• 『プラスチック製フィルム袋事例紹介』※サンプルを無料進呈中 製品画像

    『プラスチック製フィルム袋事例紹介』※サンプルを無料進呈中

    PR様々な加工方法でオーダーメイド。OPP・CPP袋を幅広くご提案いたしま…

    弊社は、プラスチック製フィルム袋(OPP・CPP)の製造・販売に加え、 その他の袋(ポリエチレン袋等)の販売も手掛けています。 オリジナルサイズの袋をはじめ、規格サイズの袋や包装資材などにも対応。 段ボールや緩衝材などにも設計から承ることが可能です。 また、難易度の高い袋でもお断りせず、長年にわたる ノウハウ・実績から解決策をご提案いたします。 事前に打ち合わせを行った上で、単...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社スギモト

  • ODU 丸型コネクタ <サンプル無料配布キャンペーン> 製品画像

    ODU 丸型コネクタ <サンプル無料配布キャンペーン>

    PR実物サンプルで形状、サイズ、手触り、嵌合の感触などを、お手に取ってお確…

    オーディーユージャパン株式会社では、2024年5月2日までの期間限定で 『ODU 丸型コネクタ』のサンプル無料配布キャンペーンを実施しています。 樹脂製丸形コネクタを詰め合わせた「サンプルキット」や、 豊富な製品群から希望の製品を選べる「カスタムサンプルBOX」をご用意。 形状、サイズ、手触り、嵌合の感触などを手に取ってお確かめいただけます。 【対象製品】 ◎サンプルキット 樹脂製丸形コネク...

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    メーカー・取り扱い企業: オーディーユージャパン株式会社(ODU)

  • よくあるご質問(FAQ) サンプルについて 製品画像

    よくあるご質問(FAQ) サンプルについて

    サンプルについて、よくお問い合わせいただくご質問を、FAQ形式でまとめ…

    サンプルは返却してもらえますか? →基本的に全て返却いたします。加工を施したサンプルについては一部返却できないものがあります。 ◆サンプルはどこに送ればよいですか? →担当宛にお送りください。担...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • サンプルの送り方 製品画像

    サンプルの送り方

    分析を行うサンプルをMSTにお送りいただく際の送り方をまとめました。

    ・FOSB・チップケースなどでお送りください。 ・有機汚染評価 できれば、同一試料を2枚ご用意いただき、測定面同士を合わせて、アルミホイル艶消し面で、二重に包んでください。 ◆微小片サンプル ピンセットでの取り扱いに注意を要する微小片サンプルサンプルを外側から確認できる透明なチャック袋などでお送りください。 薬包紙は弾いてしまう可能性があります。 チップケースは静電気などで取...

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  • クライオ加工 製品画像

    クライオ加工

    やわらかいサンプルを冷却、硬化させ切削可能に

    特徴 ・柔らかいサンプルを冷却することで硬化して切削可能 ・液体窒素付近の温度まで冷却することが可能 ・サンプル・雰囲気・ミクロトーム刃の温度はそれぞれ独立して設定可能 ・主に常温では柔らかい材料(生体試料・高分子...

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  • 【分析事例】水素注入サンプルのSRA/SIMS評価事例 製品画像

    【分析事例】水素注入サンプルのSRA/SIMS評価事例

    ライフタイム制御サンプルのキャリア濃度分析事例紹介

    パワー半導体デバイスでは、ライフタイム制御のために、Si基板内に結晶欠陥を形成することがあります。ライフタイム制御領域の作成に用いられる元素の一つである水素イオンの熱処理条件の違いによるキャリア濃度分布を評価した事例を示します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 雰囲気制御下での処理 製品画像

    雰囲気制御下での処理

    サンプル本来の状態を評価することが可能

    ■特徴 ・雰囲気(水分・酸素)を制御したグローブボックス内でサンプルを扱うことで、反応性の高いサンプルについても変質・変化を最小限に抑えることが可能 ・雰囲気制御下での切断・剥離・測定面出し加工により、大気の二次汚染・酸化を抑えることが可能 ・大気に暴露するこ...

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  • [LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法 製品画像

    [LC/MS]液体クロマトグラフィー質量分析法

    イオンを検出器で検出し、定性・定量をおこなう分析手法です

    液体クロマトグラフィー(LC)は、クロマトグラフ法の一種に分類され、液体状のサンプルをクロマトグラフィーの原理により成分の分離を行います。ここで分離された成分の検出を質量分析計で行うものを液体クロマトグラフィー質量分析法(LC/MS)と言います。 LC/MSは有機化合物の定性・...

