レンズ用表面形状測定機 MarSurf LD Aspheric

PR非球面レンズの両面を一度に測定できる表面形状測定機。高精度＆高速測定で…

特許取得の独自構造によりレンズの表・裏を一度に測定出来る 表面形状測定機『MarSurf LD 130/260 Aspheric 2D/3D』 2024年4月 OPIE'24(株)マブチ エス アンド ティー ブースに実機を展示！ レンズの表裏を変える必要がなく、セッティングの手間を削減できるほか、 高精度・高速測定が行えるため、測定作業の短縮に貢献。 また、0.5mNという低測定圧での測定が可...

メーカー・取り扱い企業： マール・ジャパン株式会社

蓄熱燃焼式脱臭装置『Deopo（デオポ）』

PR装置全体をコンパクト化し組立た状態で運搬する為設置工事を簡略化 ！生…

『Deopo（デオポ）』は、従来の蓄熱燃焼式脱臭装置「RTO」の3塔式と回転式の 優れている要素を併せ持ち、ワンユニットにパッケージ化した装置です。 VOCの処理効率は98%以上、温度効率は95%以上の性能を持ち、従来品に比べ、 パージ部分の体積を最小にすることによりコンパクト化することが出来ました。 また、工場で組立した状態で運搬可能なサイズなので、標準装置の場合は 現地の荷降...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サーマルプラント

スリム型100nm分解能ステージ（50mm）

エンコーダ内蔵！高分解能位置決めステージ

自社開発した光学式リニアスケールエンコーダを内蔵しているため コントローラで制御することで100nnまたは50nm分解能で 動作します。 進行方向に対してスリムなモデルの特注例です。 スリムなメリット ・省スペースで長いストローク ・定盤のスペース確保 ・検査装置の小型化...

メーカー・取り扱い企業： シグマ光機株式会社

JSM-IT800 電界放出形走査電子顕微鏡

今まで得られなかった情報の取得やお困りの測定への改善が期待できます。

【仕様】 バージョン 　・HLバージョン/isバージョン/iバージョン/SHLsバージョン/SHLバージョン 分解能 ・HLバージョン：0.7nm (20kV)、1.3nm (1kV)、3.0nm (15kV, 5nA, WD 10mm) ・isバージョン：0.6nm (15kV)、1.0nm (1kV)、3.0nm (15kV, 5nA, ...

メーカー・取り扱い企業： アズサイエンス株式会社 松本本社

アズサイエンスおすすめ商品のご紹介

医学・生物学の分野や、金属、半導体、セラミックスなど様々な分野で活用で…

【仕様】 ■JSM-IT200 InTouchScope 走査電子顕微鏡 　分解能 　　高真空モード：3.0nm(30kV)、8.0nm(3.0kV)、15nm(1.0kV) 　　低真空モード：4.0nm(30kV BED) 　写真倍率：×5～300,000 　　　　　　（128mm×96mmを表示サイズとし...

メーカー・取り扱い企業： アズサイエンス株式会社 松本本社

JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡

見えるから、追求したい

【仕様】 分解能 　高真空モード：1.0nm(20kV)、3.0nm(1.0kV) 　分析時：3.0nm(15kV 照射電流3nA) 　低真空モード：1.8nm(15kV BED) 写真倍率：×5 ～ 600,000(128mm × 96mm...

メーカー・取り扱い企業： アズサイエンス株式会社 松本本社

コンパクトAFM『NaioAFM』※デモ受付中

表面形状の測定を短時間・簡潔に！防塵・防風用シールド、防振機構が標準搭…

【仕様】 ◎スキャン範囲（分解能）：70μm(1.0 nm) ◎Zノイズレベル（Static/Dynamicモード使用時）: 　typ.0.4nm(max.0.8nm)/typ.0.3nm(max.0.8nm) ◎搭載可能サンプルサイズ：12mm角以内...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

JSM-IT210 走査電子顕微鏡

コンパクトで無人運転が可能な新世代のSEMです。

【仕様】 分解能 　高真空モード：3.0nm(30kV)、15.0nm(1.0kV) 　低真空モード：4.0nm(30kV BED) 撮影倍率：×5 ～ ×300,000 (128 × 96mmを表示サイズとして倍率を規定) 表示倍率：×15...

