半導体レーザ・光デバイス用3Dシミュレーター　PICS3D

PR新たにクロスライト社のFDFDが加わり、FDTDより計算がかなり速く高…

＜主な特徴＞ ■共振器方向の効果が重要なデバイスの設計・解析に適しています ■モード結合理論と多層膜光学理論によりDFB,DBR,VCSELのような回折格子を 含むレーザダイオードが計算可能 ＜多様な物理モデルや機能＞ ■ウェーブガイド・グレーティングの結合係数（１次、２次のグレーティング） ■縦方向のキャリア密度分布、主・副縦モードについての光学利得と光強度 ■２次グレーテ...

メーカー・取り扱い企業： クロスライトソフトウェアインク日本支社

CZ/高抵抗FZ 各種ウェーハ販売(評価・開発・テスト用)

PR少量ウェーハに対応！研究・テスト用途に便利なウェーハ販売サービス！ ハ…

【取扱商品】 ＊CZ・FZ・拡散ウェーハ・SiC・SOI・EPI・GaAs・SiGe・GaSb・サファイア・ゲルマニウムなど様々な半導体用ウェーハを扱っております。 ＊プライム・テスト・モニター用ベアウェーハ(高精度ウェーハ・パーティクルチェック用・COP対策品等） ＊SOIウェーハ：高抵抗デバイス層、基板も対応可、ウェーハを支給していただきSOIウェーハへ加工することも可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エナテック 東京本社

フレキシブルデバイスの機械特性評価例

ナノインデンテーションテスタ・スクラッチ試験機によるフレシキブルデバイ…

ナノインデンテーションテスタやスクラッチ試験機を用いいてサンプルの硬さ・弾性率・密着性の差を評価することができます。 ナノインデンテーションテスタで取得できる物性値 -硬さ -弾性率 -粘弾性(E’、 E”、 tanδ) -降伏応力(クリープ率) -破壊靭性(粒子の破壊試験) スクラッチ試験機で取得できる物性値 -密着性 -傷のつきやすさ アントンパール社製装置であ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アントンパール・ジャパン