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  • [DSC]示差走査熱量測定 製品画像

    [DSC]示差走査熱量測定

    DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評…

    DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評価することができます。 ・ 融点・結晶化温度・ガラス転移温度・キュリー点・比熱などを確認することができます。 ・ 結晶化度・純度・反応速度及び結晶化速度などの測定に応用が可能...

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  • 【分析事例】ウェハ・チップの特定箇所の前処理技術 製品画像

    【分析事例】ウェハ・チップの特定箇所の前処理技術

    目的箇所のみサンプリングし、ウェハを割らずにサンプル作製します

    ウェハ・チップを割らずに小片を抜き出して薄片化し、高分解能TEM観察・分析を行います。 さらに分析したい箇所を残してカットしてサンプルを作製することで、目的箇所をご要望のあらゆる方向からTEM観察・分析し、データをご提供します。高度なTEMサンプル作製技術を通じて、様々な観察・分析・評価ニーズにお応えします。...

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  • 燃焼-イオンクロマトグラフィ-分析(燃焼-IC) 製品画像

    燃焼-イオンクロマトグラフィ-分析(燃焼-IC)

    ハロゲン(F、Cl、Br)、硫黄の分析が可能です

    燃焼-イオンクロマトグラフ(IC)法では、プラスチックや樹脂等の固体材料や、有機溶媒等の液体材料に含有するハロゲン(F、Cl、Br)や硫黄の含有量を調査することが可能です。 図1に示す通り、サンプルを燃焼炉で燃焼分解させることにより発生したガスを吸収液に捕集します。この吸収液をイオンクロマトグラフ法で測定することで、水に溶けない固体サンプル中のハロゲンや硫黄含有量を測定することが出来ます。...

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  • [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法 製品画像

    [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法

    有機化合物の定性・定量を行う分析手法です

    易に気化する液体はGCへ直接導入が可能です。固体については分析目的により、溶媒抽出、熱分解法、ヘッドスペース法などで溶液化または気化してGCへ導入します。 ■成分分離 試料導入部で気化したサンプルはキャリアガスによって運ばれ、カラム内を通過します。カラム中の固定相との相互作用の強弱により、サンプル中各成分は成分毎に移動速度に違いが生じ、分離されます。 ■イオン化(EI法) GCで分...

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  • 絶対PL量子収率測定 製品画像

    絶対PL量子収率測定

    絶対PL量子収率測定は、材料の発光効率を求める手法です。

    材料の発光効率を求める手法です。 ・分光器付きの励起光源を用いているため、様々な波長(約350~800nm)での励起が可能 ■MSTの特徴 ・装置は雰囲気制御下で管理されているため、薄膜サンプルについては酸素の影響を受けずに測定することが可能...

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  • 【分析事例】AI技術を用いたCT画像のアーチファクト低減 製品画像

    【分析事例】AI技術を用いたCT画像のアーチファクト低減

    AI技術でCT画像のメタルアーチファクトを低減し画像解析精度を向上!

    X線CT測定ではサンプルの三次元構造を非破壊で観察することが可能です。 しかし、X線ビームを使用する性質上、金属を多く含むサンプルの測定においてはメタルアーチファクトと呼ばれる暗い線状の虚像が発生することがあり、 内...

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  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験

    加熱劣化後のサンプルをLC/MS/MS,TOF-SIMS,TEM+ED…

    課題があります。これらの課題を解決するためには、電池の劣化機構の解明が重要です。今回は、温度による劣化機構についての評価のために、加熱劣化試験を行いました。加熱劣化試験後、大幅な容量低下が見られたサンプルについて、電解液をLC/MS/MS、負極表面をTOF-SIMS、負極断面をFIB-TEM+EDXで評価しました。...

