPSは表面敏感な手法のため、大気等による有機付着物由来のCが主成分レベルで検出されます。こういった有機付着物由来のCの影響を減らすことは、膜本来の組成を評価する上で重要です。 通常、有機付着物の除去にはArイオンスパッタを用いますが、スパッタによるダメージにより膜本来の組成,結合状態が評価できない場合があります。Arイオンスパッタを使用せず、表面酸化層をウェットエッチングを用いて除去することで...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価 製品画像

    【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価

    高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能

    たイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶 Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが 知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出されること を利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量評価した事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XRD・EBSDによるGaN結晶成長の評価 製品画像

    【分析事例】XRD・EBSDによるGaN結晶成長の評価

    断面マッピングにより、GaNの結晶成長の様子を評価可能

    圧といった特性のため、LEDやパワーデバイスなどの材料として用いられます。それら製品の製造工程では、デバイス特性に影響を与える結晶欠陥の無い、高品質なGaN結晶の作製が求められます。 本資料では、c面上に形成したGaN基板(c-GaN基板)上に、c-GaN結晶を高速気相成長させたサンプルの結晶状態を評価した事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 防水試験 製品画像

    防水試験

    国内最大級の試験設備!広範囲な規格試験や特殊条件にも対応可能

    当社では、水が存在する環境下での機器・部品の防水性能を 調査する防水試験を行っております。 IPコードに定められた防水試験の他に、お客様の社内規格に 対応した試験など、幅広い防水試験に対応。 その中でも大型機器や装置に対する防水試験を得意にしており、 高さ4mを超える屋外設置用筐体や、4m×4m×3mH程度の 電気設備の防水試験の実績もあります。 【特長】 ■温水による...

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    メーカー・取り扱い企業: 川重テクノロジー株式会社

  • NMR分析サービス 製品画像

    NMR分析サービス

    NMRで有機物から無機物まで、組成や分子構造を幅広く分析! 検討から…

    【分析事例】 ・電池/半導体:電解液の溶液 NMR や大気非曝露での多核・固体 NMR 測定 ・樹脂/ポリマー:樹脂成分やポリマーの組成・劣化解析が可能 ・食品/環境:食品・サプリメント中の成分の定量や劣化状態の分析 ・医薬/バイオ:薬物と受容体の相互作用の有無や強弱の測定が可能...○感度良く分析できます! ・共鳴周波数600MHz (1H) での高感度測定により、不純物レベルでの分析...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 交流磁界測定器特性評価(校正)試験 製品画像

    交流磁界測定器特性評価(校正)試験

    お手持ちの磁界測定器の定期的な特性の評価(校正)試験をお勧め!

    当社では、人体への暴露に関する低周波磁界および電界の測定法に関する 国内規格JIS C 1910(2004)に準拠した装置ならびに手法を用いて、 交流磁界測定器の特性評価(校正)試験を行っています。 商用周波数における磁界測定器の指示値の精度を確認するために、磁界発生装置の 磁界強度を変化させて、測定器の直線性(測定指示値の偏差)を評価。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談くださ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社電力テクノシステムズ

  • [SCM][SNDM] 製品画像

    [SCM][SNDM]

    キャリア分布を二次元的に可視化

    SCM/SNDMは、導電性の探針を用いて半導体表面を走査し、キャリア分布を二次元的に可視化する手 法です。 ・SCM:1015~1020cm-3, SNDM:1014~1020cm-3程度のキャリア濃度に感度がある ・半導体の極性(p型/n型)の識別が可能 ・キャリア濃度に相関した信号が得られるが、定量評価は不可 ・AFM像の取...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 受託測定サービス 軟磁性材の素材やモータなどの磁気特性 製品画像

    受託測定サービス 軟磁性材の素材やモータなどの磁気特性

    磁気測定に必要な磁束密度波形制御装置、バイポーラ電源を準備!短期間に測…

    電磁鋼板をはじめ電磁鋼板を使用したモータや変圧器の磁気特性を測定するのは 設備とノウハウが必要です。 ブライテックでは電磁鋼板単体の磁気特性測定からモータコアの 局所磁気特性測定技術を提供。 また、標準測定器が使用できない場合はベースとなる測定技術を応用した 磁気特性方法をご提案いたします。 【サービス一覧】 ■応力負荷型単板磁気試験器:軟磁性材料の応力下の磁気特性を測定...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ブライテック 本社/大分生産本部

  • [FIB]集束イオンビーム加工 製品画像

    [FIB]集束イオンビーム加工

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

    M・TEM像観察用試料作製(特定箇所の断面出しが可能) ・微細パターン(数μm~数十μm)のデポジション薄膜形成が可能(C・W・Ptの成膜) ・高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM(Scanning Ion Microscope)像観察が可能 ・SIM像で金属結晶粒(Al, Cu等)の観察が可能...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 故障劣化予知診断 高調波を使用して電気設備の不具合箇所を特定! 製品画像

    故障劣化予知診断 高調波を使用して電気設備の不具合箇所を特定!

