• 赤外照明『Infraredシリーズ 1200&1450nm』 製品画像

    PR可視光では難しい、ワーク内の異物や水分を検出。品質検査の高度化に。形状…

    『Infraredシリーズ 1200&1450nm』は、ワーク内の異物を検出したり、 水分を可視化できる赤外線照明です。 従来品に比べ波長が長い砲弾型LEDを使用し、InGaAsカメラとの併用により、 従来品や可視光では難しかったワークにも対応。 波長は1200nm、1450nmの2種類をご用意。 標準でリング形状1種とバー形状3種をラインアップしており、 その他の形状へのセミ...(つづきを見る

  • GaN EPIウエハ検査装置 LODAS GaN 製品画像

    PR【デモ機貸出可】レーザー共焦点、散乱反射光、透過光検査はGaNウエハの…

    「LODAS(TM)- GaN」は、窒化物半導体エピタキシャルウェハ(GaN EPIウエハ)用の検査装置です。 反射光、透過光検査は内部欠陥、裏面欠陥も検出可能。 【特長】 ◎レーザー共焦点光検査は裏面ラッピング面の外乱光影響を受けずに最大限に検査能力を発揮。 ◎反射光、透過光検査は内部欠陥、裏面欠陥も検出可能。 ◎欠陥分析を助ける4種類のReview画像。 ◎「AI Classi...(つづきを見る

  • 分光計測 反射率波長特性測定装置 製品画像

    光学試料への高電圧印加による反射率特性を測定できます。

    微小スポットにおける反射率の波長特性を測定する装置です。...【特徴】 ○光学素子の微小スポット(φ500μm)の反射率波長特性を測定可能です。 ○400nm~800nmの広い波長領域を測定できます。 ○±1kV~±10kVまでの高電圧を試料に印加できます。 ○印加高電圧は、1kHz~20kHzの周波数変調が可能です。 ○微弱な反射光量の0.1%の高電圧印加信号による光振幅を検知できます...(つづきを見る

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