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  • 【分析事例】GC/MSを用いた発生ガス分析及び高分子材料の同定 製品画像

    【分析事例】GC/MSを用いた発生ガス分析及び高分子材料の同定

    熱分解GC/MSの原理とアプリケーションについて

    熱分解GC/MSは、試料導入部に熱分解装置を設置したガスクロマトグラフ質量分析計です。 複雑な前処理が必要であった高分子材料についても、熱分解装置でサンプルを加熱分解することにより前処理無しでGCに導入して分析を行うことができます。 また、熱分解装置の温度条件とサンプリング条件を変えること(ダブルショット法)で、同一サンプルから添加剤と高分子材料の...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】UVセンサ AlGaN中不純物濃度の高精度評価 製品画像

    【分析事例】UVセンサ AlGaN中不純物濃度の高精度評価

    様々なAl組成のAlGaN標準試料をラインアップ

    SIMS分析において、より確かな濃度定量値を算出するには測定サンプルと組成の近い標準サンプルを用いることが不可欠です。 紫外LEDやUVセンサに用いられるAlGaNについて、Al含有量に応じたAlGaN標準試料を幅広く取り揃えたことで、より高精度にAlGaN中不...

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  • [RBS]ラザフォード後方散乱分析法 製品画像

    [RBS]ラザフォード後方散乱分析法

    固体試料にイオンビームを照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱され…

    ++)を照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱されてくるイオンのエネルギーおよび強度を測定する手法です。 散乱されたHeイオンの運動エネルギーを測定し、衝突した原子の質量数を調べることで分析サンプルの成分や層構造を評価することができます。 また、固体試料にHeイオンを入射して前方に散乱されたHイオンを測定することで、サンプル中の水素濃度を評価することも可能です。この測定手法が水素前方散...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [TG-DTA/TG-DTA-MS]示差熱天秤-質量分析法 製品画像

    [TG-DTA/TG-DTA-MS]示差熱天秤-質量分析法

    サンプルを加熱することによって生じる重量変化・示差熱・熱量および揮発成…

    Aによる熱的変化から酸化還元、熱分解、吸脱着、蒸発、揮発などの状況を測定することができます。 ■DTA:Differential Thermal Analysis(示差熱分析) 基準物質とサンプルを同時に加熱し、両者の温度差を熱電対によって測定し、連続的に記録します。温度差の変化から、熱的変化の有無や反応の種類がわかります。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【MFM】磁気力顕微鏡法 製品画像

    【MFM】磁気力顕微鏡法

    MFMは、磁性膜でコートされたプローブを用いて、サンプル表面近傍に生じ…

    サンプルの磁気特性の情報を定性的に取得可能 ・漏洩磁場による引力・斥力をイメージング可能 ・漏洩磁場の勾配の大きさに比例した磁気力の信号を得られるが、定量評価は不可 ・AFM像の取得も同時に取得可能...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】劣化の激しい有機材料の状態評価 製品画像

    【分析事例】劣化の激しい有機材料の状態評価

    雰囲気制御下でのサンプリングで材料の正確な評価が可能です

    り、次世代デバイスの一つとして期待されています。特性向上、長寿命化、信頼性向上等には材料の正確な解析・評価が重要ですが、非常に活性な材料が使用されているため取り扱いには注意が必要です。大気暴露したサンプルと高純度アルゴン雰囲気下で取り扱ったサンプルの比較から、大気暴露で見られる酸化(分子イオン+O,+OH等)が高純度アルゴン雰囲気中で取り扱うことで抑えられていることが確認できます。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XPS・AESによる深さ方向分析の比較 製品画像

    【分析事例】XPS・AESによる深さ方向分析の比較

    XPS:X線光電子分光法 AES:オージェ電子分光法

    XPSとAESは表面敏感な分析手法でありサンプル表面の評価に広く用いられますが、イオンエッチングを併用することで深さ方向の分析が可能となります。 深さ方向分析を行うにあたり、測定したい領域やサンプルの材質に応じてXPSとAESを適切に使い分け...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 質量分析を利用した複数のSNP解析 製品画像

    質量分析を利用した複数のSNP解析

    マスアレイ法により、複数のSNP(一塩基多型)を同時に解析できます

    本手法は、MALDI-TOF-MSの質量分析を利用した遺伝子解析法であり、一度の測定で複数のSNP箇所の解析が可能です。最大40か所のSNPを、190サンプル同時に測定できます。 分析全体の流れとしては下記フローに準じて実施します。標的のSNP領域の質量ピークが重ならずに増幅するように設計したプライマーと、各SNP箇所の一塩基のみ伸長するように設計し...

