レンズ用表面形状測定機 MarSurf LD Aspheric

PR非球面レンズの両面を一度に測定できる表面形状測定機。高精度＆高速測定で…

特許取得の独自構造によりレンズの表・裏を一度に測定出来る 表面形状測定機『MarSurf LD 130/260 Aspheric 2D/3D』 2024年4月 OPIE'24(株)マブチ エス アンド ティー ブースに実機を展示！ レンズの表裏を変える必要がなく、セッティングの手間を削減できるほか、 高精度・高速測定が行えるため、測定作業の短縮に貢献。 また、0.5mNという低測定圧での測定が可...

メーカー・取り扱い企業： マール・ジャパン株式会社

蓄熱燃焼式脱臭装置『Deopo（デオポ）』

PR装置全体をコンパクト化し組立た状態で運搬する為設置工事を簡略化 ！生…

『Deopo（デオポ）』は、従来の蓄熱燃焼式脱臭装置「RTO」の3塔式と回転式の 優れている要素を併せ持ち、ワンユニットにパッケージ化した装置です。 VOCの処理効率は98%以上、温度効率は95%以上の性能を持ち、従来品に比べ、 パージ部分の体積を最小にすることによりコンパクト化することが出来ました。 また、工場で組立した状態で運搬可能なサイズなので、標準装置の場合は 現地の荷降...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サーマルプラント

【お任せください！】測定機器を送るだけでトルク測定可能！

組合せ自由なトルク測定システムー受託測定も可能ー

トルク測定の有償データ測定サービス受託測定で研究開発・品質管理をサポート。 試作品の測定や保守部品・抜取管理製品のトルク測定を行います。 ご用命の際は、お問い合わせください。 【主な測定（抜粋）】 ＜精密減速機＞ ■無負荷ランニングトルク（分解能0.001Nm） ■起動トルク測定（分解能0.001Nm） ■角度伝達誤差（分解能1秒） ■ロストモーション（分解能1秒） ■剛性（...

メーカー・取り扱い企業： セルテクノス株式会社

［FIB］集束イオンビーム加工

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり（スパッタ）、特定領域に炭素（C）・タングステン（W）・プラチナ（Pt）等を成膜することが可能です。また...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【SEMによる断面観察】コネクタめっき

真実を探求！通信が悪くなった場合はコネクタ端子の不具合を疑ってみてもい…

ポリッシャー（通称CP ）を使用 ■スジ箇所のめっき状態をSEMにて観察 ■結果 　・スジなし：表面Auめっきの厚さが均一（約350um） 　・スジA：表面Auめっきの厚さが不均一（約490nm/約350nm） 　・スジB：表面Auめっきの厚さが不均一（約130nm/約650nm） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

液晶ディスプレイの分光放射輝度・色度評価

コントラスト比や色温度などを測定可能！光学特性の変化を定量的に評価

まざまな光学特性を測定することが 可能です。 【測定器概要】 ■測定項目：分光放射、輝度、色度 ■測定範囲：0.0005cd/m2～5,000,000cd/m2 ■波長測定範囲：380nm～780nm ■波長分解能：1nm(有効波長幅[半値幅]：5nm） ■設置方法・治具：縦置き、平置きなど、形状に応じて対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

表面解析サービス

表面解析サービス

視野：5×104倍 　・ 走査型電顕により表面形状を観察しながら 　 　元素の定性/定量分析実施。表面形状および付着元素の概要の把握に最適 ○AES分析装置 　・分析領域：深さ方向：1nm、観察視野：104倍 　・深さ方向の分解能がnmオーダーレベルであり 　 　極表面の分析および薄膜の分析に最適 ○XPS分析装置 　・分析領域：深さ方向：数nm、観察視野：5mmφ ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＩＨＩ検査計測

［SAXS］X線小角散乱法

・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能

SAXSは、X線を物質に照射して散乱したX線のうち、2θ＜10°以下の低角領域に現れるものを測定し、物質の構造を評価する分析手法です。通常、数nm～数十nm程度の大きさの構造を評価できます。 ・ナノスケールでの周期構造・配向性の評価が可能 ・微粒子や材料中の空孔分布を評価することが可能 ・タンパク質など生体材料の評価が可能 ・サン...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［AES］オージェ電子分光法