メーカー・取り扱い企業： アズサイエンス株式会社 松本本社

JEM-F200 多機能電子顕微鏡

省エネルギー化とCO2削減をコンセプトとして開発された電界放出形透過電…

【仕様】 超高分解能構成／高分解能構成 　TEM 粒子像 　　超高分解能構成：0.19nm 　　高分解能構成：0.23nm 　加速電圧：200,80kV ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： アズサイエンス株式会社 松本本社

JEM-1400Flash 電子顕微鏡

新しい透過電子顕微鏡

【仕様】 分解能：0.2 nm (HC) 0.14 nm（HR） 加圧電力：10－120 kV ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： アズサイエンス株式会社 松本本社

半導体、セラミックス、学術研究や開発、原子分解能での観察などに！

アズサイエンスおすすめ

( 画面上 ×50 ～ 80 k) – 標準搭載 〇JEM-F200 多機能電子顕微鏡 分解能：超高分解能構成、高分解能構成 加圧電圧：200,80kV TEM 粒子像 　超高分解能構成：0.19nm 　高分解能構成：0.23nm...

メーカー・取り扱い企業： アズサイエンス株式会社 松本本社

立体電子顕微鏡『CT-SEM』

試料を傷めずに表面層を掘削可能！掘削面積は最大で2mm×2mmと非常に…

を発生しないので試料を傷めません。 【特長】 ■有機系材料の表面をレーザーでアブレーションする ■アブレーションの際に殆ど熱を発生しないので材料を傷めない ■1回のアブレーション量は10nmから400nm程度まで連続的に制御可能 ■1回のアブレーション面積は最大で2mm×2mmと非常に広範囲 ■1秒あたり最大で40um以上の高速アブレーションも可能 ■200秒の画像の3Dデータ化...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社TCK

卓上SEM（SNE-4500M Plus B）

ハイエンドモデルの卓上SEM

EMながら汎用SEMに匹敵する性能を有するハイエンドモデルです。汎用SEMのモジュールを最小化して開発した高性能コンパクトSEMです。タングステンフィラメントタイプの卓上SEMでは業界最高の分解能5nm（最大倍率 150,000x）を実現し、加速電圧は1kV~30kVまで使用可能です。低真空モー ド / 高真空モードの切り替え、二次電子像 / 反射電子像の取得、モーター制御の5軸ステージ、アパーチ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サイエンスラボラトリーズ

放射光用 走査型透過X線顕微鏡『STXM』

Heガス充填、UHVなど多彩な試料環境！放射光ビームラインとのハード・…

『STXM』は、コンパクトかつリジットな設計の放射光用走査型 透過X線顕微鏡です。 透過、蛍光、電子収量など検出器の組み合わせ計測。 ゾーンプレートを使用し高空間分解能20～100nmを誇ります。 当社は、使いやすいデータ取得ソフトなどお客様のご要望に応じて カスタマイズ開発いたします。 【特長】 ■ゾーンプレートを使用し高空間分解能 ■5nm以下の位置安定性 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社トヤマ

卓上タイプ 低電圧透過型電子顕微鏡（TEM）LVEM 5　

LVEM 5 は他に類を見ない「卓上タイプ」「低価格」の「透過型電子顕…

・BASIC TEMモード　解像力2.0nm ・オプションの追加で複数イメージモードが使用可能 　TEM BOOSTモードTEM（解像力1.2nm） 　SEMモード 　STEMモード ・試料サイズ　標準Φ3.05mm TEMグリッド...