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  • [SAXS]X線小角散乱法 製品画像

    [SAXS]X線小角散乱法

    ・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能

    m~数十nm程度の大きさの構造を評価できます。 ・ナノスケールでの周期構造・配向性の評価が可能 ・微粒子や材料中の空孔分布を評価することが可能 ・タンパク質など生体材料の評価が可能 ・サンプルを加熱して評価することが可能...

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  • Arイオンミリング加工 製品画像

    Arイオンミリング加工

    機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ5…

    1.貼り合わせ サンプル同士もしくは支持基板とを接着剤で貼り合わせます。 2.切断 数mmの厚みで切り出します。 3.研磨 機械研磨を行い、貼り合わせ界面が中心になるように薄くします。 4.Arイオ...

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  • カールフィッシャー滴定法 製品画像

    カールフィッシャー滴定法

    カールフィッシャー滴定法は化学反応を利用して試料中の水分を定量する手法…

    ・数ppm~数%程度の水を定量することが可能。 ・電解液に溶けないような固体サンプルも定量可能。...

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  • 【分析事例】微小ビアのイメージ分析 製品画像

    【分析事例】微小ビアのイメージ分析

    微小領域の分布評価が可能です

    素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできることや、イメージ分析が可能なことから、出来ばえ評価に有効な手段です。 本資料では、Si基材に設けられた0.5μmφ程度のビアに、Cuを充填したサンプルを分析した事例を示します。正イオン分析結果より、CuおよびSiの分布が確認できました。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:LSI・メモリ・電子部品 分析目的:組成分布評価・故障解析・不良...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】微小部XRD分析による結晶構造評価 製品画像

    【分析事例】微小部XRD分析による結晶構造評価

    微小領域のXRD測定が可能

    照射X線をΦ400μmに絞ってXRD測定を行うことで、面全体ではなく所定の領域を狙って結晶情報を取得した事例をご紹介します。 プリント基板サンプルのXRD測定の結果、測定箇所(1)~(3)全てでCuとBaSO4が検出され、電極である測定箇所(1)ではAu由来のピークが検出されました。XRFによる測定結果とよく一致しています。 このように組...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】加熱・冷却過程における経時変化のAFM動画観察 製品画像

    【分析事例】加熱・冷却過程における経時変化のAFM動画観察

    サンプル表面の形状変化をin situで評価

    高分子には、温度や湿度・溶媒等の環境によって形状が変化する素材があり、評価する際の環境条件を変化させることで物性の知見を深めることができます。 今回は生分解性プラスチックで知られているポリカプロラクトン(PCL)を用いて加熱・冷却実験を行いました。ポリカプロラクトンは融点が約60℃であり、加熱により結晶状態からアモルファス状態へと変化する様子を、また冷却により再結晶化する様子を連続測定により動画...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 2022年4月15日(金)MST熊本営業所がオープン致しました! 製品画像

    2022年4月15日(金)MST熊本営業所がオープン致しました!

    熊本営業所を拠点とし、九州地区のお客様へ更なるサービス向上を目指します…

    京本部(ラボ)との密接な連携で納得の品質・納期を実現します。 ご期待ください。 開所日:2022年4月15日(金) 住所:熊本県菊池郡大津町室161-1 ステーションM 102       ※サンプルのご送付は、東京都世田谷区の本部宛てにお願いします。    本部住所:東京都世田谷区喜多見1-18-6 電話番号:090-7017-3882(担当:武田)...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • MST【千歳営業所】 OPEN! 製品画像

    MST【千歳営業所】 OPEN!

    千歳営業所を拠点とし、北海道エリアのお客様へ更なるサービス向上を目指し…

    携で納得の品質・納期を実現します。 ご期待ください! 開所日:2024年4月11日(木) 住所:北海道千歳市柏台南1-3-1 千歳アルカディア・プラザ 160 号室       ※サンプルのご送付は、東京都世田谷区の本部宛てにお願いします。    本部住所:東京都世田谷区喜多見1-18-6 電話番号:090-4001-1578(担当:柳町)...

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  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池 Si負極の評価 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池 Si負極の評価

    サンプル冷却により充電後のSi負極の構造を評価可能

    Siは高容量負極活物質の候補の一つですが、充放電時の非常に大きな体積変化のためにサイクル劣化が激しいと言われています。今回、充電後のSi負極の状態を確認するために、雰囲気制御環境下で解体して冷却FIB加工を行い、SEMにて断面形状を観察しました。室温で断面観察を行った場合は、膜の収縮・観察面の荒れ・孔発生等の大きなダメージが見られる一方で、冷却しながら観察を行うことでSi負極の変質を抑えて試料本来...

