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36件 - メーカー・取り扱い企業
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PR組み込みシステム向けのメモリICにの基礎知識に関する情報を約70ページ…
ウィンボンド・エレクトロニクスは、 台湾に本社を構えるメモリメーカーです。 ただいま、当社技術者が監修した、約70ページにわたる メモリICに関するホワイトペーパーを配布しています。 【掲載概要】 第1部 メモリの基礎知識 「用途や種類…メモリICの世界へようこそ」 第2部 DRAM 「基礎知識」、「外部インターフェース」、「DDR-SDRAMの種類」、 「低消費電...
メーカー・取り扱い企業: ウィンボンド・エレクトロニクス(Winbond Electronics Corp. Japan) 株式会社
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『顔認証なりすまし防止ソリューション』【製造業での活用事例集】
PRデータベース不要の顔認証システムで不正の機会防止に貢献!製造業における…
『顔認証なりすまし防止ソリューション』はデータベース・ネットワーク不要の顔認証システムです。 QRコードやICカードとスマートデバイス1台から導入でき、顔認証サーバが必要な一般的な顔認証と比べ、 導入コストを抑えることができます。また、セキュリティ強化だけでなく、不正防止や効率化に貢献します。 【特徴】 ■顔情報を利用者本人が所持する媒体に格納するため、システム側での管理が不要 ■所有物認証(Q...
メーカー・取り扱い企業: NECソリューションイノベータ株式会社
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ハロゲン(F、Cl、Br)、硫黄の分析が可能です
燃焼-イオンクロマトグラフ(IC)法では、プラスチックや樹脂等の固体材料や、有機溶媒等の液体材料に含有するハロゲン(F、Cl、Br)や硫黄の含有量を調査することが可能です。 図1に示す通り、サンプルを燃焼炉で燃焼分解させることにより発生したガスを吸収液に捕集します。この吸収液をイオンクロマトグラフ法で測定することで、水に溶けない固体サンプル中のハロゲンや硫黄含有量を測定することが出来ます。......
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です
イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です。 ・イオン成分の定性分析、定量分析が可能 ・少量の試料(数mL)にて分析可能...イオンクロマトグフ法(IC法)は液体クロマトグラフ法(表1)の1種に分類され、液体試料中のイオン成分を検出する手法です。 溶離液と呼ばれる移動相に液体試料を導入し、試料中のイオン成分を固定相である分離カラム内で分離させます。イオンクロマト...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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IC(イオンクロマトグラフ)法でアミン類の測定が可能です
水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)は、半導体の現像液やエッチング液として用いられています。 Siのエッチング液に用いたTMAH溶液の濃度を測定する場合、溶液中に多量に溶解したSiが夾雑物となり、測定結果に影響を与える場合がありますが、IC(イオンクロマトグラフ)法による評価ではSiの影響を受けることなく、TMAH濃度の定量分析が可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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最大8インチMEMSラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試…
こののたび当社では、MEMS加工サービス/MEMS ファウンドリサービスを開始いたしました。国内最大規模の8インチMEMSラインを有するオムロン 野洲事業所(滋賀県野洲市)にてウェハ工程の試作から量産までお客様の様々なご要望にお応えいたします。 URL:https://www.ites.co.jp/wafer/foundry.html ■特徴 ・お客様設計仕様に基づく試作 ・製品設...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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溶液中の有機酸の定性・定量分析が可能です
クエン酸やリンゴ酸などの有機酸は半導体分野においてエッチング液やメッキ液の添加剤として、また食品中の酸味剤・乳化安定剤として、化学工業・医薬・食品などの分野で幅広く利用されています。 特にメッキ液中の有機酸濃度は、使用の過程でバランスが随時変化し、このバランスがメッキの品質に影響を与えることから、精度よく制御することが重要です。 ここではIC法(イオンクロマトグラフィー)を用いた有機酸分析の事...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TOC計は、試料中の全炭素量 、全有機体炭素量、無機体炭素量(IC:を…
