• 高機能フェライト粉『真球状ナノフェライト粉』 製品画像

    PR磁性インク、磁性流体、各種電子部品等に!酸化しにくく保管も容易なフェラ…

    パウダーテックの『真球状ナノフェライト粉』は、 平均粒径が20~1000nm程度の真球状のナノ(超微粒)フェライト粉です。 分散性に優れており、磁性インク、磁性流体などに使用可能です。 また、各種電子部品への利用も期待されます。 ナノ~サブミクロンサイズであるにもかかわらず酸化しにくいので、 保管も容易。各種溶媒に分散した分散液タイプもあります。 【特長】 ■平均粒径20...(つづきを見る

  • 金型離型剤『フロロサーフ FG-5093シリーズ』 製品画像

    PR圧倒的な離型性。刷毛・スプレーで塗布が簡単。膜厚はわずか数nm、再塗布…

    『フロロサーフ FG-5093』は、特殊なフッ素樹脂を 不燃性のフッ素系溶剤に溶解させた金型離型剤です。 塗布することで、表面の成形樹脂の付着力が低減され、 複雑・精密な形状でも抜群の離型性を発揮します。 持続性に優れ、数千ショットに及ぶ連続離型の実績があるほか、 刷毛・スプレー等で再塗布すれば性能が再び復活します。 【特長】 ■型素材に反応して強力に密着し、連続離型が可...(つづきを見る

  • YWafer Mapper RD8 製品画像

    多機能200x200mmウェーハマッピング装置RD8シリーズ

    【仕様】 ○基本型式: YWAFER-RD8-CP ○光学範囲および感度型式一覧: UVVIS:280~850nm、VISNIR:350~1030nm、UVNIR:200~1100nm、NIR:900~1600nm (近赤外対応冷却InGaAsディテクタ)、540NIR:540~1100nm (赤色高感度)、U...(つづきを見る

  • 白色干渉計粗さ測定機『FM-Ra』【粗面~鏡面測定】 製品画像カタログあり

    粗面~鏡面ウェーハの粗さ測定に最適な装置です! 1台で工程管理が可能…

    測定視野:1mm角(標準)、0.2mm角、0.5mm角、3.2mm角(オプション) Z軸分解能:0.1nm 測定項目:Ra、Ry、Sa、St等 測定精度:0.2nm(1σ) 測定時間:約15秒 データ数:最大約100万点...(つづきを見る

  • ウェーハ表面欠陥検査装置『Laser Explorer』 製品画像カタログあり

    透明ウェーハも高速検査!高出力レーザーが微小な傷・パーティクルを検出!…

    ット、ヒロック、ステイン 対象素材  :Si、SiC、GaN、LT、サファイア等 対象サイズ :2、4、6インチ 検査時間  :約90秒/枚(4インチ、10μmピッチ) レーザー波長:405nm 検査ピッチ :5~30μm 結果出力  :マップ、種類別グラフ、リスト、サイズ分類 機器寸法  :W 1800×D 990×H 1490(mm) ※詳しくはカタログをご覧下さい。お問い...(つづきを見る

  • 表面増強ラマン散乱(SERS)測定用基板 「Wavelet」 製品画像カタログあり

    ラマン散乱光の検出力を増強する基板!水溶液や有機溶媒中でも測定が可能で…

    ての販売) →1ケースチップ数:1チップ~24チップ [活性領域貴金属種] ○Au [活性領域サイズ] ○3.0×4.0,5.0×7.0mm [推奨励起波長] ○633,785,830nm ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。...(つづきを見る

  • 白色干渉計粗さ測定機『FM-Ra』【諦めていた測定も!】 製品画像カタログあり

    トロペル社最新の表面粗さ測定機です。ウェーハの測定に最適です!サンプル…

    測定視野:1mm角(標準)、0.2mm角、0.5mm角、3.2mm角(オプション) Z軸分解能:0.1nm 測定項目:Ra、Ry、Sa、St等 測定精度:0.2nm(1σ) 測定時間:約15秒 データ数:最大約100万点...(つづきを見る

  • 【製品開発・OEM製造事例】マイクロプレート吸光分光光度計 製品画像カタログあり

    光学設計、液体ハンドリング、温度制御、測定検出技術等を使ってライフサイ…

    び分析機器・装置」の一例として「マイクロプレート吸光分光光度計」を紹介します。 この装置は、マイクロプレートの 6・12・24・48・96 well、384・1536 well に対応した、200nm~1000nm の任意の波長で測定可能な「マイクロプレート吸光分光光度計」です。計測に用いるビームを細くすることで 1536well のプレートを読み取ることが出来ます。 また、X-Y 駆動機構を...(つづきを見る

  • コンパクトX線検査(MXI+CT:X8011) 製品画像カタログあり

    多くの検査課題に対応するインライン化可能なX線検査システム

    新規で複雑なテクノロジーは、隠れた微小構造の視覚化に適した検査方法を必要とします。 <動画で確認頂けます:X8060> http://www.youtube.com/watch?v=nMBK5ZLg8c4 ...・マニュアル、セミオートマティックまたは全自動のX線検査 ・モジュール構造で省メンテナンスの金属管 ・ハンドリングユニットはEasyClick 原理で簡単な取付け ・3軸マ...(つづきを見る

  • 次世代小型高性能SFPインサーキット・テスタ 「i1000D」 製品画像カタログあり

    インライン機能を備え、完全に自動化できるようになりました。

    「Agilent Medalist i1000D」は、次世代に対応した業界最小クラスの高性能PCB製造ライン向けインサーキット・テスタです。 さらに、バウンダリ・スキャン・テスト、オンボード・プログラミング、ライブラリ・ベースのデジタル・テスト、パーピン・プログラマブル・デジタル・ドライバ/レシーバなど、真のデジタル・テスト・カバレージを提供します。 【特徴】 ○業界最高水準のテストカバ...(つづきを見る

  • 汎用X線検査(MXI+uCT:X8060) 製品画像カタログあり

    汎用的な2D/3D−X線検査

    X線検査は立体的被検物の内部に関する情報を提供します。2Dモードでも迅速且つ高倍率の拡大画像によって3次元情報を得ることができます。3Dモードでは更に、最新のCT技術により、完全なボリュームレンダリングが可能になります。引き続き、非破壊スライス画像を任方向に設定したり、検査することができます。 Viscom X8060 NDT は柔軟な適用が可能なため、多様な産業分野における検査手段として大きな...(つづきを見る

  • 超コンパクトX線検査装置(MXI:X8008) 製品画像カタログあり

    CT機能付 コンパクトX線検査装置

    コンパクトで高性能なX線検査装置です。ジョイスティックで3次元にワークを動かし、X線イメージを得ることができます。また付属のソフトウエアでCTイメージを作成、検査対象をより立体的に捉えます。 ・マニュアルおよびセミオートマティックのオフラインX線検査 ・小型のプリント回路基板やコンポーネント、組立品の検査 ・少量量産品やプロトタイプ構築時の品質管理 ・モジュール構造で省メンテナンスの金...(つづきを見る

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