• 抵抗率判別・PN判定器【RC-2/PN】 製品画像カタログあり

    抵抗率判別・PN判定器【RC-2/PN

    【抵抗レンジを判別・導電型(P/N)を判定可能な簡易式シリコンウエハチェッカー】 ◆ウエハを測定器一体式の試料台に載せるだけの簡単な操作 ◆測定方法:抵抗率は渦電流法センサ、PN判定は光起電力法(特許2018748) ◆太陽電池用のシリコンウエハや再生ウエハ等の選別に最適 ◆区分けする抵抗率レンジは、ユーザー指定のレンジ分け・複数のレンジ設定での製作が可能(詳細はお問合せください...(つづきを見る

  • PN判定器 【PN-50α】  製品画像カタログあり

    PN判定器 【PN-50α】

    ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたします。 その他製品ございますので、詳細はお問い合わせ下さい。...【センサーに近づけるだけで瞬時に判定可能な非接触PN判定器】 ◆判定方...(つづきを見る

  • PN判定器 【PN-1S】  製品画像カタログあり

    PN判定器 【PN-1S】

    ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたします。 その他製品ございますので、詳細はお問い合わせ下さい。...【スピーディーな測定が可能な接触型PN判定器】 ◆判定方式:整流電力方...(つづきを見る

  • PN判定器 【PN-12α】 製品画像カタログあり

    PN判定器 【PN-12α】

    ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたします。 その他製品ございますので、詳細はお問い合わせ下さい。...【広範囲な抵抗レンジで測定可能な接触型PN判定器】 ◆判定方式:熱起電...(つづきを見る

  • 抵抗率・厚み・PN測定器 【EC-80TPN】 製品画像カタログあり

    抵抗率・厚さ・PN測定のオールインワン非接触抵抗測定器

    ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたします。 その他製品ございますので、詳細はお問い合わせ下さい。...【抵抗率・厚さ・PN測定のオールインワン非接触抵抗測定器】 ◆抵抗率・...(つづきを見る

  • PN判定器 製品画像

    シリコンウェハー/ブロックのPN判定が瞬時に行えます

    シリコンウェハー/ブロックのPN判定が瞬時に行えます。 非接触/非破壊にてP/N判定ができる持ち運びにも便利なペンタイプの判定器です。...PN判定器 PN-100は、半導体材料を非接触/非破壊にて P/Nタイプ判定いたします。 シリコン端材、スクラップを含むシリコンインゴット原料のPN判別用途に最適です。...(つづきを見る

  • Junction Photo Voltage(JPV) 製品画像

    JPV法により、非接触で、PNジャンクションのジャンクション・リーク、…

    JPV法(ジャンクション・フォト・ボルテッジ法)を用いているため、高速で再現性の良いマッピング測定が可能です。 【特徴】 - 非接触、非破壊測定 - プローブの調整は不要 - 測定のための特別な試料準備は不必要 - 表面に酸化膜やコーティングが存在しても測定可能 - 空間分解能の高い分布測定(マッピング)が高速で可能 - 再現性の高い測定が可能 - セミラボ社のベンチトッププラ...(つづきを見る

  • デルタミリボルト計測装置 製品画像

    デルタミリボルト計測装置

    LEDの信頼性を評価する方法として非常に短時間の正確な大電流駆動によるΔmV計測評価があります。本装置は、LEDチップのPN接合品質・結晶品質評価、LEDチップのボンデイング品質評価、更に高温動作時における各種性能測定が可能になるため、高温連続試験に置き換わる手法として実施例が増えつつあります。...LEDの信頼性を評価する方法として非常に短時間の正確な大電流駆動によるΔmV計測評価があります。本...(つづきを見る

  • ライフタイム測定装置 製品画像

    u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケッ…

    オプションにて様々な電気的測定のマッピング測定が可能です。 (拡散長、鉄濃度、比抵抗、シート抵抗、LBIC、反射率、IQE、PN判定)...ライフタイム測定装置 WT-2000は、u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります。 シリコン・ブロック/ウェハーのライフタイム測定をし、マッピング表示が可能です。 ※ シリコンウェハー/ブロック...(つづきを見る

  • 非接触ウエハソーティングシステム【NC-6800】 製品画像カタログあり

    非接触ウエハソーティングシステム【NC-6800】

    ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたします。 その他製品ございますので、詳細はお問い合わせ下さい。...【ベルト搬送による非接触ウエハソーティングシステム】 ◆抵抗・厚さ・P...(つづきを見る

  • P/N判定、比抵抗測定仕分機(CJT-01型) 製品画像

    Siウェーハの厚さ測定、表裏面P/N判定

    φ4”、5”、6”、8”インチSiウェーハの厚さ測定、表裏面P/N判定、比抵抗測定を行いその結果によりあらかじめレシピにて設定したカセットに仕分けを行います。...・測定前にセンサは校正用ゲージを使用し、自動で校正を行います。 ・測定位置、測定点数はお客様のご要望に応じます。...(つづきを見る

  • 非接触ウエハソーティングシステム【NC-3000R】 製品画像カタログあり

    非接触ウエハソーティングシステム【NC-3000R】

    ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたします。 その他製品ございますので、詳細はお問い合わせ下さい。...【ロボット搬送による非接触ウエハソーティングシステム】 ◆シリコンウエ...(つづきを見る

  • ウェーハハンドリング装置(CHI-02型) 製品画像

    シリコンウェーハのP/N判定・外観検査を行うためにハンドリングする装置…

    ウェーハを真空吸着方式で取り扱います。 従来、作業者が手で行っていたウェーハのハンドリング作業を、この装置を使用することで、品質の向上を図ることができます。...・反転機能付きのツインアームロボットを使用することにより、効率よくウェーハの搬送が行えます。 ・P/N判定は接触式にて行います。 ・検査ステージでは ウェーハの吸着 前後の傾斜(片側最大約45°) 360°回転 ユニット全体...(つづきを見る

  • 抵抗率/シート抵抗測定器【WS-8800】 製品画像カタログあり

    抵抗率/シート抵抗測定器【WS-8800】

    ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたします。 その他製品ございますので、詳細はお問い合わせ下さい。...【4探針測定器にロボットとアライメントユニットを搭載した全自動システム】 ...(つづきを見る

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