• 高機能フェライト粉『真球状ナノフェライト粉』 製品画像

    PR磁性インク、磁性流体、各種電子部品等に!酸化しにくく保管も容易なフェラ…

    パウダーテックの『真球状ナノフェライト粉』は、 平均粒径が20~1000nm程度の真球状のナノ(超微粒)フェライト粉です。 分散性に優れており、磁性インク、磁性流体などに使用可能です。 また、各種電子部品への利用も期待されます。 ナノ~サブミクロンサイズであるにもかかわらず酸化しにくいので、 保管も容易。各種溶媒に分散した分散液タイプもあります。 【特長】 ■平均粒径20...(つづきを見る

  • 新製品!『石英ガラスレンズ』 製品画像

    PR【展示会出展】高透過率&高熱伝導率!独自製法により仕上げ加工不要で複雑…

    当社では、高純度な石英ガラス原料を使用した 『石英ガラスレンズ』を提供しています。 型を用いて複雑な形状を成形し、離型後の収縮や変形を適切に制御する 独自製法を用いることで、仕上加工なしで完成製品を製作可能。 一般的なホウケイ酸ガラスレンズやプラスチックレンズと比べ 光透過率や熱伝導率が高く、蛍光を生じにくいなど優れた材料特性を有します。 【特長】 ■光学特性に優れ、UV...(つづきを見る

  • 紫外線インスペクション フラッシュライト『DT-365S』 製品画像カタログあり

    ハイパワー365nm UV LED搭載!見えない汚染を可視化するツール

    『365nm UV LED(DT-365S)』は、特殊な紫外線波長で見えない汚染を可視化する、 衛生管理の新しいツールです。 肉眼では見えない、トイレの尿、食品のたんぱく質、動物性油脂、繊維の屑などを ...(つづきを見る

  • 非接触三次元表面形状測定機 製品画像

    白色光干渉測定技術を採用。 高速で分解能0.1 nmの高精度な表面形…

    ・高分解能測定 最高0.1 nm ・白色光干渉測定技術を採用。高速な表面形状の非破壊測定と分析が可能。 ・モジュール設計により、測定対象や予算に応じたオプションパーツが選択可能。 ・カラー及びモノクロカメラの組合せが可能な2...(つづきを見る

  • ピンホール検査用紫外線灯 製品画像

    エルコメーターのピンホール検査用紫外線灯

    塗膜のピンホールを低コストで素早く検査できる装置です。工場や船舶向けに開発された装置で、1ワットの紫外発行ダイオードが装着されています。光の波長は405nm(±5nm)で、人間の目には紫に見えます。 塗膜の下地には、紫外線を反射する添加剤が含まれています。塗膜面に紫外線を照射すると、下地の塗料で覆われていない部分が蛍光を発するので、ピンホールがはっき...(つづきを見る

  • 【KTM】ハイパワーUVライト『UVH-365S』 製品画像カタログあり

    衛生管理の新しいツール!特殊な紫外線波長で見えない汚染を可視化するライ…

    365nm UVLED BLACK LIGHT『UVH-365S』は、特殊な紫外線波長で見えない汚染を可視化する、衛生管理の新しいツールです。 可視光では見えない汚れが、「UVH-365S」を照射すると浮き...(つづきを見る

  • 液体ライトガイド【UVから近赤外で透過特性】 製品画像カタログあり

    バンドルファイバよりも透過率が高く、フレキシブルで断線がないライトガイ…

    透過波長域別、用途別に複数のシリーズをご用意しています。 【特 長】 ・バンドルファイバと比較し、透過率が高い ・フレキシブルで破損なし ・開口角が大きい ・透過波長域250〜2000nm間での豊富な製品ラインナップ ・蛍光分析などで使用される励起光源(放電ランプ、LED)と接続して使用可能 ...(つづきを見る

  • 穴ライザー ワーク回転タイプ(内壁検査用) 製品画像カタログあり

    レーザー光で円筒形状の内壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出 (非破壊…

    【基本仕様】 型式:SG-LSNB 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2 検出成分:回折光、直接光 対象口径:Φ20mm~ 回転数:制限なし 有効測定長:制限なし サンプリング周波数:~180kHz 電...(つづきを見る

  • フォトマスクブランクス欠陥検査装置 LODAS-Blanks 製品画像カタログあり

    【デモ機貸出可】検査装置が高いという時代から、 やすくて使える検査装…

    装置仕様: ◎ 検査レーザー: 405nm 250mW LaserDiode(10000時間保証) ◎ 装置サイズ:WxDxH=450x500x730mm ◎ ユーティリティー: AC100V~200V 10A...(つづきを見る

