偏光ビームスプリッター ワイヤグリッドタイプ・キューブ型

PRカスタマイズ可能なワイヤグリッド偏光ビームスプリッター、入射角依存の少…

WGF(TM)を使用した、ワイヤグリッド偏光ビームスプリッターキューブタイプ（WGF(TM) PBS)です。 すでにハーフミラーをお使いの場合、WGF(TM) PBSに替えることで輝度向上が期待できます。 縮小系でも色や偏光度が部分的に変わることはなく、画像検査の精度を向上させます。 入射角依存が少なく、安定した光学性能を維持します。 ※WGF(TM)は旭化成の製品です。...規格品　WP...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社オプティカルソリューションズ

レンズ用表面形状測定機 MarSurf LD Aspheric

PR非球面レンズの両面を一度に測定できる表面形状測定機。高精度＆高速測定で…

特許取得の独自構造によりレンズの表・裏を一度に測定出来る 表面形状測定機『MarSurf LD 130/260 Aspheric 2D/3D』 2024年4月 OPIE'24(株)マブチ エス アンド ティー ブースに実機を展示！ レンズの表裏を変える必要がなく、セッティングの手間を削減できるほか、 高精度・高速測定が行えるため、測定作業の短縮に貢献。 また、0.5mNという低測定圧での測定が可...

メーカー・取り扱い企業： マール・ジャパン株式会社

スーパーミラー 超鏡面仕上げ

最大粗さ30nm（0.03μm）以下に仕上げることが可能！当社の表面処…

硬化クローム工業では、鏡面専用工場を有し長年の経験から導き出された 好適な研磨方法でお客様のロールを仕上げます。 最大粗さ30nm（0.03μm）以下に仕上げることが可能。 ロール精度は、円筒度・真円度・フレそれぞれ3μm以下となります。 ご用命の際は、当社までお気軽にご相談ください。 【特長】 ■研磨可能皮膜...

メーカー・取り扱い企業： 硬化クローム工業株式会社 本社

【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価

AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…

原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層（~5nm程度）の元素分析や深さ方向の濃度勾配を調査することが可能です。 この2つの分析装置を使い「めっき済みのコネクタ接点用ピン表面」の加熱影響調査を行いました。 ぜひPDF資料をご一読ください...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析

STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表…

●表面を保護するサンプリング法により、端子表面の付着物層(20nm程度)が損失なく確認可能 ●EDS分析結果より、付着物の主成分はC(炭素)、O(酸素)であるため接点不良は有機物汚染によるもの判断 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてく...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

黒色めっき『スゴクロ』

光学機器をさらに進化させる黒化処理技術！画像のノイズや測定値の誤差低減…

黒色めっき『スゴクロ』は、表面形状の複雑化によって光の反射を抑制し、 可視光領域（380～750nm）の反射率1％以下を実現する低反射めっき皮膜です。 カメラや分光光度計など、光学機器の迷光を防止します。 画像のノイズや測定値の誤差低減に貢献できます。 また、有機塗料を用いた黒塗装や...

メーカー・取り扱い企業： EBINAX株式会社 旧 ヱビナ電化工業(株)

【DL可/XPS】XPSでの材料表面(ニッケルめっき)の変色調査

X線光電子分光分析(XPS)は表面汚染・変色の分析や表面処理の評価に有…

X線光電子分光分析(XPS)は ●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面処理の評価、 表面汚染・変色の分析に有効です。 ●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です。 この事例では「XPSによる材料表面(ニッケ...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社