レンズ用表面形状測定機 MarSurf LD Aspheric

PR非球面レンズの両面を一度に測定できる表面形状測定機。高精度＆高速測定で…

特許取得の独自構造によりレンズの表・裏を一度に測定出来る 表面形状測定機『MarSurf LD 130/260 Aspheric 2D/3D』 2024年4月 OPIE'24(株)マブチ エス アンド ティー ブースに実機を展示！ レンズの表裏を変える必要がなく、セッティングの手間を削減できるほか、 高精度・高速測定が行えるため、測定作業の短縮に貢献。 また、0.5mNという低測定圧での測定が可...

メーカー・取り扱い企業： マール・ジャパン株式会社

無機防汚コーティング剤『エクセルピュア』による気化冷却効果

PR親水性による水膜形成で気化冷却を促進。空調室外機や屋根の散水冷却などに…

『エクセルピュア』は、アクリル、ポリカーボネート、PET、 ガラスなどの基材表面に超親水被膜を形成するコーティング剤です。 親水性により、被膜表面に付着した水分が薄い水膜を形成し、 水分の蒸発が促進されることで気化冷却効果が生まれ、 施工部分の冷却効率が改善されます。 ★PDFダウンロード”より、本製品のカタログのほか 　散水後の表面温度観察結果をまとめた資料をスグにご覧いただ...

メーカー・取り扱い企業： 中央自動車工業株式会社 営業開発部　営業推進グループ

レポート　Intel 22nm Haswell eDRAM

Intel(R) eDRAM の詳細にわたる構造解析レポートです

「Intel(R) 22nm Haswell eDRAM」は、IntelGT3 graphicssing unit (GPU) に搭載されている Haswell G82494 プロセッサーにあたる埋込型（エンペッド）DRAM ...

メーカー・取り扱い企業： テックインサイツジャパン株式会社（TechInsights）

メモリー構造解析レポート 「SK Hynix 16 nm」

フラッシュメモリーの 詳細なメモリー構造解析レポート

本レポートは、Apple iPhone 6 Plusスマートフォンに採用されているSK Hynix H2JTDG8UD1BMS (16 GB、16nm ノード MLC NAND フラッシュメモリー) の詳細構造解析です。 本デバイスは 3 層メタル構造プロセス (第 1、2 金属層: W、第 3 金属層:Al)、ポリサイド製制御ゲート、ポリシリ...

メーカー・取り扱い企業： テックインサイツジャパン株式会社（TechInsights）

レポート　20 nm HKMG Qualcomm

Gobi MDM9235モデムのロジック詳細構造解析

本レポートは、20nmノードQualcomm MDM9235モデムの詳細構造解析 (LDSA) です。 MDM9235は第4世代のQualcomm Gobi 9x35 シリーズモデムで、20nm CMOS プロセスを使...

メーカー・取り扱い企業： テックインサイツジャパン株式会社（TechInsights）

Samsung21nm TLC NANDの波形解析レポート

デバイス設計・開発の方へ！サムスン社のNANDフラッシュの分析レポート…

集積回路・電子システム技術・特許解析大手のセミコンダクターインサイツジャパンより、Samsung社の64 Gbit 21 nmTLC NANDフラッシュの波形解析レポートのご紹介です。この波形解析は、デバイスがいくつかの異なる標準的な動作モードで動作している時の、重要な各信号の信号動作を説明するものです。解析した部品は、S...

メーカー・取り扱い企業： テックインサイツジャパン株式会社（TechInsights）

レポート　サムソンメモリーセルのプロセス比較レポート

20nm class DRAMと0nm class 2Gb DDR3D…

「Samsung 20nm class 3GB(6x4Gbit) LPDDR3」の構造解析を再構成したものです。 主な目的は20nm class DRAMとそれの一世代前の30nm class 2Gb DDR3 DRAM...

メーカー・取り扱い企業： テックインサイツジャパン株式会社（TechInsights）

材料の光学測定受託サービス

材料の分光透過・反射率の測定、透過・反射の散乱特性など、スタンダードな…

「ゴニオフォトメータによる散乱測定」 ●測定波長範囲 ・400nm - 800nm（ハロゲン光源を使用） ・バンドパスフィルターによる分光 ●推奨サンプル形状とサイズ ・平板 ・60mm角かそれより小さい場合は直径43mmの円よりも大きいこと ・厚みは最...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Camerium

レポート　Oracle SPARC T5マルチコアプロセッサー

TSMC 28nm HPプロセスで造られた構造解析レポートです

「Oracle SPARC T5マルチコアプロセッサー」は、TSMC 28nm HPプロセスで造られた構造解析レポートです。 T5は3.6GHZクロックで動作する16コアSoCです。13メタル層(12 Cu, 1 Al)、high-K metal gate(HKMG)のTS...