    2次から40次までの高調波を使用して診断! モーター、機械、インバータ…

    日本メカトロン株式会社は、計測、制御システムの開発を手がけ、 お客様に満足いただけるシステムをご提案させていただきます。 弊社の『故障劣化予知診断』は、高調波診断で行う予知保全システムです。 10年以上3万台以上の設備を測定 → 分解して検証した件を 設備機器の劣化箇所・劣化度合と強調は成分に高い相関関係を見出しました。 高調波診断(KS-2000)により、モーター、機械、インバ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本メカトロン株式会社 大阪事業所

  • 製造工程におけるアレルゲン管理の検証(イムノクロマト法) 製品画像

    製造工程におけるアレルゲン管理の検証(イムノクロマト法)

    拭き取り検査によるアレルゲンマップは見えないパーテーションとなり、製造…

    「HACCPに基づいた衛生管理」では、「検証方法の設定」「文書化及び記録の保持」が含まれています。また、FSSC22000(カテゴリー:C.I.K)、JFS-B(セクター:E/L)、JFS-C(セクター:E)などの認証規格では、アレルゲン管理計画の策定と実施が要求されています。最終製品でのスクリーニング検査(ELISA法)に加えて、製造工程のモニタリング検査(イムノクロマト法)を併用することで、ア...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ハウス食品分析テクノサービス 千葉本社・大阪オフィス・関西事業所

  • 防じん試験 製品画像

    防じん試験

    国内有数の大型試験設備!各種粉体に対応可能、試験中の各種測定や稼働状態…

    防じん試験とは、実環境を模擬する、またはそれ以上の粉じん環境に 試験対象を暴露させて、その防じん性能または耐じん性能を 確認するための試験です。 当試験は、多種多様な試験体が対象となります。代表的なものとしては、 電気機器の外郭(配電盤やキュービクル)、自動車用部品(バッテリーや モーター)、鉄道車両用部品(インバーターや制御ボックス)等があり、 カテゴリーごとに国内外で、規格が定...

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    メーカー・取り扱い企業: 川重テクノロジー株式会社

  • 【分析事例】薄いカーボン膜の深さ方向分析 製品画像

    【分析事例】薄いカーボン膜の深さ方向分析

    ダイヤモンドライクカーボン(DLC)やグラフェンの深さ方向分析が可能

    TOF-SIMSは深さ方向に質量スペクトルの取得が可能であるため、各層の定性を行うことで非常に薄い層の成分の解析が可能です。 本事例では、ハードディスクを深さ方向に分析を行いました。その結果、表面に形成されるダイヤモンドライクカーボン(DLC)層は2層構造となっており、表面側では窒素が含まれるC層、奥側でCのみの層となっていることが分かりました。この方法を応用して、グラフェン膜の深さ方向分析も可...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池内ガスの評価 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池内ガスの評価

    電池内ガス成分の定性・定量

    リチウムイオン二次電池の電解液は、充放電の繰り返し等で分解しガス化することが知られています。 GC-TCDやGC/MSを使用することで、分解したガス成分を高感度に検出することができます。 GC-TCDでは8成分(H2, O2, N2, CO, CH4, CO2, C2H4, C2H6)の組成比、GC/MSでは様々な分解物などを定性分析可能です。ラミネート型だけでなく、コイン型、角型のセル、さら...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】LASのアルキル鎖長分布調査 製品画像

    【分析事例】LASのアルキル鎖長分布調査

    粉洗剤・液体洗剤、家庭用排水等のLAS分析が可能です

    直鎖アルキルベンゼンスルホン酸およびその塩(LAS)は、生物への影響が懸念される物質とされることから、水質汚濁に係る生活環境の保全に関する環境基準のうち、水生生物の保全に係る環境基準の項目に追加され、基準値が制定されました(平成25年3月27日)。LASの使用用途の約9割が家庭用洗剤とされていることから、既成の家庭用洗剤と家庭用排水の測定を行い、LASアルキル鎖長(C10~C14)分布の比較を行い...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】半導体基板中軽元素の高感度分析 製品画像

    【分析事例】半導体基板中軽元素の高感度分析

    SIMS分析によりH, C, N, O, Fなどを1ppm以下まで評価…

    他手法では評価が難しい半導体基板中のH,C,N,Oを1ppm(約5E16atoms/cm3)以下まで、Fを1ppb(約5E13atoms/cm3)以下の濃度まで検出可能です。実際のFZ-Si中における測定例(図1)とIII-V族半導体のバックグラウンドレベルを紹介します(表2)。II...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価 製品画像