試料表面（数nm程度の深さ）の元素の種類・存在量の評価

AESは、電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面（数nm程度の深さ）に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得る手法です。 ・固体材料の表面（深さ数nm）の定性・定量が可能 ・微小領域（数十nm～サブミクロン程度）の定性・定量が可能 ・主成分...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

材料の光学測定受託サービス

材料の分光透過・反射率の測定、透過・反射の散乱特性など、スタンダードな…

「ゴニオフォトメータによる散乱測定」 ●測定波長範囲 ・400nm - 800nm（ハロゲン光源を使用） ・バンドパスフィルターによる分光 ●推奨サンプル形状とサイズ ・平板 ・60mm角かそれより小さい場合は直径43mmの円よりも大きいこと ・厚みは最...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Camerium

光学測定受託サービス

材料の分光透過・反射率の測定、透過・反射の散乱特性、発光体の配光特性な…

「ゴニオフォトメータによる散乱測定」 ●測定波長範囲 ・400nm - 800nm（ハロゲン光源を使用） ・バンドパスフィルターによる分光 ●推奨サンプル形状とサイズ ・平板 ・60mm角かそれより小さい場合は直径43mmの円よりも大きいこと ・厚みは最...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ベストメディア

技術情報誌 201905-01 高空間分解能の結晶方位解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 TEMベースの結晶方位解析システム“ASTAR”を用いると、SEMをベースにしたEBSDよりも高い空間分解能が実現可能である（各種EBSD法の空間分解能が数十 nm程度に対してASTARを用いたACOM-TEM法では2～5 nm）。また、識別できる結晶構造が多いことも特長である。通常のTEM解析では取得困難な結晶方位マップ、結晶相マップおよび粒径分布などを得る...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

［SIM］走査イオン顕微鏡法

高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能

・高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能（Al, Cu等) ・分解能はSEM像より劣る（SIM：4nm, SEM：0.5nm）...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

EBSD分析（電子後方散乱回折法）

容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

の面方位の測定が可能 ・測定領域の配向測定が可能 ・結晶粒径観察が可能 ・双晶粒界（対応粒界）観察が可能 ・特定結晶方位の抽出が可能 ・隣接結晶粒の回転角の測定が可能 ・透過法により10nm以上のグレインを評価可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［XPS］X線光電子分光法

試料表面（数nm程度の深さ）の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有…

XPSは、Ｘ線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面（数nm程度の深さ）に存在する元素の種類・存在量・化学結合状態に関する知見を得る手法です。化学結合状態に関する知見が得られるため、別名ESCA : Electron Spectroscopy for Che...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

受託分析・ＳＥＭ観察受託

受託分析・ＳＥＭ観察受託

ルで実現した最高の測定精度 ツールテック東北社『受託分析・SEM観察受託』 ■□■特徴■□■ ■nano　Hardness　Tester・・・硬さ・ヤング率 ・変位分解能：0.03nm　　荷重分解能：1μm ・熱ドリフトの影響を抑えるサファイヤリングシステム ・顕微鏡、AFMでの表面観察 ■Scratch　Tester・・・密着力 ・10nm〜20μmの薄膜の密着力測定 ...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社ツール・テック東北

技術情報誌 202001-01 in-situ STEM

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

リや磁気センサーなどが注目を集めている。これらのデバイスには、高い磁気抵抗効果が得られることからMTJ（magnetic tunnel junction）構造が広く用いられている。このMTJ構造は数nm程度の薄い積層膜から成り、原子レベルでの膜厚やラフネスおよび結晶性が特性を左右する。また、アニール温度によって磁気特性が変化することから、本稿ではin-situ TEMを用いて、加熱に伴う結晶性や元...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）

EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギ…

れます。 多くの場合、SEMまたはTEMに付属しており、本資料ではTEMに付属のEDXについて紹介します。 ・全元素範囲（B～U）の同時分析が可能（付属装置によりBeの検出も可） ・0.1nmφ～の細い電子線プローブで測定が可能 ・ドリフト補正機能を用いることで、面分析でサブnmの積層膜を分布像として識別可能 ・面分析では任意箇所のスペクトルの抽出や線分析の表示が可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［UV-Vis］紫外可視分光法

