• 【UVランプの殺菌作用を検証!】紫外線強度計『UVR-300』 製品画像

    【UVランプの殺菌作用を検証!】紫外線強度計『UVR-300』

    PRウイルスの不活性化が期待される紫外線(UV-C)を計測可能!紫外線照射…

    令和2年5月28日、板橋区の産学官連携により開発中の紫外線照射ロボットで 新型コロナウイルス除去の実証実験を行い、その効果が確認されています。 UV-C(200~280nm)波長帯の紫外線は、殺菌目的の紫外線(UV)ランプへの応用が期待されています。 紫外線(UV)照射ランプの殺菌効果を検証する際に必要となるのが、紫外線強度計。本製品は、高感度・ワイドレンジ・操作性に優れた紫外線強度計で...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社トプコンテクノハウス

  • ギガビットメディアコンバータ「NC1Gシリーズ(ACType)」 製品画像

    ギガビットメディアコンバータ「NC1Gシリーズ(ACType)」

    PR低コストで、オフィスや工場・学校などのネットワーク構築が可能なメディア…

    NC1Gシリーズ(AC Type)は10/100/1000BASE-Tと1000BASE-Xを相互に変換するメディアコンバータです。 リンクはオートネゴシエーションのみに対応しており、廉価ながらもLFP(リンクフォルトパススルー)機能を搭載。 リンクが切断された場合、もう一方のリンクを自動的に切断しますので障害発生時の原因究明に役立ちます。 本製品は10/100/1000Mbps RJ45ポー...

    メーカー・取り扱い企業: FXC株式会社

  • スリム型100nm分解能ステージ(50mm) 製品画像

    スリム型100nm分解能ステージ(50mm)

    エンコーダ内蔵!高分解能位置決めステージ

    自社開発した光学式リニアスケールエンコーダを内蔵しているため コントローラで制御することで100nnまたは50nm分解能で 動作します。 進行方向に対してスリムなモデルの特注例です。 スリムなメリット ・省スペースで長いストローク ・定盤のスペース確保 ・検査装置の小型化...

    メーカー・取り扱い企業: シグマ光機株式会社

  • コンパクトAFM『NaioAFM』※デモ受付中 製品画像

    コンパクトAFM『NaioAFM』※デモ受付中

    表面形状の測定を短時間・簡潔に!防塵・防風用シールド、防振機構が標準搭…

    【仕様】 ◎スキャン範囲(分解能):70μm(1.0 nm) ◎Zノイズレベル(Static/Dynamicモード使用時):  typ.0.4nm(max.0.8nm)/typ.0.3nm(max.0.8nm) ◎搭載可能サンプルサイズ:12mm角以内...

    メーカー・取り扱い企業: 日本カンタム・デザイン株式会社 東京本社、大阪営業所

  • 原子間力顕微鏡 「ステージ付AFM」 製品画像

    原子間力顕微鏡 「ステージ付AFM」

    非破壊でナノメートル以下迄の3次元測定が可能な唯一の顕微鏡

    原子間力顕微鏡「ステージ付AFM」は、大気中にて、非破壊でナノメートル以下迄の3次元測定が可能な唯一の顕微鏡です。サンプルを傷つけることなく、測定が可能です。電磁スキャナーを使用することにより、非戦形クリープや経年変化を気にせず、長期に渡り安定測定が可能になりました。大型ステージ付きで、ワークを切断することなく、サンプルをセットするだけで非破壊で測定可能です。測定モードも多種用意されており、高価な...

    メーカー・取り扱い企業: アローズエンジニアリング株式会社

  • 卓上タイプ 低電圧透過型電子顕微鏡(TEM)LVEM 5  製品画像

    卓上タイプ 低電圧透過型電子顕微鏡(TEM)LVEM 5 

    LVEM 5 は他に類を見ない「卓上タイプ」「低価格」の「透過型電子顕…

    ・BASIC TEMモード 解像力2.0nm ・オプションの追加で複数イメージモードが使用可能  TEM BOOSTモードTEM(解像力1.2nm)  SEMモード  STEMモード ・試料サイズ 標準Φ3.05mm TEMグリッド...