    【分析事例】SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価

    コンタクト電極/SiC層の界面の相同定・元素分布評価

    市販のSiCパワーMOS FET素子の解析事例をご紹介します。 SiC材料では、SiだけでなくCを含めた系での材料制御が必須となり、従来のSi半導体の製造方法と違いがあります。コンタクト電極とSiC層のオーミック接合形成プロセスにおいて、TEMを用いたEDX/EELS分析および電子回折から、Cを含めた元素分布や結晶相を評価しました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析 製品画像

    技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 CNFを扱う研究開発のうち、ほぼすべての材料分野、研究フェーズで電子顕微鏡を用いた観察は必要な評価となっている。特にポリマー中に分散するCNFをTEM観察するためには、これまで高分子材料のTEM試料作製を実施する上で不可欠であった「電子染色」の技法を駆使する必要がある。今回、CNFを用いた複合材料の形態観察事例を紹介すると共に、CNF自体の観察事例、構造解析例として13C核 固体NMR...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 201908-01 硫黄架橋分解法を利用した加硫ゴム 製品画像

    技術情報誌 201908-01 硫黄架橋分解法を利用した加硫ゴム

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 加硫ゴム(天然ゴム:NR、スチレンブタジエンゴム:SBRなど)は溶媒に不溶であるがゆえに、これまで充分な化学分析は困難だった。そこで、溶媒不溶の原因である硫黄架橋結合を切断し、ゴム成分を可溶化させる技術を導入することで、これまで無理だった高分子量物質の構造解析や物性測定に必要不可欠な溶液NMRやGPCが適用できるようになり、従来法と組み合わせて、より詳細な分析評価が可能となった。本稿で...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • シムナイフ 製品画像

    シムナイフ

    唯一の国産ウルトラミクロトーム用のダイヤモンドナイフです。

    住友電工様から事業移管を受け「スミナイフ」から「シムナイフ」へと 名称は変わりましたが、品質や厳密な出荷検査を受け継ぎ、国内唯一のメーカーとして製造しています。 従来品の再研磨・交換販売は行っておりませんが、その分価格を抑え、 お求めやすい価格帯と高品質を特徴としております。 従来のシリーズに加え、交換販売可能な宝石用グレードのダイヤモンドを使用したNグレードも販売を開始致しました...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社シンテック

  • 電子プローブマイクロアナライザ分析 製品画像

    電子プローブマイクロアナライザ分析

    電子プローブマイクロアナライザ分析

    金属材料、鉱物および各種材料の表面観察、成分分析および 元素分布を測定するのに有効な電子プローブマイクロアナライザ分析 【特徴】 ○分析対象:金属、鉱物、汎用電子部品、ガラス等 ○試料大きさ:実質 60×60×厚さ15(mm) まで。分析試料調整も適宜実施 ○分析種類:組成像、定性・定量分析、面分析 (マッピング)、線分析等 ○分析倍率: 1〜100,000倍 ○EDS(エネルギ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社IHI検査計測

  • 三次元測定機による 受託測定/計測サービス 製品画像

    三次元測定機による 受託測定/計測サービス

    一年を通じて20℃±0.5℃に保たれた定温室で、繰返し精度±0.3um…

    ■浅沼技研では、三次元測定機をはじめとした各種測定機器による受託測定/計測サービスを行なっています ■当社の測定室は一年を通じて20°C±0.5°Cに保たれた定温環境。 ■この精密な測定環境とスタッフによる測定技術が、お客様の製品開発・測定をサポートいたします。...|三次元測定 大型重量部品(550kg以下)の測定や夜間無人での自動測定にも対応 |ならい測定 測定子を製品の表面に接触さ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社浅沼技研

  • 解析コンサルティングサービス 製品画像

    解析コンサルティングサービス

    貴社業務推進を解析技術でご支援します

    容】  現物確認およびヒアリングを通じた解析コンサルティング。  解析技術を活用した、原因調査から改善提案までトータルサポート。 【保有ソフトウェア】  解析ソフトウェア MSC.Marc、AutoPIPE、STAAD.Pro、Ansys.Fluent  プリポスト NX、FEMAP、 MSC.Mentat 【担当エンジニア】  エンジニアA:計算力学技術者(固体1級、熱...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 【分析事例】XPSによるDLCの評価 製品画像

    【分析事例】XPSによるDLCの評価

    C1s波形解析を使用したsp2/(sp2+sp3)比の評価

    高硬度・高耐摩耗性等の特長から、幅広い分野で活用されてるDLC(ダイヤモンドライクカーボン)膜は、グラファイトとダイヤモンドの中間に位置した材料であり、膜中のsp2(グラファイト構造)とsp3(ダイヤモンド構造)を分離して求められるsp2/(sp2+sp3)比は、膜の特性を決定する重要な要因の一つとなります。 このsp2/(sp2+sp3)比について、XPSのC1sスペクトルを波形解析することで...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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