メーカー・取り扱い企業： テックインサイツジャパン株式会社（TechInsights）

光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』

【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできま…

99％減光（反射光はビームダンパーにより遮蔽）、およびフィルタポートへの減光フィルタ挿入併用方式（最大2枚まで同時挿入可能） ■測定対応波長域 　・M-Scope type HS/BL:400nm-450nm 　・M-Scope type HS/NIR:850nm・940nm 　※上記以外の計測波長対応に関してはご相談ください ■偏光依存性補償：ビームサンプラー内蔵減衰ミラー2段直交配...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

LED可視光シミュレータ『Iris』

対象セルを均一に照射！電力消費も大幅に抑えられるLED可視光シミュレー…

【仕様(照射光源部)】 ■使用LED ・400～800nm：28種類のLED ・400～1100nm：34種類のLED ■分光特性：AM1.5Gに近似した分光特性±10%以内(Class-A) 　　　　　　(但し放射照度 100mW/cm2に於いて)...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社セルシステム

Sun Sensor試験用シミュレータ　LS3

サンセンサ試験用シミュレータ、全太陽センサー光学デバイスと互換性保証

太陽光を正確にシミュレートします。 主な技術特性: - タイプ：TVAC用OGSE - ビームサイズ：直径25mm、焦点距離18 - ビーム均一性：> 90％ - 光スペクトル：450-1100 nm - 光のコリメーション：< 10º - 光学ヘッドの温度範囲：-50ºから100º C（真空なし）、-40ºから80º C（真空あり） - 電源：220VAC（50 Hz）75W max - 通信...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社理経

【材料・不良解析】共焦点（コンフォーカル）顕微鏡

高い解像力をもつ測定用の顕微鏡！表面粗さ測定、形状測定/比較で利用さ…

マイクロスコープ「OPTELICS HYBRID」は、 凹凸のある試料面に対して、視野内全面にピントの合った高解像画像を 得ることができます。 非破壊、非接触の3次元形状計測が可能。405nmレーザー光線による高倍率・ 高分解能観察で超微細構造も鮮明に可視化します。 【測定範囲】 ■幅測定 ・最小測定単位 0.001μm、測定再現性 3σ＜10nm ■高さ測定 ・スケー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ミツバ環境ソリューション

レポート　ValleyView Atom Z3740 Soc

Intel Atom 23740 プロセッサーの詳細な構造解析レポート…

「Intel(R) 22nm ValleyView Atom(TM) Z3740 Soc」は、Intel Atom 23740 プロセッサーの詳細な構造解析レポートです。 24740はwindows と Android タブ...

メーカー・取り扱い企業： テックインサイツジャパン株式会社（TechInsights）

EELS分析手法による膜質評価

元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です！

用するパラメータ：エネルギー損失電子 ■エネルギー分解能：1eV以下 ■長所：状態分析軽元素分析（Li,B） ■短所：広範囲の元素を同時分析が困難 ■測定時間：5s ■TEM試料厚：約50nm以下 <EDS> ■分析に使用するパラメータ：特性X線 ■エネルギー分解能：100eV前後 ■長所：全元素についての分析 ■短所：近接するエネルギーを持つ元素のピーク分離が困難 ■測定時...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

極短パルス解析システム

アライメントが容易！メサフォトニクス社製の極短パルス解析システム

極短パルスレーザーのパルス幅測定器を専門とするメサフォトニクス社製の 『極短パルス解析システム』です。 パルス幅12fs～数10fs、波長450nm～2μmのレンジで使用可能。 アライメントが容易で使い勝手の良いシステムとして、レーザーメーカー含め 数多く使用されています。 【特長】 ■パルス幅：12fs～数10fs ■波長：...

メーカー・取り扱い企業： オーテックス株式会社

【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価

AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…

原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層（~5nm程度）の元素分析や深さ方向の濃度勾配を調査することが可能です。 この2つの分析装置を使い「めっき済みのコネクタ接点用ピン表面」の加熱影響調査を行いました。 ぜひPDF資料をご一読ください...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

レーザパワーメータ『パワーモニタ（PM）』

低反射、高吸収で高い信頼性のハイパワーレーザ測定用パワーメータ

計 ■ロバスト設計：製造現場など厳しい使用環境に耐えます ■測定精度：+/-２%以下、再現性：+/-1%以下 【仕様】 ■開口径：48mm or 100mm ■波長：350～1,100nm or 10,600nm ■入力パワー：300W～8kW or 1kW～25kW ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： PRIMES Japan株式会社

LiDAR Target Simulator(LTS)

レベル3以上の高度な自動運転の開発向けに必須なシミュレータ

【仕様】 ■入力電源：AC100-240V、50Hz/60Hz ■対応波長：905nm（Option：1550nmまで対応可） ■オブジェクト設定距離：10m～66m ＠10cm step（Option：100mまで対応可） ■オブジェクト設定精度：±1cm以内 ■オブジェクト...

