• 高機能フェライト粉『真球状ナノフェライト粉』 製品画像

    PR磁性インク、磁性流体、各種電子部品等に!酸化しにくく保管も容易なフェラ…

    パウダーテックの『真球状ナノフェライト粉』は、 平均粒径が20~1000nm程度の真球状のナノ(超微粒)フェライト粉です。 分散性に優れており、磁性インク、磁性流体などに使用可能です。 また、各種電子部品への利用も期待されます。 ナノ~サブミクロンサイズであるにもかかわらず酸化しにくいので、 保管も容易。各種溶媒に分散した分散液タイプもあります。 【特長】 ■平均粒径20...(つづきを見る

  • 背負って歩くだけで3Dスキャン!ウェアラブルレーザースキャナ 製品画像

    PR【計測時間が三脚式3Dスキャナの約1/10】簡単・迅速・便利!軽量のレ…

    『HERON』は、レーザースキャナーを背中に装着し、計測したい場所を 歩くことで周囲の3Dデータが取得できるレーザースキャナです。 オペレーターはタブレット端末で計測状況をリアルタイムに確認できるため、 現場に戻って再計測するという無駄な作業は無くなります。 データの処理は基本的にデスクトップソフトウェアにて自動化され、 後工程に使用される汎用的なデータにエクスポートされます。 ...(つづきを見る

  • FPD各種部材、光学欠陥検査装置、比類なき広視野 製品画像カタログあり

    FPD各種部材、光学欠陥検査装置、比類なき広視野 従来比5倍高速・高…

    域を簡便に観察できない。この課題をレーザ走査イメージャが解決します。 50×50mm範囲を3D形状計測できる 計測時間:1μm分解能 約35秒 5μm分解能 約10秒 ●計測幅:0.8μm 深さ:5nm ●最大45度傾斜で、形状測定が可。 ●キズや深い穴の欠陥も検出可。 レーザ走査イメージャの特徴 ・従来の顧微鏡やCCDカメラやラインセンサの欠点を克服した 新しい観察装置(照明装置がいら...(つづきを見る

  • R・G・B LEDアーム照明装置 製品画像カタログあり

    RGB3色内蔵LEDで広いスペクトルの照明!            見…

    RGBそれぞれ単独で照度調整が可能。 3色同時発光で広いスペクトルの白色照明ができます。 白色LEDのみでは見えずらい、極微細な検査に最適です。 1個で3色発光するLEDを使用。 R赤624nm・G緑525nm・B青460nm。 3色それぞれ単独でも発光が可能。 ...(つづきを見る

  • 非球面ヌルミラー干渉計『ANI-Z1』 製品画像カタログあり

    圧倒的なハイスピードで非球面レンズ測定を実現!非接触計測が可能な干渉計

    【仕様】 ■ビーム有効径:4.7mm ■光源  ・DPSSレーザー(532nm用)  ・He-Neレーザー(633nm用) ■波長:532nmまたは、633nm ■出力:4.5mW ■クラス:3R ■干渉方式:フィゾー型 ■カメラ  ・計測用:1/...(つづきを見る

  • 【1億画素・中判】冷却CMOSカメラ『BH-66M』 製品画像カタログあり

    1億画素の中判CMOSセンサ搭載!超高解像度冷却CMOSカメラ!

    【仕様】 ★通信方式  カメラリンクグラバボード ★対応波長領域  350nm~1000nm ★A/Dコンバーター  16bit(65536階調)/ 12bit(4096階調) ★画素数  1億画素 ★有効ピクセルサイズ  11600×8700 ...(つづきを見る

  • 穴ライザー ワーク回転タイプ(内壁検査用) 製品画像カタログあり

    レーザー光で円筒形状の内壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出 (非破壊…

    【基本仕様】 型式:SG-LSNB 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2 検出成分:回折光、直接光 対象口径:Φ20mm~ 回転数:制限なし 有効測定長:制限なし サンプリング周波数:~180kHz 電...(つづきを見る

  • フォトマスクブランクス欠陥検査装置 LODAS-Blanks 製品画像カタログあり

    【デモ機貸出可】検査装置が高いという時代から、 やすくて使える検査装…

    装置仕様: ◎ 検査レーザー: 405nm 250mW LaserDiode(10000時間保証) ◎ 装置サイズ:WxDxH=450x500x730mm ◎ ユーティリティー: AC100V~200V 10A...(つづきを見る

  • SiCウェハ・SiC EPIウェハ検査装置 LODAS SiC 製品画像カタログあり

    【デモ機貸出可】反射散乱光、透過散乱光、共焦点光を用いたハイブリッド検…

    仕様: ◎ 検査レーザー: 405nm 200mW ◎ 検査時間:200sec(サイズ:4inch) ◎ 検査対象:2inch、3inch、4inch、6inch ◎ 装置サイズ:WxDxH=450x500x730mm ◎ ユ...(つづきを見る