  • 3D溶接ビード検査システム『VIRO wsi』 製品画像カタログあり

    レーザー溶接、アルミ溶接のビード検査も可能です。検査ラインの省力化・自…

    【テクニカルデータ(センサ)】 ■出力 : 40mW ■クラス : 3B または2(選択可能) ■波長 : 660nm(3B・2 とも同じ) ■NOHD(安全距離) : 1400mm ■取込周波数 : 345 ~1859 HZ(3D)         172 ~604 HZ (2D・3D) ■ワーキング距...(つづきを見る

  • SiCウェハ・SiC EPIウェハ検査装置 LODAS SiC 製品画像カタログあり

    【デモ機貸出可】反射散乱光、透過散乱光、共焦点光を用いたハイブリッド検…

    仕様: ◎ 検査レーザー: 405nm 200mW ◎ 検査時間:200sec(サイズ:4inch) ◎ 検査対象:2inch、3inch、4inch、6inch ◎ 装置サイズ:WxDxH=450x500x730mm ◎ ユ...(つづきを見る

  • EUV Mask Backside 検査装置 LODAS-EMB 製品画像カタログあり

    【デモ機貸出可】表面欠陥高さはReviewシステムを介さず測定が可能。…

    仕様: ◎ 検査レーザー: 405nm 200mW LaserDiode ◎ 検査感度:80nmPSL(業界最高感度) ◎ 検査時間:300sec ◎ 検査対象:6inch EUVmask ◎ 装置サイズ:WxDxH=450x5...(つづきを見る

  • 組込型光学検査システム LODAS - BOIS 製品画像

    余分なプロセス処理を省き、処理時間・コストを削減。洗浄機、研磨機、成膜…

    仕様: ◎ 検査レーザー: 405nm 200mW LaserDiode ◎ 検査感度:100nmPSL以上(顧客ニーズにより変更可能) ◎ 検査対象:Si Wafer,化合物半導体Wafer,ガラス基板等 ◎ ユニットサイズ:W...(つづきを見る

  • LiTaO3・LiNbO3(LT/LN)基板検査装置 製品画像カタログあり

    【デモ機貸出可】パーティクル、スクラッチ、内部欠陥、裏面割れなどの検査…

    仕様 ◎ 検査レーザー: 405nm 150mW LaserDiode ◎ 検査時間:200sec(サイズ:4inch) ◎ 検査対象:3inch,4inch,6inch ◎ 装置サイズ:WxDxH=450x500x730mm ...(つづきを見る

  • GaN EPIウエハ検査装置 LODAS GaN 製品画像カタログあり

    【デモ機貸出可】レーザー共焦点、散乱反射光、透過光検査はGaNウエハの…

    仕様 ◎ 検査レーザー: 405nm 150mW LaserDiode ◎ 検査時間:200sec(4inch) ◎ 検査対象:2inch,4inch,6inch ◎ 装置サイズ:WxDxH=450x500x730mm ◎ ユ...(つづきを見る

  • ウェーハ表面欠陥検査装置『Laser Explorer』 製品画像カタログあり

    透明ウェーハも高速検査!高出力レーザーが微小な傷・パーティクルを検出!…

    ット、ヒロック、ステイン 対象素材  :Si、SiC、GaN、LT、サファイア等 対象サイズ :2、4、6インチ 検査時間  :約90秒/枚(4インチ、10μmピッチ) レーザー波長:405nm 検査ピッチ :5~30μm 結果出力  :マップ、種類別グラフ、リスト、サイズ分類 機器寸法  :W 1800×D 990×H 1490(mm) ※詳しくはカタログをご覧下さい。お問い...(つづきを見る

  • 干渉縞検査照明装置 製品画像カタログあり

    干渉縞検査照明装置

    ■□■特長■□■ ■特殊波長550〜600nmの目に優しい光 ■照射距離350〜600mmまで可変できます ■照射角度0〜90°まで可変できます ■チラつきの少ない電子安定器を採用 ■詳細は、お問い合わせください。...(つづきを見る

  • 基板最終検査装置『FP-9000』 製品画像カタログあり

    スキルレス操作と優れた検出力で進化を続けるAVIのグローバルスタンダー…

    ◆業界初の赤外光の特徴を生かした「IR照明検査技術」  波長800nm以上の赤外光が持つ「SR(ソルダーレジスト)を  透過しやすく、銅に反射しやすい」という特徴を、最終外観検査工程に  活用。従来の白色照明では困難だった濃色SR基板などでも、  パターンを鮮明...(つづきを見る

