偏光ビームスプリッター ワイヤグリッドタイプ・キューブ型

PRカスタマイズ可能なワイヤグリッド偏光ビームスプリッター、入射角依存の少…

WGF(TM)を使用した、ワイヤグリッド偏光ビームスプリッターキューブタイプ（WGF(TM) PBS)です。 すでにハーフミラーをお使いの場合、WGF(TM) PBSに替えることで輝度向上が期待できます。 縮小系でも色や偏光度が部分的に変わることはなく、画像検査の精度を向上させます。 入射角依存が少なく、安定した光学性能を維持します。 ※WGF(TM)は旭化成の製品です。...規格品　WP...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社オプティカルソリューションズ

蓄熱燃焼式脱臭装置『Deopo（デオポ）』

PR装置全体をコンパクト化し組立た状態で運搬する為設置工事を簡略化 ！生…

『Deopo（デオポ）』は、従来の蓄熱燃焼式脱臭装置「RTO」の3塔式と回転式の 優れている要素を併せ持ち、ワンユニットにパッケージ化した装置です。 VOCの処理効率は98%以上、温度効率は95%以上の性能を持ち、従来品に比べ、 パージ部分の体積を最小にすることによりコンパクト化することが出来ました。 また、工場で組立した状態で運搬可能なサイズなので、標準装置の場合は 現地の荷降...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サーマルプラント

【お任せください！】測定機器を送るだけでトルク測定可能！

組合せ自由なトルク測定システムー受託測定も可能ー

トルク測定の有償データ測定サービス受託測定で研究開発・品質管理をサポート。 試作品の測定や保守部品・抜取管理製品のトルク測定を行います。 ご用命の際は、お問い合わせください。 【主な測定（抜粋）】 ＜精密減速機＞ ■無負荷ランニングトルク（分解能0.001Nm） ■起動トルク測定（分解能0.001Nm） ■角度伝達誤差（分解能1秒） ■ロストモーション（分解能1秒） ■剛性（...

メーカー・取り扱い企業： セルテクノス株式会社

［FIB］集束イオンビーム加工

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり（スパッタ）、特定領域に炭素（C）・タングステン（W）・プラチナ（Pt）等を成膜することが可能です。また...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【SEMによる断面観察】コネクタめっき

真実を探求！通信が悪くなった場合はコネクタ端子の不具合を疑ってみてもい…

ポリッシャー（通称CP ）を使用 ■スジ箇所のめっき状態をSEMにて観察 ■結果 　・スジなし：表面Auめっきの厚さが均一（約350um） 　・スジA：表面Auめっきの厚さが不均一（約490nm/約350nm） 　・スジB：表面Auめっきの厚さが不均一（約130nm/約650nm） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

液晶ディスプレイの分光放射輝度・色度評価

コントラスト比や色温度などを測定可能！光学特性の変化を定量的に評価

まざまな光学特性を測定することが 可能です。 【測定器概要】 ■測定項目：分光放射、輝度、色度 ■測定範囲：0.0005cd/m2～5,000,000cd/m2 ■波長測定範囲：380nm～780nm ■波長分解能：1nm(有効波長幅[半値幅]：5nm） ■設置方法・治具：縦置き、平置きなど、形状に応じて対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

表面解析サービス

表面解析サービス

視野：5×104倍 　・ 走査型電顕により表面形状を観察しながら 　 　元素の定性/定量分析実施。表面形状および付着元素の概要の把握に最適 ○AES分析装置 　・分析領域：深さ方向：1nm、観察視野：104倍 　・深さ方向の分解能がnmオーダーレベルであり 　 　極表面の分析および薄膜の分析に最適 ○XPS分析装置 　・分析領域：深さ方向：数nm、観察視野：5mmφ ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＩＨＩ検査計測

