• 金型離型剤『フロロサーフ FG-5093シリーズ』 製品画像

    PR圧倒的な離型性。刷毛・スプレーで塗布が簡単。膜厚はわずか数nm、再塗布…

    『フロロサーフ FG-5093』は、特殊なフッ素樹脂を 不燃性のフッ素系溶剤に溶解させた金型離型剤です。 塗布することで、表面の成形樹脂の付着力が低減され、 複雑・精密な形状でも抜群の離型性を発揮します。 持続性に優れ、数千ショットに及ぶ連続離型の実績があるほか、 刷毛・スプレー等で再塗布すれば性能が再び復活します。 【特長】 ■型素材に反応して強力に密着し、連続離型が可...(つづきを見る

  • 高機能フェライト粉『真球状ナノフェライト粉』 製品画像

    PR磁性インク、磁性流体、各種電子部品等に!酸化しにくく保管も容易なフェラ…

    パウダーテックの『真球状ナノフェライト粉』は、 平均粒径が20~1000nm程度の真球状のナノ(超微粒)フェライト粉です。 分散性に優れており、磁性インク、磁性流体などに使用可能です。 また、各種電子部品への利用も期待されます。 ナノ~サブミクロンサイズであるにもかかわらず酸化しにくいので、 保管も容易。各種溶媒に分散した分散液タイプもあります。 【特長】 ■平均粒径20...(つづきを見る

  • [FIB]集束イオンビーム加工 製品画像カタログあり

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり(スパッタ)、特定領域に炭素(C)・タングステン(W)・プラチナ(Pt)等を成膜することが可能です。また...(つづきを見る

  • [SSRM]走査型広がり抵抗顕微鏡法 製品画像カタログあり

    ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

    して検出することになります。このような局所的な抵抗を広がり抵抗と呼びます。 ■ダイヤモンドコート探針 SSRM では、主に、ダイヤモンドコートされたシリコン製の探針を用います。この先端は数十nm 程度まで先鋭化されており、特に尖りの部分は数nmの鋭利さを持ちます。SSRMはこの微細な探針の直下のキャリアを検出するため、高分解能の計測が可能です。 ...(つづきを見る

  • [SIM]走査イオン顕微鏡法 製品画像カタログあり

    高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能

    ・高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能(Al, Cu等) ・分解能はSEM像より劣る(SIM:4nm, SEM:0.5nm)...(つづきを見る

  • [AES]オージェ電子分光法 製品画像カタログあり

    試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類・存在量の評価

    AESは、電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得る手法です。 ・固体材料の表面(深さ数nm)の定性・定量が可能 ・微小領域(数十nm~サブミクロン程度)の定性・定量が可能 ・主成分...(つづきを見る

  • [XPS]X線光電子分光法 製品画像カタログあり

    試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有…

    XPSは、X線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量・化学結合状態に関する知見を得る手法です。化学結合状態に関する知見が得られるため、別名ESCA : Electron Spectroscopy for Che...(つづきを見る

  • ウルトラミクロトーム加工 製品画像カタログあり

    ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過…

    ウルトラミクロトーム加工とは、ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製する加工法です。イオンビームを用いた加工と異なり、大気中にて広範囲の切片を作製することができます。 室温では切削が困難な生体材料や柔らかい高分子材料も、凍結固...(つづきを見る

  • Arイオンミリング加工 製品画像カタログあり

    機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ5…

    Arイオンミリング法とは、機械研磨を行った後、低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です。...(つづきを見る

  • 透過電子顕微鏡法 形態観察 / 構造解析「TEM」※事例配布中! 製品画像カタログあり

    極めて薄い数nmの膜厚の評価をしたい要望に応えるナノスケールレベルの分…

    一般的に、光学顕微鏡では見えない対象物を、より高い倍率で試料を見てみようとなった場合、SEM及びTEMということになりますが、ではどのような場合に「TEM」(透過電子顕微鏡)でみた方が良い、ということになるのでしょうか? 観察対象を電子線が透過するくらいまで薄片化し、その薄片に電子線を入射して透過してくる電子線を観察するのが透過電子顕微鏡法です。 主に結晶情報を得たい場合に使用することが多...(つづきを見る