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  • 【分析事例】GCIBを用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析 製品画像

    【分析事例】GCIBを用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析

    雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価

    大気暴露することで劣化が生じる有機材料について、GCIB(Arクラスター)を用いて劣化成分を深さ方向に分析した事例を紹介します。実験には有機EL原料のルブレンを用いました。大気暴露したサンプルをTOF-SIMSで測定をした結果、ルブレンペルオキシドと推定される質量(m/z 564)や、低分子のベンゼン系の質量(m/z 77,105)が検出されました。これらの劣化に起因する成分は、表面か...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】溶液中の窒素成分の評価 製品画像

    【分析事例】溶液中の窒素成分の評価

    無機窒素を形態別に分析可能です

    窒素は様々な形態で化学・材料・食品・医薬等の幅広い分野において利用されています。窒素化合物は硝酸、亜硝酸、アンモニアなどの無機窒素化合物や、アミノ酸などの有機窒素化合物などからなります。サンプルが水溶液の場合、硝酸イオン、亜硝酸イオン、アンモニウムイオンなどの無機窒素化合物についてはイオンクロマトグラフ法、有機態窒素についてはHPLCやLC/MS、また無機窒素化合物と有機窒素化合物を合わ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】a-Si薄膜太陽電池中のドーパント濃度分布評価 製品画像

    【分析事例】a-Si薄膜太陽電池中のドーパント濃度分布評価

    対象元素に応じて測定条件を選択

    フレキシブル薄膜Si太陽電池において、a-Si(アモルファスシリコン)中のドーパントの濃度分布を定量的に評価した事例をご紹介します。樹脂で封止されたサンプルを解体し、SIMS分析を行いました。 Bの分析(図3)では表面側の浅い箇所に存在するため、深さ方向分解能を高めて測定を行いました。 Pの分析(図4)ではa-Si中に多量のHが存在して質量干渉を...

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  • 【分析事例】発泡ゴムの引っ張り試験CT測定 製品画像

    【分析事例】発泡ゴムの引っ張り試験CT測定

    サンプル内部の形状変化をin situで測定・解析

    試料に応力(引っ張りもしくは圧縮)をかけた状態でX線CTによる内部構造分析を行うことが可能です。 本資料では、発泡ゴムを例として、通常状態と伸ばした状態においてin situ X線CT測定を実施し、取得したCT像から気泡の体積変化を解析しました。 in situ X線CT測定と画像解析技術を組み合わせることで、従来では評価が困難であった実使用条件下での評価や応力による製品への影響の評価が可能で...

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  • 【分析事例】パワーデバイスのキャリア濃度分布評価 製品画像

    【分析事例】パワーデバイスのキャリア濃度分布評価

    ドーパントの活性化率に関する評価が可能

    SRA(Spreading Resistance Analysis)はサンプルを斜め研磨し、その研磨面に2探針を接触させ、広がり抵抗を測定する手法です(図1)。 キャリア濃度分布を評価することで、ドーパントの活性化状況についての知見を得ることが可能です。 一例として、パ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XRD・EBSDによるGaN結晶成長の評価 製品画像

    【分析事例】XRD・EBSDによるGaN結晶成長の評価

    断面マッピングにより、GaNの結晶成長の様子を評価可能

    製造工程では、デバイス特性に影響を与える結晶欠陥の無い、高品質なGaN結晶の作製が求められます。 本資料では、c面上に形成したGaN基板(c-GaN基板)上に、c-GaN結晶を高速気相成長させたサンプルの結晶状態を評価した事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池 セパレータの評価 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池 セパレータの評価

    サンプルを冷却しセパレータの形状をより正確に評価

    電池の主要構成材料であるセパレータは、この材料の多孔性・形状等が電池の特性・安全性を左右します。現在主流のポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、あるいはその複合材料等高分子系材料は軟化点が低くPEでは125℃程度、PPでは155℃程度となります。軟化点の低いPP製のセパレータ構造観察において、試料の冷却を行って変質を抑えて評価した事例をご紹介します。...詳しくは資料をダウンロード、または...

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  • 【分析事例】結晶Si太陽電池のキャリア分布評価 製品画像

    【分析事例】結晶Si太陽電池のキャリア分布評価

    表面凹凸のあるサンプルでのキャリア拡散層の均一性評価

    BSF型結晶Si太陽電池について、表面側テクスチャ部および裏面側BSF部のキャリア拡散層分布をSCMにて評価した事例を紹介いたします。テクスチャ部では表面凹凸に沿ってpn接合が形成されているのに対し、BSF部ではキャリア分布に途切れがあり不均一であることが確認できます。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】食品中の有機体・無機体炭素量測定 製品画像

    【分析事例】食品中の有機体・無機体炭素量測定

    固体中の有機体・無機体炭素量を評価することが可能です

    全有機体炭素測定計(TOC計)は、試料中の全炭素(TC:Total Carbon) 、無機体炭素(IC:InorganicCarbon)をそれぞれ分けて定量することが可能です。サンプルは水溶液にすることなく固体のまま測定することができます。 本資料では市販の膨張剤、塩に含まれるTOC、TC、IC評価事例を紹介します。...

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  • 【分析事例】有機EL素子の劣化評価 製品画像

    【分析事例】有機EL素子の劣化評価

    雰囲気制御下での切削により加工による変質を抑制

    有機ELを搭載した市販のデジタルオーディオプレーヤーについて、通電により輝度が劣化したものと非通電のものの比較を行いました。 その結果、TOF-SIMSのスペトルにはサンプル間で差は見られませんでした。...

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  • 【分析事例】電子デバイス内特異箇所の複合解析 製品画像

    【分析事例】電子デバイス内特異箇所の複合解析

    デバイス内部の構造を複合的に評価します

    評価に適した技術を取り揃えており、観察視野や目的に応じた分析手法をご提案します。 本資料では、X線CTとFIB-SEMを用いてデバイスの特異箇所を調査した事例を紹介します。まずX線CTを用いてサンプル全体の内部構造を観察し、特異箇所を探索しました。続いて、ビア上に確認された特異的な構造物について、FIB-SEMを用いて詳細な構造を確認しました。...

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    ご依頼からの流れ

    ご依頼から納品までの流れをまとめました。

    は 電話03-3749-2525まで、お気軽にどうぞ。 ↓ ◆お打ち合わせ・お見積もり MST営業担当があなたの元へお伺いして打ち合わせ後、お見積書を発行します。 ↓ ◆サンプル受け渡し 分析する材料・製品は、お打ち合わせ時に直接お預かり可能です。 宅配便でお送りいただくことも可能です。 ↓ ◆分析 熟練の専門スタッフが分析を行います。 ↓ ...

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    [PL]フォトルミネッセンス法

    PL:PhotoLuminescence

    ス法とは、物質に光を照射し、励起された電子が基底状態に戻る際に発生する光を 観測する方法です。得られる発光スペクトルから、様々な情報を得ることが可能です。 ・バンドギャップ約3.5eVまでのサンプルを励起することが可能 ・マッピング機能により、広範囲の情報を得ることが可能 ・約10Kまでの測定が可能 ・一般的に非破壊の測定であり、特殊な前処理が不要 ...

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    【分析事例】角度分解XPS(ARXPS)による極薄膜組成分布評価

    基板上の極薄膜についてデプスプロファイルを評価可能です

    角度分解XPS(ARXPS)はX線照射によって放出される光電子を取出角ごとに検出し、それぞれ検出深さの異なるスペクトルを用いてサンプル表面極近傍のデプスプロファイルを評価する手法です。従来のArイオンスパッタを用いた方法と比較すると、深さ方向分解能が向上し、かつ選択スパッタやミキシングによる組成変化が無いといったメリットがあり、...

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  • 【分析事例】有機薄膜太陽電池電極界面および有機膜の分散状態評価 製品画像

    【分析事例】有機薄膜太陽電池電極界面および有機膜の分散状態評価

    雰囲気の影響を最小限に抑えた総合的な評価解析が可能です

    有機デバイスは酸素や水に影響されやすい材料を使用したデバイスです。MSTでは雰囲気の影響を最小限に抑えたサンプル搬送・加工方法・測定環境を整え分析を行っており、より真に近い状態評価が可能です。XPS分析で有機膜と電極の界面の状態評価を評価しました。有機膜表面に存在するチタニアの組成、結合状態を確認できます。...

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