  • 定置型LEDブラックライト『MIZ-500L』 製品画像カタログあり

    非破壊検査や汚染チェックに!面倒な配線が不要な据付型LEDブラックライ…

    【仕様】 ■紫外線放射度:5000μw/cm2以上(距離600mm) ■ピーク波長:365nm ■電源:AC85V~240V ■消費電力:70W ■重量:5kg(ケーブル含む) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...(つづきを見る

  • イーグルアイ ek-3000 製品画像カタログあり

    手のひらサイズ、ハンズフリーの状態で光源を快適に利用できます!蛍光磁粉…

    ・コンパクトで、二つの強力なUVLED光源をもつ軽量ランプは、検査に利用いただけます。加えて、三つの白色LED照明機能も付いています。 ・調節のできるストラップはヘルメットの上からでも、直接頭にも着用でき、ハンズフリーを実現します。 ・独自のランプ/スプレー用マウントはランプとスプレーを同時に使用するのに便利で、片手での蛍光検査を可能にします。 ・内蔵されたファンはランプを低温に保ち、使用を...(つづきを見る

  • 【製品開発・OEM製造事例】マイクロプレート吸光分光光度計 製品画像カタログあり

    光学設計、液体ハンドリング、温度制御、測定検出技術等を使ってライフサイ…

    び分析機器・装置」の一例として「マイクロプレート吸光分光光度計」を紹介します。 この装置は、マイクロプレートの 6・12・24・48・96 well、384・1536 well に対応した、200nm~1000nm の任意の波長で測定可能な「マイクロプレート吸光分光光度計」です。計測に用いるビームを細くすることで 1536well のプレートを読み取ることが出来ます。 また、X-Y 駆動機構を...(つづきを見る

  • 穴ライザーNEO(小径内壁検査用) 製品画像カタログあり

    レーザー光で円筒形状の内壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出 (非破壊…

    【基本仕様】 型式:SG-LSDC-6-203 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:Φ8mm~ 回転数:18,000rpm(従来比20%up) 有効測定長:200mm サンプリング...(つづきを見る

  • 穴ライザー 3(小径内壁検査用) 製品画像カタログあり

    レーザー光で円筒形状の内壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出 (非破壊…

    【基本仕様】 型式:SG-LSDC-6-203 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:Φ7mm~ 回転数:15,000rpm 有効測定長:200mm サンプリング周波数:~800kH...(つづきを見る

  • 穴ライザー(小径外壁検査用) 製品画像カタログあり

    レーザー光で円筒形状の外壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出 (非破壊…

    【基本仕様】 型式:SG-LSRA 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:φ20~30mm 回転数:15,000rpm 有効測定長:~L40mm サンプリング周波数:~8...(つづきを見る

  • 穴ライザー(極細タイプ) 製品画像カタログあり

    レーザー光で円筒形状の内壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出 (非破壊…

    【基本仕様】 型式:SG-LSDC 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:Φ4mm~ 回転数:10,000rpm 有効測定長:50mm サンプリング周波数:~800kHz...(つづきを見る

  • 穴ライザー ワーク回転タイプ(外壁検査用) 製品画像カタログあり

    レーザー光で円筒形状の外壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出 (非破壊…

    【基本仕様】 型式:SG-LSGB 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:回折光、直接光 対象口径:制限なし 回転数:制限なし 有効測定長:制限なし サンプリング周波数:~180kHz ...(つづきを見る

  • リバウンド式硬さ計 DynaPOCKET PLUS レンタル 製品画像カタログあり

    ポータブル、簡単操作の硬さ計

    DynaPOCKETはリバウンド方式のポケットサイズ高性能高度測定器です(ASTM A956準拠)。インパクトデバイスと表示部を一体化して軽量・コンパクトを実現しました。 操作も簡単で平均値の測定やスケール換算もワンタッチで行なえます。...◆リバウンド方式採用 ◆操作キー2つの簡単操作 ◆あらゆるインパクト方向に対応する自動補正機能(特許取得) ◆1回の測定値または連続測定の平均値...(つづきを見る

  • 画像処理応用装置 フィルム検査装置 製品画像

    異物、気泡、キズ、その他フィルム上の欠陥、ピンボール、筋ムラ等対応可能

    「フィルム検査装置」の対象ワークは、標準幅100mm(分解能により10~500mm対応可)の透明フィルムです。検査項目は異物、気泡、キズ、その他フィルム上の欠陥、ピンボール、筋ムラ等にも対応可能です。検査時間は標準送り速度 10m/min、Max15m/min可(視野100mm時、視野 約100mm)となっています。検査精度は標準分解能 25μm(7~100μm:検査幅による)、検出可能最小欠陥は...(つづきを見る

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