  • 表面解析サービス 製品画像カタログあり

    表面解析サービス

    視野:5×104倍  ・ 走査型電顕により表面形状を観察しながら    元素の定性/定量分析実施。表面形状および付着元素の概要の把握に最適 ○AES分析装置  ・分析領域:深さ方向:1nm、観察視野:104倍  ・深さ方向の分解能がnmオーダーレベルであり    極表面の分析および薄膜の分析に最適 ○XPS分析装置  ・分析領域:深さ方向:数nm、観察視野:5mmφ ...(つづきを見る

  • [SAXS]X線小角散乱法 製品画像カタログあり

    ・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能

    SAXSは、X線を物質に照射して散乱したX線のうち、2θ<10°以下の低角領域に現れるものを測定し、物質の構造を評価する分析手法です。通常、数nm~数十nm程度の大きさの構造を評価できます。 ・ナノスケールでの周期構造・配向性の評価が可能 ・微粒子や材料中の空孔分布を評価することが可能 ・タンパク質など生体材料の評価が可能 ・サン...(つづきを見る

  • 分析・計測サービス 製品画像カタログあり

    基本的な化学分析や光学特性評価はもちろん、最先端の装置による真空紫外線…

    端の装置による真空紫外線領域の物性評価、複屈折測定などさまざまなご要望にお応えします。また、精密用途部品や高精度測定のための加工についてもご相談を承ります。 「透過率測定」は、120~6000 nmまで、幅広い波長範囲の計測が可能です。測定を迅速に行うことができる、ダブルビーム(~3300 nm)光学系方式の分光光度計を採用しています。 精密洗浄により有機物汚染等の影響を排除することで、特に...(つづきを見る

  • 受託分析・SEM観察受託 製品画像

    受託分析・SEM観察受託

    ルで実現した最高の測定精度 ツールテック東北社『受託分析・SEM観察受託』 ■□■特徴■□■ ■nano Hardness Tester・・・硬さ・ヤング率 ・変位分解能:0.03nm  荷重分解能:1μm ・熱ドリフトの影響を抑えるサファイヤリングシステム ・顕微鏡、AFMでの表面観察 ■Scratch Tester・・・密着力 ・10nm〜20μmの薄膜の密着力測定 ...(つづきを見る

  • EBSD分析(電子後方散乱回折法) 製品画像カタログあり

    容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

    の面方位の測定が可能 ・測定領域の配向測定が可能 ・結晶粒径観察が可能 ・双晶粒界(対応粒界)観察が可能 ・特定結晶方位の抽出が可能 ・隣接結晶粒の回転角の測定が可能 ・透過法により10nm以上のグレインを評価可能...(つづきを見る

  • [TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM) 製品画像カタログあり

    EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギ…

    れます。 多くの場合、SEMまたはTEMに付属しており、本資料ではTEMに付属のEDXについて紹介します。 ・全元素範囲(B~U)の同時分析が可能(付属装置によりBeの検出も可) ・0.1nmφ~の細い電子線プローブで測定が可能 ・ドリフト補正機能を用いることで、面分析でサブnmの積層膜を分布像として識別可能 ・面分析では任意箇所のスペクトルの抽出や線分析の表示が可能...(つづきを見る

  • [UV-Vis]紫外可視分光法 製品画像カタログあり

    UV-Visは波長ごとに分けた光を測定試料に照射し、試料を透過した光の…

    定により、試料中の目的成分の定性・定量分析や、試料の波長特性の評価が可能です。 また、透過率測定では、試料中の成分に特有の透過特性を評価できます。 ・紫外~可視~近赤外領域(波長域約190nm~約3000nm)における吸収スペクトル・透過スペクトルの取得が可能。...(つづきを見る

  • [SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法 製品画像カタログあり

    SMM は、固体金属探針(Pt 製) を用いて計測試料を走査し、その凹…

    、マイクロ波は探針から遠ざかると急激に減衰するため、反射に寄与する領域は探針の直下に限定されます。この反射に寄与する領域の大きさが空間分解能とみなせます。キャリア濃度の高い領域では、空間分解能は10nm 程度まで小さくなりますが、キャリア濃度の低い領域では、数百nmに低下します。...(つづきを見る