メーカー・取り扱い企業： マイクロウェーブ ファクトリー株式会社

非接触ビームモニタリングシステム『BeamWatch』

高出力ディスク&ファイバーレーザー測定！非接触ビームプロファイラーのご…

『BeamWatch（ビームウォッチ）』は、非接触ビームモニタリングシステムです。 kWクラスの高出力ディスク・ファイバーレーザー（波長帯域980-1080nm）の ビームプロファイル計測に対応。レイリー散乱の信号を計測し、レーザー光は 機構や光の特性に影響を与えることなく直接システム内部を通過し計測します。 システムは稼動部品が必要ない構成とな...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社オフィールジャパン

超微⼩硬度計による材料評価

経年の品質管理にも役⽴つ！⾦属・⾼分⼦・セラミックス等の材料の超微⼩硬…

ぼみの押し込み深さを直読し、 硬さを求めます。回復挙動における特性値を求めることも可能です。 【装置概要】 ■試験⼒レンジ0.4mN～1000mN 精度±0.02mN ■押し込みレンジ1nm（0.01μm）～700μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

レポート　アプリケーションプロセッサのロジック詳細構造解析

Mediatek MT6592 オクタコア(8コア)の詳細構造解析です…

ード セルラーモデム、デュアルバンド801.11n Wi-Fiなどをサポートしています。 MT6592は、8層メタル(7 Cu、1 Al)構造、high-kメタルゲート(HKMG)、ゲート長 28nmのTSMCによるHPM CMOSプロセスを使用して製造されています。 【特徴】 ○トランジスタのチャネルの結晶方向 <110> ○酸化ハフニウム(HfO2)素材のゲート絶縁膜 ○デュアル...

メーカー・取り扱い企業： テックインサイツジャパン株式会社（TechInsights）

レーザー式カンチレバー流速計 2D-LCA

熱線流速計に変わる全く新しい形の流速計が新登場!

2-100m/s 応答速度 : 150kHzまで 空間分解能 : 100 – 400μm　 寸法,重量 : 22cm×φ3cm , 180g レーザー出力 : 5mW 波長 : 670nm レーザークラス : Class IIIb インターフェース : USB...

メーカー・取り扱い企業： 西華デジタルイメージ株式会社

ビームプロファイラ『BeamWatch AM』

すべての測定がリアルタイム！起動直後に発生するフォーカルシフトの計測が…

【仕様】 ■波長：1060-1080nm ■最小集光スポット径：50µm ■パワーレンジ：50-1000 W ■Minimum Power Densities：1.5MW/CM2 ■ビームプロファイリング：ISO11146準拠 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社オフィールジャパン

競合他社の製品情報まるわかり！【製品解析サービス】

「コンペチタの新製品情報、技術力情報が欲しい」等のご要求はございません…

アが担当していませんか？ ぜひ当社へお任せください。優れた解析技術でお答えします。 【半導体製品】 ■シリコン半導体、化合物半導体 ■パワーデバイス、高周波デバイス、集積回路(～14nm)、 　センシングデバイス、MEMS ■各種モジュール 　(高周波モジュール、パワーモジュール、センサーモジュール) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エルテック

【材料・不良解析】回転式レオメーター

測定温度範囲は-130～500℃！熱的特性、機械特性、レオロジー特性を…

ミツバ環境ソリューションでは、『回転式レオメーター』を用いた 材料・不良解析を行っております。 TAインスツルメントジャパン（株）製の「ARES-G2」は、プラスチック、 ゴム等高分子材料の熱的特性、機械特性、レオロジー特性を測定可能。 ねじり型加振法を採用しており、周波数依存性、せん断速度依存性、 温度依存性、粘度といった測定例があります。 【ARES-G2　仕様】 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ミツバ環境ソリューション

レポート　MDM9235モデムのロジック詳細構造解析

20 nm HKMG Qualcomm Gobiの詳細構造解析です。

本レポートは、20 nm ノード QualcommMDM9235 モデムの詳細構造解析 (LDSA) です。 MDM9235 は第 4 世代の Qualcomm Gobi 9x35 シリーズモデムで、20 nm CMOS...

メーカー・取り扱い企業： テックインサイツジャパン株式会社（TechInsights）

集光用ビームプロファイラ『フォーカスモニタ FM+』

FMシリーズ最新鋭機

換するだけでさまざまな波長で測定可能 ■イーサネット採用でデータ転送速度向上 ■データ管理ビットの増加、機能向上 ■新ソフトウェア採用、操作性向上 【仕様】 ■波長：400～1,600nm or 9～12μm ■入力パワー：30W～25kW ■ビーム径：100～3,000μm ■最大パワー密度： NIRレーザ：10MW/㎠ CO2レーザ：30MW/㎠...

メーカー・取り扱い企業： PRIMES Japan株式会社