    メーカー・取り扱い企業: 入江株式会社

  • 原子間力顕微鏡 AFM Toscaシリーズ 製品画像

    原子間力顕微鏡 AFM Toscaシリーズ

    「誰でも」「簡単に」使える新世代のAFM!電気測定・磁気測定などの物性…

    アントンパールのAFM、Toscaシリーズは操作性と解像度を両立させた次世代のAFMです。 [操作性] プローブ交換から測定までの時間を5分に短縮し、 設定パラメータをできるだけ少なくすることで、 初心者、ライトユーザーでも安心してお使いいただけます。 [解像度] アコースティックエンクロージャを標準でご提供しており、 ナノメートル以下の解像度を持っています。 原子ステップ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アントンパール・ジャパン

  • SEM/FIB用ナノプロービング(マニピュレータ)システム【ProberSHUTTLE】 製品画像

    SEM/FIB用ナノプロービング(マニピュレータ)システム【ProberSHUTTLE】

    SEM/FIB用ナノプロービング(マニピュレータ)システム【Probe…

    室経由で試料室内に導入されます。PSのプラットホーム上には最新のマニピュレータ(3軸)が最大4台まで配置され、SEM像をライブ観察しながら自在に制御できます。ピエゾ駆動による最小動作分解能は0.25nm、プローブTip径(R)は最小30nmです。観察倍率に合わせて動作スピード(分解能)を切換えることで、低倍率〜高倍率での使用が可能です。ナノチューブやトランジスタなどナノ試料のマニピュレーションから...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アド・サイエンス

  • 金属3Dプリンタ用 粒子自動解析装置 ParticleX AM  製品画像

    金属3Dプリンタ用 粒子自動解析装置 ParticleX AM

    金属付加製造法における金属粉末の粒子の検出から、サイズ計測、元素分析ま…

    子が誤って分類判定される可能性があります。 動画像解析では、反対に大きい粒子の測定には向きますが、 小さい粒子を測定することが出来ません。 Phenom ParticleX AMは、200nmから数mmまでの金属付加製造法で 使用される粉末のあらゆるサイズ範囲に対応可能です。 Phenom ParticleX AMは、金属3Dプリンタにおける金属付加製造法 (Metal Add...

    メーカー・取り扱い企業: 極東貿易株式会社

  • 電子顕微鏡関連機器 電子線描画用パターン発生装置 SPG-724 製品画像

    電子顕微鏡関連機器 電子線描画用パターン発生装置 SPG-724

    お使いのSEMの機能を損なうことなく電子線描画が可能です。

    キャン:1mm~5mm□ ○描画画素数 →ラスタースキャン:1000²/2000²/4000²/5000²/10000²dot →ブロックスキャン:1000²dot ○最小アドレスサイズ:5nm/dat ○ドーズタイム:0.5μsec/dot~10msec/dot [制御系] ○PC(OS):Microsoft・Windows ○CAD:CANVAS [設置条件/寸法] ○電源...

    メーカー・取り扱い企業: サンユー電子株式会社

  • アクティブ防振台『IsoStage300』 製品画像

    アクティブ防振台『IsoStage300』

    Spike-Guardで測定効率とデータの質を向上!他社製AFMも利用…

    AFMやSTMは、高感度であるがゆえにナノメートル以下の振動も ノイズとして拾ってしまいます。このような振動が問題となる測定には、 アクティブ防振台が必要となります。 『IsoStage300』は、装置へ伝わる振動をピエゾセンサで検知し、 6自由度(3軸)のアクチュエータで天板を駆動して動きをキャンセルして 制震するアクティブ防振台です。 低周波の振動を1Hzから低減することが...

    メーカー・取り扱い企業: 日本カンタム・デザイン株式会社 東京本社、大阪営業所

  • 光ファイバー顕微干渉計 『操作簡単なMI-F2シリーズ』 製品画像

    光ファイバー顕微干渉計 『操作簡単なMI-F2シリーズ』

    シングルファイバーのクリープ面の精度を、簡単な操作で測定できる反射顕微…

    、端面上に生じる干渉縞  の状態によりファイバ軸に対するクリープ面の垂直度測定および平面  度測定が可能 ○干渉縞1本の変位は0.316μm ○光源 →He-Neレーザー:波長632.8nm ○干渉縞感度:0.316μm ○測定ファイバ径:φ125μm ○検出角度 →φ125μmファイバーで、干渉縞1本の変位は0.14度 ○試料ホルダー →基準反射面付V溝ホルダー・前後、俯...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社溝尻光学工業所

  • マイクロマニピュレーター(プローバー) 電子顕微鏡向け 製品画像

    マイクロマニピュレーター(プローバー) 電子顕微鏡向け

    ナノテクノロジーの研究開発をサポートします。

    MM3A-EMは電子顕微鏡(SEM/FIB)装置内に取付けされます。微動モード(nm動作分解能)と粗動モード(長距離移動用)を併せ持ち、ナノスケールの超微細動作を広い領域で行えます。 ■操作系にジョイスティック(PS2)を採用することで、誰にでも直感的な操作が出来ます。 ■...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アド・サイエンス

  • 原子間力走査型電子顕微鏡『AFSEM』 製品画像

    原子間力走査型電子顕微鏡『AFSEM』

    SEMとAFMを同時測定!お手持ちのSEMやFIBに取付けての使用が可…

    1mm (H)  ・走査範囲:(x,y)35μm × 35μm、(z)5µm ■ポジショニングステージ  ・可動範囲:x=±4mm、y=±4mm、z=25mm  ・粗分解能:x,y,z:50nm(ステップサイズ) ※詳しくはHPをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 日本カンタム・デザイン株式会社 東京本社、大阪営業所

  • 小坂研究所全自動微細形状測定機サーフコーダ ET4000シリーズ 製品画像

    小坂研究所全自動微細形状測定機サーフコーダ ET4000シリーズ

    お困りの状況 フィルムの表面測定をしたいのだが、フィルムが薄くて柔らか…

    特長 ●安定した繰り返し性能  段差測定の再現性 1σ0.5nm ●微小測定力、0.5μNまで任意に設定可能 ●自動レベリングテーブル標準搭載 ●段差解析をはじめ、表面粗さの解析も可能 ●自動測定に対応 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ジーネット

  • 形態観察/組成分析『SEM-EDS (走査型電子顕微鏡)』 製品画像

    形態観察/組成分析『SEM-EDS (走査型電子顕微鏡)』

    試料の表面形態を高倍率で観察可能な形態観察/組成分析

    して 「広い領域でのグレイン構造の顕在化」などの例があります。 【特長】 ■定量分析:測長 ■検出感度:N/A ■化学結合状態:No ■破壊測定:非破壊 ■空間分解能/ビーム径:1nm ■深さ分解能:N/A ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: ユーロフィンイーエージー株式会社

  • 金属3Dプリンタ用 粒子自動解析装置 Explorer4  製品画像

    金属3Dプリンタ用 粒子自動解析装置 Explorer4

    金属付加製造法における金属粉末の粒子の検出から、サイズ計測、元素分析、…

    場合に、 大きい粒子が誤って分類判定される可能性があります。 動画像解析では、反対に大きい粒子の測定には向きますが、 小さい粒子を測定することが出来ません。 Explorer4は、200nmから数mmまでの金属付加製造法で 使用される粉末のあらゆるサイズ範囲に対応可能です。 Explorer4は、金属3Dプリンタにおける金属付加製造法 (Metal Additive Manu...

    メーカー・取り扱い企業: 極東貿易株式会社

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