  • CTスキャン受託サービス 製品画像カタログあり

    産業用CTスキャナによる非破壊検査・三次元測定

    【phoenix nanotom m】 X線管タイプ ナノフォーカス・オープンチューブ 最大管電圧/最大出力 180 kV / 15 W 倍率 1.5 - 300 倍 最小検出能 200 nm 最小ボクセルサイズ 300 nm 最大試料径 240 mm 最大試料高さ 250 mm 最大試料重量 3 kg 試料稼動範囲(Y軸/Z軸) 250 mm / 400 mm...(つづきを見る

  • 受託試験『残留応力測定サービス』 製品画像カタログあり

    種々の素材・プロセスを評価でき、高信頼性のサービスを提供!

    ージの周囲を切断し、解放されたひずみから、  解放前の残留応力を評価 【X線回折法の利点・欠点】 [利点] ○素材は複相により構成されるが、各相の応力・組織を分離して評価ができる ○数nmから数mmと広範囲において、空間分解能を任意選択することができる ○表面の数nmから内部数mmまでの内部空間を、包括的に評価できる ○微小試験片から実機構造物(重量20tonまで)まで幅広いサイ...(つづきを見る

  • フィルム接着層のTOF-SIMS評価 製品画像

    1μm厚以下でも組成が確実にわかります。

    【フィルム接着層のTOF-SIMS評価】 A層とB層の間に存在する厚み100nmの接着層をTOF-SIMSで評価するには分析面積が小さすぎます。そこで、SAICASを用いて試料を斜めに切削し、接着層の分析面積を20μmまで拡大した後、TOF-SIMSを用いて測定を行いました。 ...(つづきを見る

  • 背負って歩くだけで3Dスキャン!ウェアラブルレーザースキャナ 製品画像カタログあり

    【計測時間が三脚式3Dスキャナの約1/10】簡単・迅速・便利!軽量のレ…

    ■初期化時間:30秒 ■バッテリ稼働:3時間 ■スキャニングレート:70万点/秒 ■垂直視野:41.33°(+10.67°- 30.67°) ■レーザークラス:クラス1 ■波長:903nm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ★【製造業登録にて資料請求頂いた方にはお得な情報をお届け致します!】...(つづきを見る

  • 絶対PL量子収率測定 製品画像カタログあり

    絶対PL量子収率測定は、材料の発光効率を求める手法です。

    測定は、材料に吸収された光(エネルギー)に対し、どのくらいの効率で発光が得られるか、つまり材料の発光効率を求める手法です。 ・分光器付きの励起光源を用いているため、様々な波長(約350~800nm)での励起が可能 ■MSTの特徴 ・装置は雰囲気制御下で管理されているため、薄膜サンプルについては酸素の影響を受けずに測定することが可能...(つづきを見る

  • 化合物半導体系超格子サンプルにおける深さ分解能測定 事例集 製品画像カタログあり

    化合物半導体系超格子サンプルを使用した深さ分解能測定の結果を掲載!

    ンテクノセンターの 深さ分解能測定の結果を掲載している事例集です。 Q-pole SIMS(アルバックファイ:ADEPT-1010)によって、 Al0.28Ga0.72As/GaAsを50nmずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した 化合物半導体サンプルを試料として用いて、深さ分解を求めた結果を 掲載しています。 【掲載概要】 ■深さ分解能測定の結果 ※詳しくはカタロ...(つづきを見る

  • [SIMS]二次イオン質量分析法 製品画像カタログあり

    二次イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含ま…

    ・高感度(ppb~ppm) ・HからUまでの全元素の分析が可能 ・検出濃度範囲が広い(主成分元素から極微量不純物まで) ・標準試料を用いて定量分析が可能 ・深さ方向分析が可能 ・数~数十nmの深さ方向分解能での評価が可能 ・数μm角までの微小領域の測定が可能 ・同位体分析が可能 ・破壊分析...(つづきを見る

  • 白色干渉計測法 製品画像カタログあり

    非接触・非破壊で3次元測定可能

    三次元測定が可能な装置です。 ・高輝度白色光源を用いた表面形状測定装置 ・非接触・非破壊で三次元測定が可能 ・広い視野(50μm×70μm ~ 5mm× 7mm) ・高垂直分解能(0.1nm) ・広いダイナミックレンジ(<150μm)...(つづきを見る

  • [UPS]紫外光電子分光法 製品画像カタログあり

    試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に

    UPSは、紫外光照射により放出される電子の運動エネルギー分布を測定し、試料極表面(数nm程度以下)の価電子状態に関する知見を得る手法です。その一方で、高いエネルギー分解能を利用して各種金属材料の仕事関数評価にも用いられています。 XPS分析と併せて測定が可能なため、試料表面組成の...(つづきを見る

  • 測定・分析サービス 「表面分析」 製品画像カタログあり

    表面コーティングの状態評価・観察が可能!最表面の分析承ります

    大和サービスの「表面分析」では、表面コーティングの状態評価や酸化状態の観察が可能です。 リチウムからウランまでの定性・定量および結合状態を評価します。 当社では、お客様の「お困り」に迅速且つ丁寧に、そしてご納得していただける内容でお答えしてまいります。 【分析内容】 ○ナノメートルオーダーでの表面分析 ○アルゴンエッチングによる深さ方向の測定 詳しくはお問い合わせ、またはカタロ...(つづきを見る

  • FE-EPMAによる受託サービス|JTL 製品画像カタログあり

    電界放出型電子プローブマイクロアナライザ(FE-EPMA)による微少領…

    行います。 EDXによる元素分析よりも定量精度が良く(±数100ppm~数1,000ppm)、汎用型のEPMAよりも分析の空間分解能が良い(サブミクロンオーダー)ことが特徴です。 厚みが数100nmの薄膜の断面分析や、接合部分の微量元素の拡散状態の分析などにご利用いただけます。...(つづきを見る

  • 《 特殊表面処理 》 メッキでは無い!極薄膜や複合膜 等 製品画像カタログあり

    「極薄膜」「複合積層」「薬液に依存しない無機物」を表面処理加工できます…

    【出来る事】  「極薄膜」  最薄 数nm~から可能  「複合積層」 複数物質を積層可能(最大50層程度)  「非浸食」  母材表面を非浸食で表面処理可能   その他、メッキ処理などでは得られない特殊条件で加工致します 【検討依...(つづきを見る

  • ミクロトームによる受託サービス|JTL 製品画像カタログあり

    切削技術で機械研磨より高精度な試料調整を実施します。

    対応が可能な切削法を用います。 ミクロトームによる切削試料調整は機械研磨と比べると精密に加工ができる反面、観察目的により様々な技術が必要になります。JTLでは豊富な経験・知識を基に、目的に合わせた最適な試料調整サービスをご提供致します。 LEICA製 EM-UC7 ●倍率:9.6~77倍 ●観察角度:5°~25° ●カット速度:0.05~100mm/s ●断面厚さ:0~15,000nmつづきを見る

  • [AFM]原子間力顕微鏡法 製品画像カタログあり

    ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

    ■使用する探針 シリコン単結晶ウエハを加工して作られた鋭い探針で試料表面を走査します。先端径は10nm未満にまで加工されています。 ■タッピングモード タッピングモードは、探針を約300kHzの高周波で強制振動させ、試料表面を走査します。 走査の過程で、探針が試料表面に近づくと探針の振動振...(つづきを見る

  • 光学応用機器開発 オプトメカトロ機器の受託開発 製品画像カタログあり

    オプトメカトロ機器の受託開発例。

    ○アグリチェッカ・クロマトチェッカ →試験片を装置にセットするだけで試験片の呈色の度合いを濃度分析や分光分析等の手法で判定することができる。 ○高出力半導体レーザ照射ユニット →波長808nm50W のファイバーレーザを用いプラスティックの熱融着による接合を行う。 ○パーティクルセンサ →気体(煙)及び液体(飲料水、薬液、オイル等)に含まれるパーティクルの検出。 ○バイオ計測用光源...(つづきを見る

