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レンズ用表面形状測定機 MarSurf LD Aspheric
PR非球面レンズの両面を一度に測定できる表面形状測定機。高精度&高速測定で…
特許取得の独自構造によりレンズの表・裏を一度に測定出来る 表面形状測定機『MarSurf LD 130/260 Aspheric 2D/3D』 2024年4月 OPIE'24(株)マブチ エス アンド ティー ブースに実機を展示! レンズの表裏を変える必要がなく、セッティングの手間を削減できるほか、 高精度・高速測定が行えるため、測定作業の短縮に貢献。 また、0.5mNという低測定圧での測定が可...
メーカー・取り扱い企業: マール・ジャパン株式会社
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PRカスタマイズ可能なワイヤグリッド偏光ビームスプリッター、入射角依存の少…
WGF(TM)を使用した、ワイヤグリッド偏光ビームスプリッターキューブタイプ(WGF(TM) PBS)です。 すでにハーフミラーをお使いの場合、WGF(TM) PBSに替えることで輝度向上が期待できます。 縮小系でも色や偏光度が部分的に変わることはなく、画像検査の精度を向上させます。 入射角依存が少なく、安定した光学性能を維持します。 ※WGF(TM)は旭化成の製品です。...規格品 WP...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社オプティカルソリューションズ
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CoaXPress I/Fを採用!400nm~1700nmの検出波長帯…
当製品は、SWIR画像を取得できるCoaXPressカメラです。 400nm~1700nmの検出波長帯で高精度な検査が可能。CoaXPress I/Fを採用し、 1つのセンサで可視+SWIR画像を取得できます。 電子基板検査、食品検査、農産物検査、薬粧・錠剤検査、識...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス
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400~1700nmの波長帯を検出し、可視+SWIR画像を取得可能です…
400nm~1700nmの検出波長帯により、見えなかったワークの検査が可能なCoaXPressカメラが新登場! カメラ1台で可視+SWIR画像を取得できます。 【SWIR帯域下での検査のメリット】 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス
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高画素(5M・12M・21M)SWIR帯域の撮影や各種検査用途に応用可…
画素数:1296×1032 レンズマウント:Cマウント 外形寸法:65×65×95mm その他特徴:外部トリガ、ROI、欠陥画素補正、シェーディング補正、ゲイン、ガンマ設定、検出波長帯:400nm~1700nm、PoCXP非対応 【SWIRカメラ 通常品】 製品名:VCC-SXCXP1SW 外形寸法:65×65×65mm その他特徴:PoCXP対応、その他機能は概ね画素ずらし版と...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス
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400~1700nmの波長帯を検出し、可視+SWIR画像を取得可能です…
400nm~1700nmの検出波長帯により、見えなかったワークの検査が可能なCoaXPressカメラが新登場! カメラ1台で可視+SWIR画像を取得できます。 【SWIR帯域下での検査のメリット】 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス
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