偏光ビームスプリッター ワイヤグリッドタイプ・キューブ型

PRカスタマイズ可能なワイヤグリッド偏光ビームスプリッター、入射角依存の少…

WGF(TM)を使用した、ワイヤグリッド偏光ビームスプリッターキューブタイプ（WGF(TM) PBS)です。 すでにハーフミラーをお使いの場合、WGF(TM) PBSに替えることで輝度向上が期待できます。 縮小系でも色や偏光度が部分的に変わることはなく、画像検査の精度を向上させます。 入射角依存が少なく、安定した光学性能を維持します。 ※WGF(TM)は旭化成の製品です。...規格品　WP...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社オプティカルソリューションズ

コネクタ形状を間違えた！→【光アダプタ/変換プラグ】で解決します

PR「短くて繋げない」「コネクタ形状が違う」ケーブルの緊急トラブルを解決し…

様々な場面で必要になる「ケーブル」について、こんなトラブルはありませんか？ 「ケーブルが明日必要なのに、ケーブルが短い！」 「コネクタの形が違うため接続が出来ない！調達する時間もない！」 ★データコントロルズの光アクセサリで、こんな緊急トラブルを解決します★ 中継アダプタ、変換プラグ、光パッチパネルなど常時在庫多数なため 15時までのご注文で最短翌日に納品可能です！ 【トラブル解決事例】 ケ...

メーカー・取り扱い企業： データコントロルズ株式会社

【分析事例】透過EBSD法による30nm以下の結晶粒解析

EBSD：電子後方散乱回折法

薄片化した試料でEBSD分析を行うことにより、従来のバルク試料よりも高い空間分解能を得ることができます。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【お任せください！】測定機器を送るだけでトルク測定可能！

組合せ自由なトルク測定システムー受託測定も可能ー

トルク測定の有償データ測定サービス受託測定で研究開発・品質管理をサポート。 試作品の測定や保守部品・抜取管理製品のトルク測定を行います。 ご用命の際は、お問い合わせください。 【主な測定（抜粋）】 ＜精密減速機＞ ■無負荷ランニングトルク（分解能0.001Nm） ■起動トルク測定（分解能0.001Nm） ■角度伝達誤差（分解能1秒） ■ロストモーション（分解能1秒） ■剛性（...

メーカー・取り扱い企業： セルテクノス株式会社

［FIB］集束イオンビーム加工

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり（スパッタ）、特定領域に炭素（C）・タングステン（W）・プラチナ（Pt）等を成膜することが可能です。また...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【SEMによる断面観察】コネクタめっき

真実を探求！通信が悪くなった場合はコネクタ端子の不具合を疑ってみてもい…

ポリッシャー（通称CP ）を使用 ■スジ箇所のめっき状態をSEMにて観察 ■結果 　・スジなし：表面Auめっきの厚さが均一（約350um） 　・スジA：表面Auめっきの厚さが不均一（約490nm/約350nm） 　・スジB：表面Auめっきの厚さが不均一（約130nm/約650nm） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

液晶ディスプレイの分光放射輝度・色度評価

コントラスト比や色温度などを測定可能！光学特性の変化を定量的に評価

まざまな光学特性を測定することが 可能です。 【測定器概要】 ■測定項目：分光放射、輝度、色度 ■測定範囲：0.0005cd/m2～5,000,000cd/m2 ■波長測定範囲：380nm～780nm ■波長分解能：1nm(有効波長幅[半値幅]：5nm） ■設置方法・治具：縦置き、平置きなど、形状に応じて対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

表面解析サービス

表面解析サービス

視野：5×104倍 　・ 走査型電顕により表面形状を観察しながら 　 　元素の定性/定量分析実施。表面形状および付着元素の概要の把握に最適 ○AES分析装置 　・分析領域：深さ方向：1nm、観察視野：104倍 　・深さ方向の分解能がnmオーダーレベルであり 　 　極表面の分析および薄膜の分析に最適 ○XPS分析装置 　・分析領域：深さ方向：数nm、観察視野：5mmφ ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＩＨＩ検査計測

