• 約1秒で結果を出す!高圧1500Vの太陽光発電のIV計測 製品画像

    約1秒で結果を出す!高圧1500Vの太陽光発電のIV計測

    PR約1秒で結果を表示する短時間計測が可能!発電システムの竣工点検・定期点…

    『イプシロン1500V』は、高圧化する太陽光発電システムの メンテナンスに対応したI-Vカーブトレーサーです。 PVアナライザ「イプシロン400/1000」の特長を引き継ぎながら、 1500[V]計測を実現しました 【特長】 ■短時間計測(結果表示まで約1秒・日射や影の急変の影響を受けにくい) ■シンプルな操作性(事前設定が必要なくワンボタンで計測可能) ■本機と計測ユニット...

    メーカー・取り扱い企業: 日本カーネルシステム株式会社 本社

  • 【カタログ進呈!】高性能オシロスコープ PicoScope  製品画像

    【カタログ進呈!】高性能オシロスコープ PicoScope

    PR先端デバイスの開発など、優れた信号解析性能が要求されるアプリケーション…

    高性能オシロスコープPicoScope 6428E-Dは、 既存のPicoScope 6000Eシリーズの性能を拡張したもの。 高エネルギー物理学、LIDAR、VISAR、分光分析、加速器、 および他の高速信号解析に取り組む科学者や研究者にとって理想的なツールです。 【特徴】 ・周波数帯域 3 GHz ・最高サンプリング速度 10 GS/s ・分解能可変8-12ビット ・メモリ4GS ・アナロ...

    メーカー・取り扱い企業: Pico Technology Ltd.

  • 【射出成形:課題解決】AMDESS事例集 製品画像

    【射出成形:課題解決】AMDESS事例集

    ウェルドラインやソリ対策など、射出成形に特化した課題解決事例集!3D …

    ター最適化ソフトウェア『AMDESS』による 射出成形に特化した課題解決事例集です。 「ウェルドライン発生場所をコントロールした外観不良対策」をはじめ、 「多数個取り金型の同時充填」や「コネクタのそり対策」といった事例を掲載。 概要や作業内容など詳しく解説していますので、 ぜひダウンロードしてご覧下さい。 【掲載内容】 ■事例 ウェルドライン発生場所をコントロールした外観...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社くいんと

  • 【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価 製品画像

    【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価

    AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…

    わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層(~5nm程度)の元素分析や深さ方向の濃度勾配を調査することが可能です。 この2つの分析装置を使い「めっき済みのコネクタ接点用ピン表面」の加熱影響調査を行いました。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本分析装置に加えXPS、GD-OESなどの各種表面分析を行っております。 お気軽にご...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【活用事例】生産現場のドライブレコーダー コネクタ製造 製品画像

    【活用事例】生産現場のドライブレコーダー コネクタ製造

    コネクタ製造の事例をご紹介!現場の課題を見える化する高速カメラ

    高速カメラを採用した生産現場のドライブレコーダー『RekamoMA』の コネクタ製造での活用事例をご紹介します。 射出成型機で成型後に成形品が金型から落ちない場合の原因を知る目的で活用。 【事例】 ■業種:コネクタ製造 ■問題:撮像画像から判定して記録するタイ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社コヤマ・システム 本社

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