UV-Visは波長ごとに分けた光を測定試料に照射し、試料を透過した光の…

定により、試料中の目的成分の定性・定量分析や、試料の波長特性の評価が可能です。 また、透過率測定では、試料中の成分に特有の透過特性を評価できます。 ・紫外～可視～近赤外領域（波長域約190nm～約3000nm）における吸収スペクトル・透過スペクトルの取得が可能。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【受託分析】レーザー顕微鏡（高精度3D測定＆カラー観察）

試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です！

当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 408nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。 レーザー顕微鏡では、試料表面の凹凸形状の3D測定...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

Arイオンミリング加工

機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ5…

Arイオンミリング法とは、機械研磨を行った後、低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

BRDF測定受託サービス

BRDF測定承ります！

●測定波長範囲 ・400nm - 800nm（ハロゲン光源を使用） ・バンドパスフィルターによる分光 ●推奨サンプル形状とサイズ ・平板 ・60mm角かそれより小さい場合は直径43mmの円よりも大きいこと ・厚みは最大5mm程...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Camerium

［XRR］X線反射率法

XRR：X-ray Reflectivity

測定で得られた反射X線強度プロファイルをシミュレーション結果と比較し、シミュレーションパラメータを最適化することによって、試料の膜厚・密度を決定する手法です。 ・膜厚の評価が可能 （2～300nm 程度） ・密度の評価が可能 ・表面粗さの評価が可能（Rms = 5nm 以下） ・非破壊で分析が可能 ・約10×20mm の広い範囲の平均情報を得ることが可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 202101-04 陽電子によるバリア膜や分離膜評価

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 革新的なバリア性や分離性などの気体輸送特性（ガスや蒸気の透過性、拡散性、収着性など）を持つ材料の開発ではサブナノ空隙（1 nm未満の空隙）構造の評価が重要になる。そのため、分子レベルの空隙を評価する技術が求められ、陽電子消滅寿命法は強力なツールとなる。本稿では、polyethylene terephthalateおよびシリ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

受託試験『残留応力測定サービス』

種々の素材・プロセスを評価でき、高信頼性のサービスを提供！

ージの周囲を切断し、解放されたひずみから、 　解放前の残留応力を評価 【X線回折法の利点・欠点】 [利点] ○素材は複相により構成されるが、各相の応力・組織を分離して評価ができる ○数nmから数mmと広範囲において、空間分解能を任意選択することができる ○表面の数nmから内部数mmまでの内部空間を、包括的に評価できる ○微小試験片から実機構造物(重量20tonまで)まで幅広いサイ...

メーカー・取り扱い企業： 橋本鉄工株式会社 臨海第一工場

［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法

ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

して検出することになります。このような局所的な抵抗を広がり抵抗と呼びます。 ■ダイヤモンドコート探針 SSRM では、主に、ダイヤモンドコートされたシリコン製の探針を用います。この先端は数十nm 程度まで先鋭化されており、特に尖りの部分は数nmの鋭利さを持ちます。SSRMはこの微細な探針の直下のキャリアを検出するため、高分解能の計測が可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 201903-01 最先端SIMS分析装置

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 最先端の二次イオン質量分析（SIMS）装置であるNanoSIMS 50Lは、プローブ径約50 nmのイオンビームと、透過率の高い質量分析系の併用により、従来のSIMSに比べて約2桁高い空間分解能でイメージング測定を行うことが可能である。本稿では、NanoSIMS 50Lの装置の特徴と分析事例を紹...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

［XRD］X線回折法

XRDは、回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。

・結晶性物質の同定が可能 ・結晶子サイズの評価 (数nm～100nm)が可能 ・結晶化度の評価が可能 ・配向性の評価が可能 ・歪み量・応力の評価が可能 ・非破壊で分析が可能 保有装置の特徴 ・室温～1100℃までの加熱分析が可能 ・ビー...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ウルトラミクロトーム加工

ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過…

ウルトラミクロトーム加工とは、ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製する加工法です。イオンビームを用いた加工と異なり、大気中にて広範囲の切片を作製することができます。 室温では切削が困難な生体材料や柔らかい高分子材料も、凍結固...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 202102-04 新規RBS装置の導入