［SAXS］X線小角散乱法

・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能

SAXSは、X線を物質に照射して散乱したX線のうち、2θ＜10°以下の低角領域に現れるものを測定し、物質の構造を評価する分析手法です。通常、数nm～数十nm程度の大きさの構造を評価できます。 ・ナノスケールでの周期構造・配向性の評価が可能 ・微粒子や材料中の空孔分布を評価することが可能 ・タンパク質など生体材料の評価が可能 ・サン...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

自動車用駆動モータの性能評価

自動車およびその周辺分野を含めた様々なニーズにお応えし、委託試験・研究…

モータダイナモでは，以下の様な性能評価が可能です． ●モータ・インバータ定格・最高出力 　・自動車などの加速性能，最高速度などに影響 ●モータ・インバータ効率 　・自動車などの航続距離・電力量消費率などに影響 ●モータの回転数-トルク特性（N-T特性） 　・指示値と実値，温度，効率，出力などをマップ形状で評価 ●設計と実機の性能評価 　・材料の特性をモータにした状態での性能評価...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人日本自動車研究所

［AES］オージェ電子分光法

試料表面（数nm程度の深さ）の元素の種類・存在量の評価

AESは、電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面（数nm程度の深さ）に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得る手法です。 ・固体材料の表面（深さ数nm）の定性・定量が可能 ・微小領域（数十nm～サブミクロン程度）の定性・定量が可能 ・主成分...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

プラスチック成形品の歪、複屈折評価

複屈折位相差（歪）や流れ方向・応力方向（主軸方位）の視覚化が可能です！

【装置原理】 ■複屈折を持つ透明体に光を当てると、その偏光状態が変化する性質がある ■複屈折測定装置を使用することで、偏光情報を専用の偏光イメージセンサで 　視覚化することが可能 ■523nm・543nm・575nmの波長を使用して、透明体を通過する前後の 　偏光状態を比較することで、複屈折を評価できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

材料の光学測定受託サービス

材料の分光透過・反射率の測定、透過・反射の散乱特性など、スタンダードな…

「ゴニオフォトメータによる散乱測定」 ●測定波長範囲 ・400nm - 800nm（ハロゲン光源を使用） ・バンドパスフィルターによる分光 ●推奨サンプル形状とサイズ ・平板 ・60mm角かそれより小さい場合は直径43mmの円よりも大きいこと ・厚みは最...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Camerium

光学測定受託サービス

材料の分光透過・反射率の測定、透過・反射の散乱特性、発光体の配光特性な…

「ゴニオフォトメータによる散乱測定」 ●測定波長範囲 ・400nm - 800nm（ハロゲン光源を使用） ・バンドパスフィルターによる分光 ●推奨サンプル形状とサイズ ・平板 ・60mm角かそれより小さい場合は直径43mmの円よりも大きいこと ・厚みは最...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ベストメディア

技術情報誌 201905-01 高空間分解能の結晶方位解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 TEMベースの結晶方位解析システム“ASTAR”を用いると、SEMをベースにしたEBSDよりも高い空間分解能が実現可能である（各種EBSD法の空間分解能が数十 nm程度に対してASTARを用いたACOM-TEM法では2～5 nm）。また、識別できる結晶構造が多いことも特長である。通常のTEM解析では取得困難な結晶方位マップ、結晶相マップおよび粒径分布などを得る...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

モータ受託試験・レンタルラボ『EMoTS-00』

モータ・インバータの設計・開発者の「今すぐ試験をしたい」ニーズにお応え…

『EMoTS-00』では、当社の高速ダイナモとバッテリシミュレータ、 インバータシミュレータを組み合わせた試験環境を提供しております。 供試モータを送り、試験指示をするだけで試験結果が得られる 受託試験にも対応可能。 また、モータ、インバータの評価試験だけでなく、実機に近い環境下での 配線材料のサージ試験、熱流、温度飽和の熱評価試験も行えます。 【特長】 ■最高速度：20...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テクニカルサポート

［SIM］走査イオン顕微鏡法

高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能

・高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能（Al, Cu等) ・分解能はSEM像より劣る（SIM：4nm, SEM：0.5nm）...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST