• 株式会社日本電子デバイス 製品画像

    株式会社日本電子デバイス

    国内・海外製品の半導体デバイス及び電源・電子部品を販売しています

    株式会社日本電子デバイスは、国内外の半導体デバイス・電源・ 電子部品販売の専門商社です。 回路設計・基盤実装・組み立て配線・ソフトウエアの開発も承ります。 また、多数メーカーをお取扱いしておりますので ご遠慮なくお問い合せください。 【取扱品目】 ■半導体 ■半導体・水晶・その他 ■抵抗/ダイオード/コンデンサー ■電源(スイッチング電源 DC-DCコンバーター) ■P...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本電子デバイス

  • 膜厚測定の世界市場レポート2023-2029 製品画像

    膜厚測定の世界市場レポート2023-2029

    世界の膜厚測定市場2023-2029:成長・動向・市場予測

    膜厚測定システムは、単層フィルムや多層フィルムを1秒以内に測定・分析することができます。光学特性は反射から得られ、厚みはサンプルの鏡面反射率から正弦波フリンジパターンを検出することで測定されます。 薄膜測定装置は、複雑で使いにくいシステムから、シンプルだが強力で柔軟なインターフェースを提供する今日のコンパクトで実用的なツールへと進化してきた。 QYResearchが発行した最新市場調査レポート...

    メーカー・取り扱い企業: QY Research株式会社 QY Research

  • 高効率太陽電池開発用測定装置 PV-2000 製品画像

    高効率太陽電池開発用測定装置 PV-2000

    高効率太陽電池開発用測定装置

    PV-2000は、Semilab社とSDIの技術を結合した太陽電池開発用の総合測定装置です。 パシベーション層評価等の高効率太陽電池を開発するための様々なヘッドを搭載可能です。 ...測定機能 - QSS-u-pCD (Injection level毎のライフタイム測定) - Ultimate-SPV (ウェハー厚4倍までの拡散長測定9 - ALID(高速光劣化測定) ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • ライフタイム測定装置 製品画像

    ライフタイム測定装置

    u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケッ…

    オプションにて様々な電気的測定のマッピング測定が可能です。 (拡散長、鉄濃度、比抵抗、シート抵抗、LBIC、反射率、IQE、PN判定)...ライフタイム測定装置 WT-2000は、u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります。 シリコン・ブロック/ウェハーのライフタイム測定をし、マッピング表示が可能です。 ※ シリコンウェハー/ブロック...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

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