TOC計は、試料中の全炭素量(TC:Total Carbon) 、全有機体炭素量(TOC:Total Organic Carbon)、無機体炭素量(IC:Inorganic Carbon)を評価することができる装置です。 ・有機成分含有量を全有機炭素量(TOC)として評価可能 ・液体試料と固体試料の測定が...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【DL可】FIBによる微小対象物(ICコンタクト部)の断面作製
FIBで微小対象物(例えばICコンタクト部)の任意箇所、ここという場所…
弊社保有のFIBFIB(Focused Ion Beam:集束イオンビーム)装置では、0.1μm程度の対象物であれば、狙って断面を作製することが可能です。 この技術を用いて、正確な位置でのTEM観察用薄片試料の作製が行えます。 この事例では 「FIB装置によるICコンタクト部の断面作成・断面観察」 を紹介しています。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社はFIB...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【事例】リニアホールICを用いた磁場の強さ(Oe)検出精度向上
静磁場環境の前提下において、磁気シールドプレートのシールド効果検証に活…
磁場(磁界)の強さ(Oe)に対するシールドプレートの効果検証過程で、リニアホールICを使った検討を実施。 1(Oe)以下での変動状況を捉える必要がありましたが、市場にあるセンサでは単体性能が出ないため、計測側のソフトウエア 処理と高精度計測 モジュールの組み合わせにより、高精度検出環境を実現。 静磁場環境の前提下において、実測とシミュレーションによる磁気シールドプレートのシールド効果検...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社Wave Technology
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PICWave (Photonic IC/Laser /SOA)
PICWave は、アクティブデバイスを含む(半導体レーザ・SOA)光…
PICWave is a photonic integrated circuit (PIC) design tool which brings together: an advanced laser diode and SOA model...
メーカー・取り扱い企業: CTflo株式会社
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ダメージを抑えたパッケージ開封方法の開発により、ボンディング形状の観察…
Agワイヤ使用ICの樹脂除去においては、ワイヤの薬品ダメージが 大きいことが問題となります。 当社では、飽和法の原理を用い、ダメージを抑えたパッケージ 開封方法の開発により、ボンディング形状の観察を可能といたしました。 下記カタログでは、樹脂除去後のワイヤー状態を写真で掲載していますので、 ぜひ、ダウンロードしてご覧ください。 【特長】 ■ワイヤ表面の観察、ボンディング状...
メーカー・取り扱い企業: ユーロフィンFQL株式会社
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ICを用いて、無機イオンの測定を行い、腐食の原因調査や不具合解析をしま…
アニオン分析サービスでは、IC(イオンクロマトグラフ)を用いてF⁻、Cl⁻、Br⁻、I⁻といったハロゲンに加えてNO₂⁻、NO₃⁻、SO₄²⁻、PO₄³⁻といった無機イオンを測定します。これらの無機陰イオンは腐食の原因となり得るため、得られた結果を不具合解析に用いることが可能です。...【特徴】 ●サプレッサー方式IC サプレッサー方式ICにより、溶離液のバックグラウンドを低下させ、液中濃度で...
メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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IC、またはICPでハロゲン測定を実施します。
ハロゲン分析サービスでは、F⁻、Cl⁻、Br⁻、I⁻のハロゲン4項目をICまたはICPを用いて分析いたします。 ハロゲンは腐食に影響するため、不具合の原因となることがあります。また、樹脂製品のハロゲンフリー化が進んでいることからもハロゲンを含まない製品の証明としてハロゲン分析が利用されます。...【特徴】 ●サプレッサー方式IC サプレッサー方式ICにより、溶離液のバックグラウンドを低下させ...
メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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特定の条件下で溶出する元素、イオン、化合物などの測定を実施します。
溶出試験サービスでは、製品から溶出する不純物として、元素、イオン、有機化合物を測定します。樹脂などの製品に対し、ご指定頂いた条件やご要望に応じた条件で溶出試験を行った後、試験液中の各項目の測定を行います。測定項目に応じてICP、IC、GC-MSといった装置を使用して分析を行います。...【特徴】 ●サプレッサー方式IC 溶出イオンに対して、サプレッサー方式ICで測定するため、溶離液のバックグラ...
メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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液体試料中の陽イオン成分の分析が可能です
日常の様々な場所で電子機器が使われるようになり、製品の信頼性確保が重要となっています。 プリント基板は高温・高湿度の環境で、配線に用いられているCuがマイグレーションを起こして不良となることが考えられるため、マイグレーションを助長する成分を評価することが重要です。 本事例ではイオンクロマトグラフィー(IC)を用いて、プリント基板から溶出した陽イオン成分の定量分析を行った事例を紹介します。このよ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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LC/MS・ICによる劣化溶出成分の評価
固体高分子形燃料電池(PEFC) は常温で高出力のため車載用、家庭用コージェネレーション、モバイル用として注目されています。 今回は固体高分子電解質膜をフェントン試薬(過酸化水素水+鉄イオン共存溶液)により模擬的に劣化させて溶液中の劣化分解物の調査を行いました。LC/MSにより劣化分解物の組成情報を、ICにより溶出イオンの情報を得ることができます...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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固体中の有機体・無機体炭素量を評価することが可能です
全有機体炭素測定計(TOC計)は、試料中の全炭素(TC:Total Carbon) 、無機体炭素(IC:InorganicCarbon)をそれぞれ分けて定量することが可能です。サンプルは水溶液にすることなく固体のまま測定することができます。 本資料では市販の膨張剤、塩に含まれるTOC、TC、IC評価事例を紹介します。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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ICPおよびICによって陽イオン・陰イオンを測定し、清浄度を評価します…
清浄度分析サービスでは、ICPで陽イオン、ICで陰イオンを測定し、定性または定量分析を行います。その結果を基板などの製品の清浄度、洗浄工程の効果確認として評価いたします。IPC-TM-650を参考に、基板以外の製品に対しても同様の方法で清浄度の評価が可能です。...【特徴】 ●高感度に測定 ICP-MSでは低バッググラウンドでの測定を行うことが出来るため、液中濃度でμg/L(ppb)レベルの測...
メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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【資料DL可:FIB】FIB装置によるSi基板へのパターン描画
FIB装置でシリコン基板上に高精度のパターン形成を行えます。マスクレス…
FIB(Focused Ion Beam:集束イオンビーム)装置ではマスクレスで任意形状のパターン描画(パターン形成)を行うことが可能です。 ・エッチングによるパターン描画では、1ドットあたり0.1μm程度の大きさで描画が可能です。(加工を行う材質、加工条件により最小サイズは変わります) ・ マスクレスでイオン注入を行うことが可能です。 ・ デポジションによるパターン描画も可能です。 ...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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<資料DL可>【FIB-SEM】めっき層内の異常個所発見方法
FIB-SEM装置で表面からは分かりづらいめっき層内の異常個所を観察で…
FIB(Focused Ion Beam:集束イオンビーム)装置では自動で断面を連続で作製し、断面写真を取得することが可能です。この機能を用いて、表面からでは判別が難しい試料内部に存在する異常個所を特定することが可能です。 この事例では 「FIB装置の連続自動断面作製機能を用いて、めっき層内の表面からでは分からない異常個所の発見方法」 を紹介します。 詳しくはPDF資料をご覧いただ...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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FIB装置によりSi基板上に”マスクレス”でナノレベルの加工を狙った位…
FIB(Focused Ion Beam:集束イオンビーム)装置のエッチング加工でマスクレスで任意形状作成できます。 この事例ではでは以下サイズで50nmステップ毎のピラー作製を紹介しています。 ・円形:φ5μm ・ピラーの高さ:700nm/650nm/600nm ・ピラーの径:φ500 nm ぜひPDF資料をご一読ください。 また弊社はFIBによるICおよびLSIの回路修...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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超音波探傷は微小な隙間や内部の状態を観察するのに有効!良品解析事例のご…
超音波探傷装置でIC内部の剥離を見ることは知られていますが、 複数材料で構成された物の状態確認にも適しています。 その為、IC以外の製品でも剥離状態を確認する事ができ、今まで エックス線では透過してしまい観察できないものでも観察できる 場合があります。 下記カタログでは、写真を用いて解析事例をご紹介しています。 ぜひ、ダウンロードしてご覧ください。 断面観察、成分分析等の...