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

る軽元素の高感度測定 ４．重元素の質量分解能向上 ５．まとめ 【図表】 図1～図8 RGB各画素で取得したRBSスペクトル 各元素の質量分解能と感度（理論計算値） SiON膜(100 nm)/Si基板：RBSスペクトル、NRAスペクトル IGZO膜(300 nm)/Si基板：RBSスペクトル IGZO膜のGa/Zn比の比較...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

X線光電子分光分析によるステンレス鋼の不動態皮膜分析

不動態皮膜の厚さや濃度を調べることが可能！当社のX線光電子分光分析をご…

Cr濃度の高い層が除去され、 その結果、耐食性が低下して錆が発生したと考えられます。 【概要】 ■錆が発⽣したステンレス部品について分析 ■表⾯に不動態⽪膜と呼ばれるクロムの酸化膜 （数nm 程度）があり、 　保護の役割をしている為、ステンレス鋼は耐⾷性に優れる ■耐⾷性の優劣に深く関わっている不動態皮膜の厚さや濃度を 　X 線光電⼦分光分析(XPS)で調べる ※詳しくはP...

メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社

NANOSIGHT（ナノサイト） エクソソーム受託測定サービス

精製済エクソソーム測定の受託を行っています！NANOSIGHT（ナノサ…

が測定し レポートをご提供する『エクソソーム受託測定サービス』を行っています。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【概要】 ■計測可能範囲 　・サイズ：30～1,000nm（サンプルにより前後） 　・個数濃度：10^6～10^9 particles/mL程度（高濃度の場合、当社で希釈） ■使用機材 　・NanoSight（ナノサイト）NS300 ■測定手法 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

ウルトラファインバブル/UFB/ナノバブル受託測定サービス

ウルトラファインバブル測定の受託を行っています！NANOSIGHT（ナ…

当社までサンプルをご送付（またはご持参）いただいた試料を、技術者が測定し レポートをご提供致します。 【概要】 ■計測可能範囲 （分散媒体は原則水） 　・サイズ：50～1,000nm（サンプルにより前後） 　・個数濃度：10^6～10^9 particles/mL程度（高濃度の場合、当社で希釈） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

動的光散乱法による無機粒子の粒径測定

粒径、粒子径分布を求める！水媒体中のシリカ粒子、アルミナ粒子の粒径測定…

【シリカ測定結果・考察】 ■強酸性側に等電点があると考えられる ■pH3～10の領域では、粒子の凝集が起こらない ■50nm以下の粒径を維持 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

散乱型近接場光赤外顕微鏡「neaSCOPE」受託測定サービス

空間分解能 最高10nmのスケールで、AFM像、赤外光イメージング、赤…

日本カンタム・デザインでは、散乱型近接場赤外顕微鏡「neaSCOPE」を 用いた受託測定サービスを行っております。 【装置仕様】 ■測定可能波長：650cm^-1～2200mcm^-1 ■ナノFT-IRスペクトル測定 ■ブロードバンドレーザーによる白色光赤外光反射イメージング ■ハイパースペクトル赤外光反射/吸収イメージング ■ラインスキャン赤外吸収イメージング ※詳細情報...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

超促進耐候性試験

紫外線・温度・湿度・雨等の劣化因子を再現！太陽の100倍以上の紫外線出…

【メタリングウェザーメーターの特長】 ■光源にメタルハライドランプを使用 ■促進性が非常に高い ■太陽光に含まれていない295nm以下の紫外線はフィルターによってカット ■熱源となる赤外線はほとんど含まれておらず、過剰な熱による影響は小さい ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社

メルトフローレイト（MFR）測定評価サービス

化学分析・物理解析から信頼性試験までお任せください！測定評価サービスの…

事例を ご紹介しておりますので、ぜひPDFダウンロードよりご覧ください。 【評価事例】 ■PP：ポリプロピレン ■8585：85℃85％ × 336時間 ■UV：紫外線照射 253.7nm × 336時間 ■射出時間：10分（3分から換算） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

高解像度3Dナノフォーカス　nanotom

形状のぼやけが極めて少ない高解像度画像を提供するナノフォーカス

【特長】 ●　開放管180kV/20W高出力ナノフォーカスX線管 ●　200nmまでの検出能力 ●　高精度3D計測システムパーケージ ●　温度安定化されたDXRフラットパネルによる、高画質、高ダイナミックレンジ画像4倍の高速スキャンが可能 ●　除振機能付き花崗岩ベースのマ...

