• 粉砕機「ワンダークラッシャーWC-3」[岩石・生薬・穀物・木片] 製品画像

    粉砕機「ワンダークラッシャーWC-3」[岩石・生薬・穀物・木片]

    PRとうもろこし、水晶を20秒で粉砕!岩石、生薬、薬草、錠剤、穀物、種子、…

    ワンダークラッシャーWC-3は1200ワットのパワーで28000回転の超高速モーターを搭載した高性能粉砕機です。 【特徴】 ◆≪WB-1との違い≫ 粉砕容器部と本体モーター部が分離式になっています。 ◆≪頑丈≫ 容器は3mm厚の頑丈なステンレス製で、錆に強く硬い鉱石類にも対応できます。 ◆≪軽量≫ 容器ホルダーはポリカーボネイト樹脂製です。 ◆≪連続運転可能≫ 本体モーター部...

    メーカー・取り扱い企業: 大阪ケミカル株式会社

  • PN判定器 【PN-12α】 製品画像

    PN判定器 【PN-12α】

    PN判定器 【PN-12α】

    ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたします。 その他製品ございますので、詳細はお問い合わせ下さい。...【広範囲な抵抗レンジで測定可能な接触型PN判定器】 ◆判定方式:熱起電...

    メーカー・取り扱い企業: ナプソン株式会社

  • PN判定器 製品画像

    PN判定器

    シリコンウェハー/ブロックのPN判定が瞬時に行えます

    シリコンウェハー/ブロックのPN判定が瞬時に行えます。 非接触/非破壊にてP/N判定ができる持ち運びにも便利なペンタイプの判定器です。...PN判定器 PN-100は、半導体材料を非接触/非破壊にて P/Nタイプ判定いたします。 シリコン端材、スクラップを含むシリコンインゴット原料のPN判別用途に最適です。...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 難燃PP(ポリプロピレン)樹脂プレート RPPN PN303 製品画像

    難燃PP(ポリプロピレン)樹脂プレート RPPN PN303

    UL規格94V-0認定の難燃PP樹脂プレート

    ・UL規格94V-0の難燃認定品。 ・荷重たわみ温度が一般PP(125℃)より約15℃高く、耐熱性に優れる。 ・曲げ弾性率が一般PP(1500MPa)の約3倍の剛性で設計・加工にメリット。 ・一般品と同等の加工性。 ...製品厚み 5、10ミリ厚 製品サイズ 1212×2424ミリ 製品色相 ホワイト ...

    メーカー・取り扱い企業: タキロンシーアイグループ タキロンシーアイ株式会社

  • 拡がり抵抗測定装置『SRP-170/2100』 製品画像

    拡がり抵抗測定装置『SRP-170/2100』

    PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定!オプションにより表面抵抗測…

    当社が取り扱う、拡がり抵抗測定装置『SRP-170/2100』をご紹介します。 斜め研磨したSiウェハーを深さ方向に2探針をコンタクトさせ、 そのプローブ間の拡がり抵抗値からSiの深さ方向の比抵抗プロファイル、 EPI層の厚み、PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定。 「SRP2000」は、プローブのコンディショニング、ベベルアングルの測定、 標準サンプルのデータ入力などが全...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • CVD装置『ナノカーボン堆積装置』 製品画像

    CVD装置『ナノカーボン堆積装置』

    3種類の堆積装置をラインアップ!用途に合わせてお選びください

    株式会社片桐エンジニアリングが取り扱う、『ナノカーボン堆積装置』を ご紹介いたします。 当製品は、ナノカーボン材料を合成可能なCVD装置です。 「CND-050LP」をはじめ、大面積ナノカーボン堆積装置「LCND-200」や PNナノカーボン堆積装置「NCD-050W」をラインアップ。 用途に合わせてお選びいただけます。 【特長】 ■ナノカーボン材料を合成可能 ■3...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社片桐エンジニアリング

  • パワー半導体の解析サービス 製品画像

    パワー半導体の解析サービス

    故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…

    株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。 当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。 【特長】 ■OBIRCH解析ではSiだけでなく、SiCやGaNデバイスにも対応 ■表裏どちらからでもFIB加工可能 ■...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • Junction Photo Voltage(JPV) 製品画像

    Junction Photo Voltage(JPV)

    JPV法により、非接触で、PNジャンクションのジャンクション・リーク、…

    JPV法(ジャンクション・フォト・ボルテッジ法)を用いているため、高速で再現性の良いマッピング測定が可能です。 【特徴】 - 非接触、非破壊測定 - プローブの調整は不要 - 測定のための特別な試料準備は不必要 - 表面に酸化膜やコーティングが存在しても測定可能 - 空間分解能の高い分布測定(マッピング)が高速で可能 - 再現性の高い測定が可能 - セミラボ社のベンチトッププラ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 半導体チップ温度Tj測定法の種類と特長 製品画像

    半導体チップ温度Tj測定法の種類と特長

    試験を実施するにあたりどの方法で測定するのかを選択することが重要な要素…

    半導体チップ温度Tj測定法の種類と特長について説明します。 パワーサイクル試験は、デバイスへの通電電流による発熱により Tj(半導体チップ温度)が一定の温度変化を繰り返した際の 熱ストレスに対し、その耐久性を確認する試験。 試験では、半導体チップの温度(Tj)を測定する必要があります。Tjの測定は、 PN接合に電流を流したときの電圧が温度によって変化する特性を利用します。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 非接触ウエハソーティングシステム【NC-6800】 製品画像

    非接触ウエハソーティングシステム【NC-6800】

    ベルト搬送による非接触ウエハソーティングシステム!

    ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたします。 その他製品ございますので、詳細はお問い合わせ下さい。...【ベルト搬送による非接触ウエハソーティングシステム】 ◆抵抗・厚さ・P...

    メーカー・取り扱い企業: ナプソン株式会社

  • 『研磨材』 製品画像

    『研磨材』

    テクノロジーを駆使した様々な研磨材をニーズに合わせてお選びいただけます…

    株式会社イザワでは、ニーズに合わせて選べる3M社製の『研磨材』を ご用意しております。 ナイロン不織布に研磨砥粒を均一に塗布・接着した、 3次元構造の「スコッチ・ブライト 不織布表面処理材」をはじめ、 従来の塗布研磨材とは全く違った発想で開発された「精密研磨剤」や、 塗装面の細かいキズ取りからつや出しまで、使用する目的に合わせてお選び いただける「コンパウンド」など、多彩な製品をラ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イザワ

  • ライフタイム測定装置 製品画像

    ライフタイム測定装置

    u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケッ…

    オプションにて様々な電気的測定のマッピング測定が可能です。 (拡散長、鉄濃度、比抵抗、シート抵抗、LBIC、反射率、IQE、PN判定)...ライフタイム測定装置 WT-2000は、u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります。 シリコン・ブロック/ウェハーのライフタイム測定をし、マッピング表示が可能です。 ※ シリコンウェハー/ブロック...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • PN判定器 【PN-1S】  製品画像

    PN判定器 【PN-1S】

    PN判定器 【PN-1S】

    ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたします。 その他製品ございますので、詳細はお問い合わせ下さい。...【スピーディーな測定が可能な接触型PN判定器】 ◆判定方式:整流電力方...

    メーカー・取り扱い企業: ナプソン株式会社

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