  • 依頼分析 「NanoSIMS50」 製品画像カタログあり

    高分解能二次イオン質量分析装置

    【特徴】 ○50nm空間分解能で元素イメージング分析と同位体イメージング分析が行える ○高感度分析ができる ○高質量分解能で分析ができる ○5元素同時分析ができる ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダ...(つづきを見る

  • ブレーキ性能試験 製品画像

    ブレーキダイナモ試験機による、ブレーキ性能評価にも対応

    ATESTEOが取扱う、大規模試験設備による、ブレーキ性能試験サービスのご紹介です。...【試験設備】 ■駆動モータ 380kW ■制動トルク(最大) 30kNm ■引き摺りトルク 7800Nm ■回転速度(最大)1200rpm ■ダスト、水、海水等環境制 御可能 ■音響、振動測定可能 ■クラック原因解析 □その他機能や詳細については、お問合わせ下さい。...(つづきを見る

  • 【測定事例】 アルミナフィラーの分布測定 【TM3】 製品画像カタログあり

    数十㎛サイズのアルミナフィラーを分布測定!! フィラー単体での熱伝導性…

    ィラーを利用した素材あるいはセラミックスの原料としての粒子や最終製品であるセラミックスのさらなる性能向上が期待できます。当社のサーマルマイクロスコープTM3を使うことによって、薄膜の熱伝導率(100nm~)、微小領域の熱浸透率(3μm~)の測定が可能です。...(つづきを見る

  • PET(ポリエチレンテレフタレート)フィルムの深さ方向分析 製品画像

    深さ方向の分析が低損傷で行えます

    の深さ方向分析を行ったところ、Arイオンスパッタではダメージの影響でスパッタ直後にO系官能基に由来するピークがほとんど検出されていません。それに対し、C60イオンスパッタでは、試料表面から深さ100nmスパッタ部分まで、スペクトルに大きな変化がなく、C60イオンスパッタは試料の損傷の少ない手法であることが判ります。...(つづきを見る

  • 変速機の音響試験 製品画像

    回転加振テストベンチを備えた半無響室にて 変速機の歯打ち音やギア鳴り…

    大規模の試験設備による、変速機音響試験サービスのご紹介です...【計測対象】 ■変速機の歯打ち 音 (ラトルノイズ)、ギア鳴り音(ギアワインノイズ) 【試験設備】 ■低慣性モータによるエンジントルク脈動加振 ■入力回転速度 500-4000rpm ■入力トルク 0-490Nm ■加振周波数 15-200Hz ■カットオフ周波数 250Hz ■ベンチマーク試験可能 □その...(つづきを見る

  • ウェアラブルレーザースキャナー『HERON』 製品画像カタログあり

    簡単・迅速・便利!軽量のレーザースキャナーを背負って歩くだけで自動計測…

    度:~2cm ■初期化時間:30秒 ■バッテリ稼働:3時間 ■スキャニングレート:70万点/秒 ■垂直視野:41.33°(+10.67°- 30.67°) ■レーザークラス:クラス1 ■波長:903nm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ★【製造業登録にて資料請求頂いた方にはお得な情報をお届け致します!】...(つづきを見る

  • 測量サービスカタログ 製品画像カタログあり

    UAV測量、深浅測量、GNSS測量などの各種の測量サービスを掲載

    ビス紹介カタログです。 クラストップレベルのINSを搭載した「UAV搭載型超小型Lidarシステム」 をはじめ、特殊技術を要する各種測量を掲載しています。 【掲載内容】 ■UAS(Unmanned Aircraft Systems) ■UAV計測による事例 ■深浅測量 ■写真計測 ■測量一般 ほか 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...(つづきを見る

  • 省エネ事業 製品画像カタログあり

    見えないエアーの見える化!データを取得し分析が可能となり省エネに貢献!

    有限会社動力舎は、赤外線カメラのサーモグラフィ診断技術を中心に 電気設備・モーター等の重要設備点検を主な事業として創業し、 昨今においては各社の要望から『省エネ事業』も展開しています。 工場内での重要設備となるコンプレッサは、動力、搬送、清掃、塗装、ブロー用等 多岐に渡り使用されており、電力使用量は工場全体の15%を占めています。 当社では、コンプレッサ1台ごとに測定器、タンク・...(つづきを見る

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