メーカー・取り扱い企業： 入江株式会社

【資料】解析事例

リポソームの構造解析や皮膚ラメラ構造解析など！30nmから5μmの切片…

当資料は、株式会社花市電子顕微鏡技術研究所が行った解析事例を 掲載しています。 「ウルトラミクロトーム」では、30nmから5μmの切片作製が可能。 生物組織、金属メッキ層や無機蒸着層を含む複合材料、ナノ粒子など 幅広い分野における高品質な超薄切片および断面作製に適応できます。 多数分析をお取り扱いしており...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

ナノプロービングシステム 「Prober Shuttle」

SEM / FIB用ナノプロービング（マニピュレータ）システム 「Pr…

由で試料室内に導入されます。PSのプラットホーム上には最新のマニピュレータ（3軸）が最大4台まで配置され、SEM像をライブ観察しながら自在に制御できます。 ピエゾ駆動による最小動作分解能は0.25nm、プローブTip径(R)は最小30nmです。観察倍率に合わせて動作スピード(分解能)を切換えることで、低倍率〜高倍率での使用が可能です。 ナノチューブやトランジスタなどナノ試料のマニピュレーション...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アド・サイエンス

電子顕微鏡関連機器　電子線描画用パターン発生装置 SPG-724

お使いのSEMの機能を損なうことなく電子線描画が可能です。

キャン：1mm～5mm□ ○描画画素数 →ラスタースキャン：1000²/2000²/4000²/5000²/10000²dot →ブロックスキャン：1000²dot ○最小アドレスサイズ：5nm/dat ○ドーズタイム：0.5μsec/dot～10msec/dot [制御系] ○PC(OS)：Microsoft・Windows ○CAD：CANVAS [設置条件/寸法] ○電源...

メーカー・取り扱い企業： サンユー電子株式会社

金属3Dプリンタ用 粒子自動解析装置 ParticleX AM

金属付加製造法における金属粉末の粒子の検出から、サイズ計測、元素分析ま…

子が誤って分類判定される可能性があります。 動画像解析では、反対に大きい粒子の測定には向きますが、 小さい粒子を測定することが出来ません。 Phenom ParticleX AMは、200nmから数ｍｍまでの金属付加製造法で 使用される粉末のあらゆるサイズ範囲に対応可能です。 Phenom ParticleX AMは、金属3Dプリンタにおける金属付加製造法 （Metal Add...

メーカー・取り扱い企業： 極東貿易株式会社

原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』

欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…

ー駆動Zステージ 　・Z移動距離：25 mm 　・分解能：0.1 µm 　・繰り返し誤差：＜1 µm ■XYスキャナ範囲：100 µm × 100 µm ■XYスキャナ分解能：0.095 nm (20ビット位置制御） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

マイクロマニピュレーター（プローバー）　電子顕微鏡向け

ナノテクノロジーの研究開発をサポートします。

MM3A-EMは、電子顕微鏡（SEM/FIB）装置内に取付けされます。微動モード（nm動作分解能）と粗動モード（長距離移動用）を併せ持ち、ナノスケールの超微細動作を広い領域で行えます。 ● 操作系にジョイスティック(PS2)を採用することで、誰にでも直感的な操作が出来ます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アド・サイエンス

金属3Dプリンタ用 粒子自動解析装置 Explorer4

金属付加製造法における金属粉末の粒子の検出から、サイズ計測、元素分析、…

場合に、 大きい粒子が誤って分類判定される可能性があります。 動画像解析では、反対に大きい粒子の測定には向きますが、 小さい粒子を測定することが出来ません。 Explorer4は、200nmから数ｍｍまでの金属付加製造法で 使用される粉末のあらゆるサイズ範囲に対応可能です。 Explorer4は、金属3Dプリンタにおける金属付加製造法 （Metal Additive Manu...

メーカー・取り扱い企業： 極東貿易株式会社

【資料】材料系解析事例

30nmから5μmの切片作製が可能！材料系解析事例を複数ご紹介した資料…

当資料は、株式会社花市電子顕微鏡技術研究所が行った材料系解析を まとめた事例集です。 「ウルトラミクロトーム」では、生物組織、金属メッキ層や無機蒸着 層を含む複合材料、ナノ粒子など幅広い分野における高品質な超薄切片 および断面作製に適応可能です。 当社では、受託分析を始めました。協力機関とタイアップして材料分析を 実施致します。 【掲載事例】 ■リポソームの構造解析 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所