メーカー・取り扱い企業: ユーロフィンFQL株式会社
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ワイヤーボンディング部の接合面を平面から観察!数値による評価が可能とな…
IC等におけるワイヤーボンディング部の接合状態を正しく評価するためには、 接合面での金属間化合物の生成状態を観察する必要があります。 金属間化合物の面積が大きければ、接合面がそれだけ広い事になり、 ボンディングOKと評価できます。 一般的な断面観察では、金属間化合物の生成状態をある1点でしか確認できず、 評価の裏付けとしては弱さの残るものでした。 クオルテックでは、ボンディ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック
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樹脂材料を分析し、製品性能に与える特性を評価することが可能!
株式会社アイテスでは、樹脂材料(半導体 LED用途)の分析を行っております。 MOSFET、ICといった半導体製品、LEDパッケージには、エポキシ樹脂や シリコーン樹脂といった 樹脂材料が多く使用されています。 これらの特性は製品の性能に大きく寄与します。当社ではこれらの 樹脂材料を分析し、製品性能に与える特性を評価することが可能です。 【分析・評価方法】 ■DSC ■T...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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パネル構造解析、EMC対策等パネルモジュールの品質、分析などをトータル…
当社では、ディスプレイ製品のトータル・クオリティ・ソリューションを ご提供しております。 信頼性評価のための駆動回路、パネル特性の評価回路を設計し、 海外から調達したパネルの品質不良を解析・分析。 また、パネルモジュールからディスプレイ全般にわたって EMCコンサルティングを行なっております。 【サービス内容】 ■ディスプレイ製品の不良解析、構造解析、信頼性試験 ■EM...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック
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IC:イオンクロマトグラフィー
イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です。 また、固体(部材)表目に付着しているこれらの成分は、純水に浸して抽出することで測定します。 MSTでは液体試料に含まれるイオンや有機酸の定性・定量分析、部材表面から溶出するイオン量評価、部材の腐食原因調査が可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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安定操業への貢献のために!様々な水を貯留層評価や操業トラブルの解決に役…
ネルギー源の探索に役立てる ■資源の開発が環境に与える影響を評価する ※詳しくは弊社ホームページ/技術サービス(https://www.japex.co.jp/technology/service.html)またはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 石油資源開発株式会社
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金属の錆分析や樹脂やゴムの劣化分析により、お客様の問題解決をサポートし…
腐食とは材料が周囲の環境との間に化学反応を起こし、変質、消耗、破壊されて本来の機能を失う現象です。 JTLでは、所有する機器分析装置を組み合わせることで、様々な金属の錆分析や樹脂やゴムの劣化分析を実施します。...【特徴】 ●金属腐食分析 金属錆発生の必要条件は水と酸素です。 またハロゲンや硫化物は表面酸化膜を破壊し錆を促進させる因子です。 SEM-EDX、ED-XRF、EPMAによりこ...
メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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【イオンミリング(CP)/クライオ】分析と観察の前処理事例集
断面加工や分析および観察の前処理などイオンミリング加工、クライオ加工の…
当事例集では、分析と観察に関する『前処理』における事例についてご紹介します。 「イオンミリング法(CP加工)の紹介」、「イオンミリングによる微小部断面加工」、「イオン液体を用いたSEM観察前処理」など目的、手法、試料と結果を含めた分析および観察の前処理事例を多数掲載。 他にも、各種材料の断面解析や、試料概要、断面観察結果などご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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リポソームの構造解析や皮膚ラメラ構造解析など!30nmから5μmの切片…
当資料は、株式会社花市電子顕微鏡技術研究所が行った解析事例を 掲載しています。 「ウルトラミクロトーム」では、30nmから5μmの切片作製が可能。 生物組織、金属メッキ層や無機蒸着層を含む複合材料、ナノ粒子など 幅広い分野における高品質な超薄切片および断面作製に適応できます。 多数分析をお取り扱いしております。詳細はお問合せ下さい。 【掲載事例】 ■リポソームの構造解析 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所
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非破壊で行う部品内部の異常発熱個所の特定には、ロックイン発熱解析装置が…
ボードや部品の故障解析では、下記のように異常個所の特定が難しい ことがあります。 ・プリント基板含め多数の部品が搭載されており、異常現象に関連する 部品が複数ある ・ある部品にショートがあるとわかってはいるが、部品の内部なのか、 半田接続部など外部なのか不明 このように非破壊にて難しい位置特定が求められた際、発熱に注目し 良品と比較する方法が有効であり、赤外線に感度を持...
メーカー・取り扱い企業: ユーロフィンFQL株式会社
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【資料】しるとくレポNo.24#BGAパッケージの評価と解析方法
基板上に電極を設け上にはんだボールを形成し、パッケージ側の電極と接合さ…
★★しるとくレポ 知って得するお役立ち情報★★ 当レポートでは、『BGAパッケージ』の解析手法について、お話をしましょう。 「BGA」というのは、“Ball Grid Array”の略で、集積回路(IC)の パッケージの一種。 簡単に言えば、基板上に電極(ランド)を設け、この上にはんだボールを 形成してパッケージ側の電極と接合させる構造の表面実装パッケージです。 詳細につい...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社Wave Technology
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プロジェクトを成功へ導く 半導体評価集団です。
私たちは、今まで様々な分野の半導体製品を評価・解析してきました。 その経験とノウハウをぜひお客様の会社でお役立てください。...【特徴】 ○ICパッケージ開封処理。 ○内部解析。 ○電気特性解析。 ○信頼性試験受託(提携先豊富)。 ●詳しくはお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社日出ハイテック
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ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて解析した事例を紹介…
当資料では、ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて、 機械研磨にて断面を作製し、SEM観察及びEBSD解析した事例を 紹介しています。 ICパッケージの表面SEM像をはじめ、断面SEM像などを掲載しています。 EBSD法により測定された結晶粒と結晶粒界が一致していることがわかります。 ぜひご一読ください。 【掲載事例】 ■観察/断面作製 ■EBSDによる解...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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レイアウト上の搭載位置などを確認可能!コスト調査を目的とした部品表のみ…
当社のPCB基板・FPC基板解析サービスでは、基板から取り外した部品について調査し、 品種や素子定数の特定を行います。 部品番号は、「回路図」や「搭載部品位置」と共通の番号なので、部品の仕様、回路での 使われ方、レイアウト上の搭載位置が確認可能。 当社独自のデータベースにより、大半のICは機能を特定できますが、ASICのような特殊な ICについては特定できないことがあります。この...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社エルテック
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TOF-SIMS分析による成分の推定が可能
エポキシ樹脂は、優れた機械特性・耐薬品性・電気絶縁性を有することから、プリント基板やIC封止材など電子部品用途として、広く使用されています。エポキシ樹脂の原材料に一般的に用いられるビスフェノール類の試薬について、TOF-SIMSで測定したデータを取得しました。 MSTではサンプルの測定データと標準データとを比較することで、検出されたフラグメントイオンが何の成分由来かを調べることができ、エポキシ樹...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【FE-SEM/EBSDなど】断面観察や構造解析に関する事例集2
微小部断面加工と分析、残留応力測定などイオンミリング、FE-SEM、E…
当事例集では、『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。 「EBSDを用いたアルミスパッタ膜の評価」の分析事例をはじめ、 「イオンミリングによる微小部断面加工」の目的や手法、試料と結果、 「はんだ断面の残留応力測定」の目的や手法、結果など多数掲載。 他にも、配向評価や断面観察結果、測定などご紹介しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■EBSD...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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