メーカー・取り扱い企業： 日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社　 （旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社　＆　GEエナジー・ジャパン株式会社

絶対PL量子収率測定

絶対PL量子収率測定は、材料の発光効率を求める手法です。

測定は、材料に吸収された光（エネルギー）に対し、どのくらいの効率で発光が得られるか、つまり材料の発光効率を求める手法です。 ・分光器付きの励起光源を用いているため、様々な波長（約350～800nm）での励起が可能 ■MSTの特徴 ・装置は雰囲気制御下で管理されているため、薄膜サンプルについては酸素の影響を受けずに測定することが可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［AFM］原子間力顕微鏡法

ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

■使用する探針 シリコン単結晶ウエハを加工して作られた鋭い探針で試料表面を走査します。先端径は10nm未満にまで加工されています。 ■タッピングモード タッピングモードは、探針を約300kHzの高周波で強制振動させ、試料表面を走査します。 走査の過程で、探針が試料表面に近づくと探針の振動振...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［UPS］紫外光電子分光法

試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に

UPSは、紫外光照射により放出される電子の運動エネルギー分布を測定し、試料極表面（数nm程度以下）の価電子状態に関する知見を得る手法です。その一方で、高いエネルギー分解能を利用して各種金属材料の仕事関数評価にも用いられています。 XPS分析と併せて測定が可能なため、試料表面組成の...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

空気砲による衝突試験

工作物・飛石・雹などの高速飛来物の衝突における、製品の安全性評価が可能

当社では、空気砲による衝突試験を行っております。 飛行機・車両などの高速移動体への衝突や、工作物・飛石・ 雹などの高速飛来物の衝突における、製品の安全性評価が可能。 また、鋼球、石、木片、樹脂(硬質、軟質)、氷などの飛翔体に対応します。 【空気砲の能力】 ■飛翔体寸法：φ10～φ120mm ■最大能力：6000Nm ■衝突速度：最大500km/h(衝突物の形状と重量による...

メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社

FE-EPMAによる受託サービス｜JTL

電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA）による微少領…

行います。 EDXによる元素分析よりも定量精度が良く（±数100ppm～数1,000ppm）、汎用型のEPMAよりも分析の空間分解能が良い（サブミクロンオーダー）ことが特徴です。 厚みが数100nmの薄膜の断面分析や、接合部分の微量元素の拡散状態の分析などにご利用いただけます。...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

《 特殊表面処理 》　メッキでは無い！極薄膜や複合膜　等

「極薄膜」「複合積層」「薬液に依存しない無機物」を表面処理加工できます…

【出来る事】 　「極薄膜」　　最薄　数nm～から可能 　「複合積層」　複数物質を積層可能（最大50層程度） 　「非浸食」　　母材表面を非浸食で表面処理可能 　　その他、メッキ処理などでは得られない特殊条件で加工致します 【検討依...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大正光学

ウェアラブルレーザースキャナー HERON ★レンタル対応

簡単・迅速・便利！軽量のレーザースキャナーを背負って歩くだけで自動計測…

■初期化時間：30秒 ■バッテリ稼働：3時間 ■スキャニングレート：70万点/秒 ■垂直視野：41.33°（+10.67°- 30.67°） ■レーザークラス：クラス1 ■波長：903nm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ★【製造業登録にて資料請求頂いた方にはお得な情報をお届け致します！】...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＳＧＳ

［SIMS］二次イオン質量分析法

二次イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含ま…

・高感度（ppb～ppm） ・HからUまでの全元素の分析が可能 ・検出濃度範囲が広い（主成分元素から極微量不純物まで） ・標準試料を用いて定量分析が可能 ・深さ方向分析が可能 ・数～数十nmの深さ方向分解能での評価が可能 ・数μm角までの微小領域の測定が可能 ・同位体分析が可能 ・破壊分析...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

白色干渉計測法

非接触・非破壊で3次元測定可能

三次元測定が可能な装置です。 ・高輝度白色光源を用いた表面形状測定装置 ・非接触・非破壊で三次元測定が可能 ・広い視野（50μm×70μm ～ 5mm× 7mm） ・高垂直分解能（0.1nm） ・広いダイナミックレンジ（＜150μm）...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST