• 蓄熱燃焼式脱臭装置『Deopo(デオポ)』 製品画像

    蓄熱燃焼式脱臭装置『Deopo(デオポ)』

    PR装置全体をコンパクト化し組立た状態で運搬する為設置工事を簡略化 !生…

    『Deopo(デオポ)』は、従来の蓄熱燃焼式脱臭装置「RTO」の3塔式と回転式の 優れている要素を併せ持ち、ワンユニットにパッケージ化した装置です。 VOCの処理効率は98%以上、温度効率は95%以上の性能を持ち、従来品に比べ、 パージ部分の体積を最小にすることによりコンパクト化することが出来ました。 また、工場で組立した状態で運搬可能なサイズなので、標準装置の場合は 現地の荷降...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サーマルプラント

  • 長寿命水殺菌ランプ 製品画像

    長寿命水殺菌ランプ

    PR電源のON/OFFに強い水殺菌ランプ。15,000hの長寿命。

    冷陰極の長寿命水殺菌ランプ。 冷陰極ランプは点滅に強く、電源のON/OFFによる寿命の減少がほとんどありません。 CCFLランプのコンパクトな特徴を活かし、石英ガラス管内にランプとインバータを内蔵。1つのアダプターに対し省スペースで複数のランプを連結し点灯することが可能です。 波長:254nm 寿命:15,000h 詳しくはお問い合わせください。...冷陰極蛍光ランプ(CCFL)...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社納屋商事

  • 三次元光屈折率・膜厚測定装置 プリズムカプラ SPA-3DR 製品画像

    三次元光屈折率・膜厚測定装置 プリズムカプラ SPA-3DR

    試料のX軸・軸・Z軸の光屈折率を回転しながら測定!FPD用フィルムやS…

    の光屈折率を回転しながら測定します。測定対象は透明フィルム、透明フィルム上の薄膜、石英、液体などがあり、FPD用フィルム、SiO2等の3次元複屈折率測定などの用途に適しています。搭載レーザーは405nm-1550nmの範囲で、4種まで搭載可能、複屈折率測定は、X-Y軸間を、0.05°の精度で回転し、任意の位置で測定します。また、多層薄膜で、2層の光屈折率、膜厚を仮定値無しで個別に同時測定も可能です...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社マツボー

  • 不透明体の非接触厚み測定 レーザフォトサーマルセンサ 導入事例有 製品画像

    不透明体の非接触厚み測定 レーザフォトサーマルセンサ 導入事例有

    不透明体の厚み高精度測定なら、Enovasenseの レーザフォトサー…

    e社のセンサは、レーザフォトサーマル技術を使用した 高性能なセンサで、非接触で不透明体の厚みを測定できます。 ■特長  ・非接触で、不透明体の厚み測定が可能。   破壊試験が不要に。  ・最小10nm~最大1mmまでの広範囲な測定範囲。  ・1~3%以下の高精度測定が可能。   精度が不足している方にお勧め。  ・母材に依らず様々な材料の組み合わせで測定可能。 ■アプリケーション  自動車業界...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • 厚み測定-光学センサ『CHRocodile 2LR ver2』 製品画像

    厚み測定-光学センサ『CHRocodile 2LR ver2』

    非接触の光学厚み測定。高精度が求められる半導体ウエハの厚み測定でも適用…

       豊富なプローブラインナップで、厚みは薄膜(数32um)~厚膜(3900um)までカバー。(高精度な測定帯域は、16~1900um。線形性0.35um)  ■高分解能(サブミクロン 最小1nm)  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意  ■半導体業界で豊富な実績 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • CHRocodile 2 SX 光学式広範囲厚み測定センサ 製品画像

    CHRocodile 2 SX 光学式広範囲厚み測定センサ

    光学式センサで、Si0.5~200umの広範囲の厚み測定。5kHzの高…

    富なプローブラインナップで、 厚みは、光学長で薄膜(数2um)~厚膜(1000um)        Siで0.5~200umまで対応。  ■高分解能(サブミクロン 最小3nm @ 光学長)  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意  ■半導体業界で豊富な実績 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • 自動薄膜計測装置『DLC Analyzer』 製品画像

    自動薄膜計測装置『DLC Analyzer』

    薄膜の膜厚、光学定数などの物質特性を精度良く測定!自動薄膜計測装置

    『DLC Analyzer』は、プッシュボタン感覚で、1nm~15μmの膜厚範囲の 単層膜から多層膜までのサンプル測定が可能です。 波長450nm-1000nmをカバーしたデータ採取により、薄膜の膜厚、 光学定数(屈折率、消衰係数)などの物質特性を...

    メーカー・取り扱い企業: ナノテック株式会社

  • EHL(弾性流体潤滑)領域の油膜厚さ測定【EHD油膜厚さ試験機】 製品画像

    EHL(弾性流体潤滑)領域の油膜厚さ測定【EHD油膜厚さ試験機】

    弾性流体潤滑状態における油膜厚さを、光干渉法の原理を用いて測定します。…

    さ試験機は、英国PCS Instruments社が提供する卓上型全自動油膜厚さ試験機で、既に実績のあるEHD1の後継機種にあたります。 【特徴】 従来の光干渉法よりも薄膜(最小油膜厚さ2nm)を測定することが可能です。 オプションの3D-SLIMを使用することで、接触部全体の油膜厚さ分布を解析することが可能です。 【主な評価内容】 油膜厚さ ストライベック曲線 (摩擦係...

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    メーカー・取り扱い企業: 島貿易株式会社

  • 【初回測定無料キャンペーン】分光エリプソメーター Auto SE 製品画像

    【初回測定無料キャンペーン】分光エリプソメーター Auto SE

    Auto SEによる膜厚・光学定数測定 初回3サンプルまで無料で実施!…

    を非破壊・非接触で行います。 各種製法により成膜された水素を含有するDLCから、水素フリーDLCまで瞬時に非破壊測定を行い、膜厚・光学定数(屈折率・消衰係数)の算出ができます。 簡単な操作で、1nm~15μmの膜厚範囲の単層膜から多層膜までのサンプル測定が可能です。 XYZ電動ステージによる面分析や、100μm以下の微小エリアの測定ができます。 イメージングシステムにより、サンプル表面状態...

    メーカー・取り扱い企業: ナノテック株式会社

  • 膜厚分布/屈折率分布 計測エリプソメータ『MEシリーズ』 製品画像

    膜厚分布/屈折率分布 計測エリプソメータ『MEシリーズ』

    微小領域測定、透明基板対応など、様々な膜厚分布測定に対応!高速マッピン…

    『MEシリーズ』は、1nm以下の膜厚変化も高速・高密度に面測定が可能な 膜厚分布/屈折率分布 計測エリプソメータです。 φ8“ウェハまで全面測定可能。微小領域測定、透明基板対応など、様々な 膜厚分布測定に対応します...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトニックラティス

  • 膜厚測定システム『FilmSmart』 製品画像

    膜厚測定システム『FilmSmart』

    分光器、光源やステージなどオプション豊富で、小型・軽量・安価なシステム

    イバ集光系、パソコン、ソフトウェア一体型で、 面倒な作業・設定は一切必要なく、簡単に表面・薄膜測定できます。 【特長】 ■測定範囲:200A~400,000A ■波長範囲:380-850nm ■屈折率n・減衰係数k、透過・反射・色測定も可能 ■小型・軽量付属ソフトで簡単測定 ■自動XYステージ:2次元、3次元描画(オプション) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社たきぶん

  • レーザーエンドポイントモニター『SLI 670』 製品画像

    レーザーエンドポイントモニター『SLI 670』

    透過膜のエッチングや成膜のIn-situでの膜厚モニターに!スポットサ…

    『SLI 670』は、波長が670/980nmのプラズマ装置用 エンドポイントモニターです。 プラズマ装置の上部の窓からレーザービームを照射し サンプルからの反射光を測定し膜厚を測定します。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談く...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ハイテック・システムズ

  • 3Dレーザースキャナー VC nano 3D-Zシリーズ 製品画像

    3Dレーザースキャナー VC nano 3D-Zシリーズ

    小型~大型計測まで多彩なラインアップ、青色レーザー光源で外光の影響を排…

    波長450 nmの高輝度青色レーザーモジュールを搭載し、外来光の影響を最大限取り除きます。レーザー三角測距には内部SoC ZynqモジュールのFPGAを使用しており、デュアルコアARMプロセッサーをアプリケーション...

    メーカー・取り扱い企業: スマートビジョン株式会社 本社

  • 【DL可/XPS】XPSによる撥水膜の分析 製品画像

    【DL可/XPS】XPSによる撥水膜の分析

    X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られる…

    ●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面汚染・変色 の分析、表面処理の評価に有効です。 ●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

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