  • EUV Mask Backside 検査装置 LODAS-EMB 製品画像カタログあり

    【デモ機貸出可】表面欠陥高さはReviewシステムを介さず測定が可能。…

    仕様: ◎ 検査レーザー: 405nm 200mW LaserDiode ◎ 検査感度:80nmPSL(業界最高感度) ◎ 検査時間:300sec ◎ 検査対象:6inch EUVmask ◎ 装置サイズ:WxDxH=450x5...(つづきを見る

  • 組込型光学検査システム LODAS - BOIS 製品画像

    余分なプロセス処理を省き、処理時間・コストを削減。洗浄機、研磨機、成膜…

    仕様: ◎ 検査レーザー: 405nm 200mW LaserDiode ◎ 検査感度:100nmPSL以上(顧客ニーズにより変更可能) ◎ 検査対象:Si Wafer,化合物半導体Wafer,ガラス基板等 ◎ ユニットサイズ:W...(つづきを見る

  • LiTaO3・LiNbO3(LT/LN)基板検査装置 製品画像カタログあり

    【デモ機貸出可】パーティクル、スクラッチ、内部欠陥、裏面割れなどの検査…

    仕様 ◎ 検査レーザー: 405nm 150mW LaserDiode ◎ 検査時間:200sec(サイズ:4inch) ◎ 検査対象:3inch,4inch,6inch ◎ 装置サイズ:WxDxH=450x500x730mm ...(つづきを見る

  • GaN EPIウエハ検査装置 LODAS GaN 製品画像カタログあり

    【デモ機貸出可】レーザー共焦点、散乱反射光、透過光検査はGaNウエハの…

    仕様 ◎ 検査レーザー: 405nm 150mW LaserDiode ◎ 検査時間:200sec(4inch) ◎ 検査対象:2inch,4inch,6inch ◎ 装置サイズ:WxDxH=450x500x730mm ◎ ユ...(つづきを見る

  • UV-LED Light ZB-365J【ブラックライト】 製品画像カタログあり

    小型・軽量・高出力で凹凸の見易い携帯型UV-LEDライト。【ブラックラ…

    ●電源:18650 Li-ionバッテリー(保護回路付き) 1本 ●光源:紫外線中心波長365(±5)nm (at 25℃) UV-LED使用 ●紫外線強度:約400~19,990以上μW/cm2以上 (満充電時:距離381mm:中心) ヘッド部を回転させることにより照射範囲及び紫外線照度の調整が可...(つづきを見る

  • ウェーハ表面欠陥検査装置『Laser Explorer』 製品画像カタログあり

    透明ウェーハも高速検査!高出力レーザーが微小な傷・パーティクルを検出!…

    ット、ヒロック、ステイン 対象素材  :Si、SiC、GaN、LT、サファイア等 対象サイズ :2、4、6インチ 検査時間  :約90秒/枚(4インチ、10μmピッチ) レーザー波長:405nm 検査ピッチ :5~30μm 結果出力  :マップ、種類別グラフ、リスト、サイズ分類 機器寸法  :W 1800×D 990×H 1490(mm) ※詳しくはカタログをご覧下さい。お問い...(つづきを見る

  • 紫外線探傷灯(非破壊検査)LEDブラックライト UV-45L・S 製品画像カタログあり

    安定期のないブラックライト!

    電源  AC100V10%(50/60Hz) 消費電力  5W ランプ寿命(平均)  約2000時間 波長 ピーク波長  375nm 紫外線強度(初期平均) (点灯20分後計測)  距離100mm 4,800μw/cm2  距離150mm 2,300μw/cm2  距離200mm 1,350μw/cm2 ...(つづきを見る

  • 定置型LEDブラックライト『MIZ-500L』 製品画像カタログあり

    非破壊検査や汚染チェックに!面倒な配線が不要な据付型LEDブラックライ…

    【仕様】 ■紫外線放射度:5000μw/cm2以上(距離600mm) ■ピーク波長:365nm ■電源:AC85V~240V ■消費電力:70W ■重量:5kg(ケーブル含む) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...(つづきを見る

  • システム  液晶ガラス・PDPガラス検査システム 製品画像

    外観検査システム

    【特徴】 〇各種光学系に対応 モアレ縞方式による光学歪みによる欠陥検出(最小20μm幅のアワまで検出) 特殊な透過光によるキズ欠陥検出(最小50nm幅のキズまで検出) 透過光と反射光の組み合わせによる表裏識別 〇20μm分解能で、第8世代素板ガラスまで対応可能 〇MAX:64台のラインセンサーカメラまで対応可能 〇最新鋭のCPU採用と独...(つづきを見る

  • ハンディブラックライト 紫外線探傷灯 MIZ-100A 製品画像カタログあり

    長時間作業に最適なポータブル型ブラックライト(紫外線探傷灯)

    【仕様】 [電源入力] AC100V 50/60Hz 120W [紫外線放射照度] 12mW/cm2以上(フィルタ面より400mm) [主透過波長] 365nm(UV-A) [管球寿命] 約1500時間 [灯具寸法・重量] 110(W)×138(D)×250(H)mm ・600g [ケース寸法・重量] 345(W)×175(D)×195(H)mm ・...(つづきを見る

  • 穴ライザーNEO(小径内壁検査用) 製品画像カタログあり

    レーザー光で円筒形状の内壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出 (非破壊…

    【基本仕様】 型式:SG-LSDC-6-203 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:Φ8mm~ 回転数:18,000rpm(従来比20%up) 有効測定長:200mm サンプリング...(つづきを見る

  • 穴ライザー 3(小径内壁検査用) 製品画像カタログあり

    レーザー光で円筒形状の内壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出 (非破壊…

    【基本仕様】 型式:SG-LSDC-6-203 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:Φ7mm~ 回転数:15,000rpm 有効測定長:200mm サンプリング周波数:~800kH...(つづきを見る

  • 穴ライザー(小径外壁検査用) 製品画像カタログあり

    レーザー光で円筒形状の外壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出 (非破壊…

    【基本仕様】 型式:SG-LSRA 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:φ20~30mm 回転数:15,000rpm 有効測定長:~L40mm サンプリング周波数:~8...(つづきを見る

  • 穴ライザー(極細タイプ) 製品画像カタログあり

    レーザー光で円筒形状の内壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出 (非破壊…

    【基本仕様】 型式:SG-LSDC 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:Φ4mm~ 回転数:10,000rpm 有効測定長:50mm サンプリング周波数:~800kHz...(つづきを見る

  • 穴ライザー ワーク回転タイプ(外壁検査用) 製品画像カタログあり

    レーザー光で円筒形状の外壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出 (非破壊…

    【基本仕様】 型式:SG-LSGB 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:回折光、直接光 対象口径:制限なし 回転数:制限なし 有効測定長:制限なし サンプリング周波数:~180kHz ...(つづきを見る

  • 水素ガス式漏水探索機 製品画像

    漏水音を検出しづらい宅内の漏水箇所検出に威力を発揮します!

    ●塩ビ管、鋼管など管種を選ばず微少の漏水箇所も発見できます。...■仕様 ・寸法/重量   本体:205×148×57mm/1kg   ケース(収納時):390×700×180mm ・電源 単三形NMH+充電器セット標準 ・標準装備  探針プローブ、壁・路面用プローブ、専用ケース、テスト用水素発生器...(つづきを見る

  • リバウンド式硬さ計 DynaPOCKET PLUS レンタル 製品画像カタログあり

    ポータブル、簡単操作の硬さ計

    DynaPOCKETはリバウンド方式のポケットサイズ高性能高度測定器です(ASTM A956準拠)。インパクトデバイスと表示部を一体化して軽量・コンパクトを実現しました。 操作も簡単で平均値の測定やスケール換算もワンタッチで行なえます。...◆リバウンド方式採用 ◆操作キー2つの簡単操作 ◆あらゆるインパクト方向に対応する自動補正機能(特許取得) ◆1回の測定値または連続測定の平均値...(つづきを見る

  • 画像処理応用装置 フィルム検査装置 製品画像

    異物、気泡、キズ、その他フィルム上の欠陥、ピンボール、筋ムラ等対応可能

    「フィルム検査装置」の対象ワークは、標準幅100mm(分解能により10~500mm対応可)の透明フィルムです。検査項目は異物、気泡、キズ、その他フィルム上の欠陥、ピンボール、筋ムラ等にも対応可能です。検査時間は標準送り速度 10m/min、Max15m/min可(視野100mm時、視野 約100mm)となっています。検査精度は標準分解能 25μm(7~100μm:検査幅による)、検出可能最小欠陥は...(つづきを見る

  • レーダー鉄筋探査システム Conquest100 レンタル 製品画像

    配筋状態等の2D表示可能!PC鋼線、空洞、PVC管等を探知できる高性能…

    『Conquest100』は、コンクリートかぶり厚さの測定などの使用に最適な レーダー鉄筋探査システムです。 配筋状態を表示させる「グリッドスキャン機能」や、パワーケーブル、PC鋼線、 PVC管、空隙などを探知する機能、 タッチスクリーンを採用したフルカラーディスプレイなど、 様々な機能を搭載した高性能モデル。充実した機能により誰でも簡単に鉄筋探査が可能です。 【特長】 ■ライ...(つづきを見る

  • 超音波厚さ計/DM5E 製品画像

    軽量・コンパクトボディに最小/最大キャプチャ、Bスコープ表示、アラーム…

    「DM5E」は、厚さ測定の基本機能に加え、デュアルマルチ機能(DUALMULTI)を搭載しています。デュアルマルチ機能では、コーティングやペイントの上から母材の厚さのみを測定することが可能です。コーティングやペイントを剥がす必要がないため、検査にかかる時間とコストを削減できます。 【特徴】 ■簡単操作を追求したユーザーインターフェース ■選べる表示モード(標準モード、MIN/MAXスキャ...(つづきを見る

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