［SAXS］X線小角散乱法

・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能

SAXSは、X線を物質に照射して散乱したX線のうち、2θ＜10°以下の低角領域に現れるものを測定し、物質の構造を評価する分析手法です。通常、数nm～数十nm程度の大きさの構造を評価できます。 ・ナノスケールでの周期構造・配向性の評価が可能 ・微粒子や材料中の空孔分布を評価することが可能 ・タンパク質など生体材料の評価が可能 ・サン...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［AES］オージェ電子分光法

試料表面（数nm程度の深さ）の元素の種類・存在量の評価

AESは、電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面（数nm程度の深さ）に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得る手法です。 ・固体材料の表面（深さ数nm）の定性・定量が可能 ・微小領域（数十nm～サブミクロン程度）の定性・定量が可能 ・主成分...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

材料の光学測定受託サービス

材料の分光透過・反射率の測定、透過・反射の散乱特性など、スタンダードな…

「ゴニオフォトメータによる散乱測定」 ●測定波長範囲 ・400nm - 800nm（ハロゲン光源を使用） ・バンドパスフィルターによる分光 ●推奨サンプル形状とサイズ ・平板 ・60mm角かそれより小さい場合は直径43mmの円よりも大きいこと ・厚みは最...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Camerium

光学測定受託サービス

材料の分光透過・反射率の測定、透過・反射の散乱特性、発光体の配光特性な…

「ゴニオフォトメータによる散乱測定」 ●測定波長範囲 ・400nm - 800nm（ハロゲン光源を使用） ・バンドパスフィルターによる分光 ●推奨サンプル形状とサイズ ・平板 ・60mm角かそれより小さい場合は直径43mmの円よりも大きいこと ・厚みは最...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ベストメディア

技術情報誌 201905-01 高空間分解能の結晶方位解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 TEMベースの結晶方位解析システム“ASTAR”を用いると、SEMをベースにしたEBSDよりも高い空間分解能が実現可能である（各種EBSD法の空間分解能が数十 nm程度に対してASTARを用いたACOM-TEM法では2～5 nm）。また、識別できる結晶構造が多いことも特長である。通常のTEM解析では取得困難な結晶方位マップ、結晶相マップおよび粒径分布などを得る...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

［SIM］走査イオン顕微鏡法

高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能

・高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能（Al, Cu等) ・分解能はSEM像より劣る（SIM：4nm, SEM：0.5nm）...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

EBSD分析（電子後方散乱回折法）

容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

の面方位の測定が可能 ・測定領域の配向測定が可能 ・結晶粒径観察が可能 ・双晶粒界（対応粒界）観察が可能 ・特定結晶方位の抽出が可能 ・隣接結晶粒の回転角の測定が可能 ・透過法により10nm以上のグレインを評価可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［XPS］X線光電子分光法

試料表面（数nm程度の深さ）の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有…

XPSは、Ｘ線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面（数nm程度の深さ）に存在する元素の種類・存在量・化学結合状態に関する知見を得る手法です。化学結合状態に関する知見が得られるため、別名ESCA : Electron Spectroscopy for Che...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

受託分析・ＳＥＭ観察受託

受託分析・ＳＥＭ観察受託

ルで実現した最高の測定精度 ツールテック東北社『受託分析・SEM観察受託』 ■□■特徴■□■ ■nano　Hardness　Tester・・・硬さ・ヤング率 ・変位分解能：0.03nm　　荷重分解能：1μm ・熱ドリフトの影響を抑えるサファイヤリングシステム ・顕微鏡、AFMでの表面観察 ■Scratch　Tester・・・密着力 ・10nm〜20μmの薄膜の密着力測定 ...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社ツール・テック東北

技術情報誌 202001-01 in-situ STEM

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

リや磁気センサーなどが注目を集めている。これらのデバイスには、高い磁気抵抗効果が得られることからMTJ（magnetic tunnel junction）構造が広く用いられている。このMTJ構造は数nm程度の薄い積層膜から成り、原子レベルでの膜厚やラフネスおよび結晶性が特性を左右する。また、アニール温度によって磁気特性が変化することから、本稿ではin-situ TEMを用いて、加熱に伴う結晶性や元...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター