5軸・複合加工対応！CAD/CAMシステム『hyperMILL』

PR2D~3D、5軸・複合加工に対応、安心のシミュレーション・干渉チェック…

CAD/CAMソフト『hyperMILL』は、切削加工を高精度かつ高速で行え、 優れた操作性でプログラミングの時間短縮も実現可能。 AiソリューションズはhyperMILLの8年連続国内販売数No.1の実績を持ち、 高い技術力で導入~立上げ~運用をサポートします。 ミルターン加工、HSCやHPCなどの各種機械加工にも対応しており、 曲面やエッジも滑らかで、高品質な加工が可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Aiソリューションズ 本社

『切る・削る・貼る・磨く』に必要な木工機械を多数紹介！

PRランニングソーやスライドソー、5軸制御NCマシン、ボーリング加工機、鏡…

奥田機械では、木材を『切る・削る・貼る・磨く』のに必要な木工機械を多数取り揃えております。 また、単なる商社としての枠組みを超え、コンサルティング提案から納品、アフターサービスまで一貫で対応させていただきます。 『切る』 ■ランニングソー、パネルサイジングソー、切断加工、横挽き etc 『削る』 ■ボーリング加工、ルーター加工、モルダー、鉋盤、鏡面加工機 『貼る』 ■直線縁貼...

メーカー・取り扱い企業： 奥田機械株式会社

クライオ加工

やわらかいサンプルを冷却、硬化させ切削可能に

ことで硬化して切削可能 ・液体窒素付近の温度まで冷却することが可能 ・サンプル・雰囲気・ミクロトーム刃の温度はそれぞれ独立して設定可能 ・主に常温では柔らかい材料（生体試料・高分子材料など）の加工に有効で、ゲル状材料なども冷却することにより加工できる場合がある...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［FIB］集束イオンビーム加工

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

定領域を削ったり（スパッタ）、特定領域に炭素（C）・タングステン（W）・プラチナ（Pt）等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するSIM像により、試料の加工形状を認識できます。 ・微小領域（数nm～数十μm）のエッチングによる任意形状加工が可能 （通常加工サイズ：～20μm程度） ・SEM・SEM-STEM・TEM像観察用試料作製（特定箇所の...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［IP法］Arイオン研磨加工

IP法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です

料に照射したときに試料表面から試料原子が弾き飛ばされるスパッタリング現象を利用して、試料表面を削り取る方法です。 イオン種は通常試料との化学反応の心配のない希ガス（MSTではAr）が用いられます。加工面のAES分析では遮光板成分（Ni,P）は検出下限以下でした。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［SSDP用加工］基板側からの測定用加工

基板側からの測定ができるように基板を削って薄片化

、試料表面の凹凸、イオン照射により表面側に存在する原子が奥側に押し込まれるノックオン効果やクレーター底面粗れ等の現象により、急峻な元素分布を得られない場合があります。この問題を解決するために、薄片化加工を行った基板側（裏面側）からSIMS分析を行うのがSSDP法（Back-Side SIMS法）です。この手法により、試料形状や測定条件に起因する影響を受けることなく、より正確な元素分布評価が可能にな...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】FIB低加速加工

FIB：集束イオンビーム加工

FIBを用いたTEM観察用薄膜試料作製法では、高エネルギーのGaイオン（加速電圧30kV)を用いており、加工面にダメージ層が生じ、TEMの像質低下の原因となっています。そこで従来より低加速(2kV)の加工を行うことでダメージ層が低減でき、像質が改善されました。 FIB低加速加工によりFIB加工面のダメー...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

Arイオンミリング加工

機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ5…

Arイオンミリング法とは、機械研磨を行った後、低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【資料】機械研磨法による加工ダメージ

研磨の仕上がりにご不満、疑問をお持ちの際は、アイテスにご相談ください！

当資料は、機械研磨法による加工ダメージについてのご紹介をしています。 機械研磨は歴史の長い断面作製手法であり、断面作製領域が最大で数cmから 10cm程度と広範囲で断面を作製することが出来ます。 しかし、加工に伴う...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

細胞加工培養受託サービス

細胞加工・培養の委託先施設としてご利用いただけるよう、新設備の整ったC…

当社では、『細胞加工培養受託サービス』を承っています。 2015年、再生医療等の安全性の確保等に関する法律の施行にともない、全国の 医療機関からの細胞加工・培養の委託先施設としてご利用いただけるよう、 新設備...

メーカー・取り扱い企業： コージンバイオ株式会社

ウルトラミクロトーム加工

ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過…

ウルトラミクロトーム加工とは、ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製する加工法です。イオンビームを用いた加工と異なり、大気中にて広範囲の切片を作製することができま...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】加工食品中エマルションのクライオFIB-SEM観察

構造を維持したまま水分・油分の分散状態を観察

エマルションは、水溶成分と脂溶成分を乳化剤の作用により分離なく混合した分散系であり、種々のエマルション技術が加工食品に広く利用されています。マヨネーズはその中でもO/W型（水中油滴型）の代表的な加工食品です。クライオFIB-SEM観察による評価を行った結果、水分・油・乳化剤などの分布を可視化することができまし...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

サービス　実験・受託加工

粉砕・乾燥・加熱・冷却・混合・造粒・表面改質等各機種による実験が可能で…

全ての装置・技術に対して実験対応しています。実験をご希望の際はお気軽にお問い合わせ下さい。また、受託加工もお受けしています。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社奈良機械製作所

研究開発を強力サポート　「受託分析サービス」

お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

顕微鏡法 SCM　走査型静電容量顕微鏡法 SSRM　走査型広がり抵抗顕微鏡法 ○その他の測定法 白色干渉計測法 TG-DTA-MS,DSC　熱分析 EMS　エミッション顕微鏡法 『加工法・処理法』 ○FIB法 集束イオンビーム加工 ○SSDP用加工 基板側からの測定用加工 ほか その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

『切削加工の受託試験』

切削加工の問題解決に貢献する受託試験！試験片レベルから実機サイズまで対…

『切削加工の受託試験』では、科学的なアプローチにより切削過程と 被切削材の特性を分析します。 加工時間の短縮をはじめ、工具寿命の延長や切屑処理性の改善に貢献。 試験片レベルから実機サイズまで対応...

メーカー・取り扱い企業： 橋本鉄工株式会社 臨海第一工場

【資料DL可：FIB】FIB集束イオンビーム加工における事例集

弊社の強みであるFIBによる事例(めっき層内の異常個所発見方法やパター…

弊社はFIB(集束イオンビーム加工装置)による加工を強みのひとつとしております。 当事例集では、FIBにおける事例についてご紹介します。 以下の目的、手法、結果など多数掲載しています。 ・FIBによるめっき層内の異常個...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

EBSDによる電磁鋼板の加工歪みの評価

大同分析リサーチは長年培った材料分析技術でお客様のモーター開発の御支援…

電磁鋼鈑では、打抜き加工より不可避的に塑性歪や弾性応力が端面に集中し、鉄損の要因となります。打抜き端面の断面SEM観察やEBSD測定で塑性歪みを明らかにし、可視化します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

【資料DL可：FIB】FIBによるナノレベル高精度加工

FIB装置によりSi基板上に”マスクレス”でナノレベルの加工を狙った位…

FIB(Focused Ion Beam：集束イオンビーム)装置のエッチング加工でマスクレスで任意形状作成できます。 この事例ではでは以下サイズで50nmステップ毎のピラー作製を紹介しています。 ・円形：φ5μm ・ピラーの高さ：700nm/650nm/600nm ...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

SIM像　3D再構築解析受託サービス

SIM像3D再構築解析の受託スタート！※材料開発や半導体、基板のトラブ…

ＦＩＢ加工観察装置によるＳＩＭ像の３Ｄ再構築解析の受託を始めました！ 材料開発や半導体、基板のトラブル原因解明など、様々な分野で、お役にたちます！ 【半導体デバイスの故障解析やワーク断面・積層構造を高...

メーカー・取り扱い企業： 東レ・プレシジョン株式会社

【資料】断面作製方法

主な断面作製方法や、加工条件、メリット&デメリットなどを掲載しています…

当資料は、断面作製方法についてご紹介しています。 観察、分析・解析を行う上で断面作製を行う場合がありますが、目的や材質、 構造に見合った方法を選択、或いは組み合わせて加工することで信頼度の 高い結果を得ることが可能です。 機械的加工では、「機械研磨」「ミクロトーム」。イオンビーム加工では 「FIB」「イオンポリッシャー(CP)」などの主な断面作製方法などを...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

受託成膜・受託分析

各種成膜・表面処理・塗布加工や、受託測定のことなら当社へお任せください

アイゲート株式会社は『受託成膜・受託分析』を承っております。 「受託成膜」では、Si、ガラス、フィルムなどの真空成膜加工が可能なほか、 エッチングや表面処理、塗布加工にも対応。 また「受託分析」では、高性能水蒸気・ガス透過率測定装置を使用した 受託測定を致します。 【受託分析詳細】 <水蒸気・ガス透...

メーカー・取り扱い企業： アイゲート株式会社 本社

受託分析・受託加工お任せください！

分析のプロにご依頼ください！プロの視点の解説サポートもあります。 試…

受託分析】 　広い分野に対応した分析が可能です。 　分析のプロが行いますので、プロ視点のしっかりした解説を行います。 　幅広い分析分野、特色のある分析、一般的な分析などさまざま。 【受託加工】 　試験研究のラボスケールから、量産スケールまでご用命ください。 　無機材料全般に限らず、材料を用いた部材への加工もお申し付けください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Future Materialz 研究開発部　京都研究所

加工部品の検査・測定1個から対応！【評価・測定/検査サービス】

お困りの案件について、画像測定器や三次元測定機を用いり、正確に測定致し…

あらゆる試作部品は、お客様の要求する規定寸法内に収め、細部に渡る検証を経てはじめて製品としての価値が生まれると言えます。 弊社では、製作プロセスにおいて随時、汎用検査用具（ノギス、ゲージなど）によって検査を実施することはもちろん、 社内の独立した検査部門にて、精密測定機を用いた測定を実施。精度保証や検査データの提供を行っています。 また社内工程へのフィードバックにも活用し不具合情報の把握、発...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アートウインズ

【イオンミリング(CP)/クライオ】分析と観察の前処理事例集

断面加工や分析および観察の前処理などイオンミリング加工、クライオ加工の…

当事例集では、分析と観察に関する『前処理』における事例についてご紹介します。 「イオンミリング法（CP加工）の紹介」、「イオンミリングによる微小部断面加工」、「イオン液体を用いたSEM観察前処理」など目的、手法、試料と結果を含めた分析および観察の前処理事例を多数掲載。 他にも、各種材料の断面解析や...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

膜分析の受託サービス｜JTL

メッキや薄膜、多層膜の分析を多彩な手法で適切に実施致します。

主に断面研磨、イオンミリング（CP加工）、EDX、WDX、XRFの4つの手法から、メッキや薄膜などの観察・分析を実施致します。 無機物・有機物問わず、硬い膜や多層膜まで幅広くご対応しております。...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

微小異物の断面観察

高度なサンプル加工により微小混入異物等の鮮明なSEM写真や元素分析が得…

　FIB（集束イオンビーム） は細く集束したGaイオンビームを試料表面に照射し走査することで試料表面の加工を行います。 　FIBは狙いたい所の微細加工が可能で、数ミクロン程の微小な領域でも狙って断面化できます。 　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社巴川コーポレーション

AM関連商材

高付加価値なものづくりを可能にするアドバンステクノロジー

当社は、高級特殊鋼素材の供給のみならず、安定した寸法精度を誇る 一次加工、その素材特性を活かした高度な熱処理技術、1ミクロンに こだわる精密加工技術、ISO17025認定機関として認められた高精度な 測定技術、AM(Additive Manufacturing: 3...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社山一ハガネ

クロスビームFIBによる断面観察

FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。

半導体デバイス、MEMS、TFTトランジスタなど ナノスケールで製造されるエレクトロニクス製品の構造解析を クロスビームFIBによる断面観察で行います。 １）FIB加工をリアルタイムで観察できるため目的の箇所を確実に捉えます。 ２）2つの二次電子検出器（In-Lens/チャンバーSE）により試料から様々な情報が得られます。 ３）加工用FIBと観察用低加速SEM...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【分析事例】樹脂中に存在している異物の評価

試料の断面加工によりTOF-SIMSで樹脂中異物の評価が可能

樹脂中に存在する有機系の異物を評価する際、試料や分析の条件によってはそのままの状態での評価が困難な場合があります。そこで、樹脂を断面加工して異物を最表面に露出させることにより、評価が可能となった事例をご紹介します。 エポキシ系樹脂中に混入した数10μmの異物を断面加工により露出後、TOF-SIMSで評価しました。異物成分の同定と、...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

パワー半導体の解析サービス

故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…

。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。 【特長】 ■OBIRCH解析ではSiだけでなく、SiCやGaNデバイスにも対応 ■表裏どちらからでもFIB加工可能 ■PN接合部に形成された空乏層を可視化 ■EDS、EELS分析といった元素分析も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

［Slice&View］三次元SEM観察法

FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を…

FIB付き高分解能SEM装置を用い、FIBでの断面出し加工（Slice）とSEMによる観察（View）を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます。また、SIM(Scanning Ion Microscope)像につい...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

アイテス　装置一覧

アイテスの解析・評価・試験サービスに使用する装置一覧です

の課題に真摯に取り組む 解決提案型企業です。 各種保有装置を駆使し、最適なソリューションを提供します。 ■製品解析/不良解析/故障解析 　形態観察・電気特性測定・不良解析・故障解析・試料加工 ■信頼性評価試験 　信頼性評価試験・ESD/ラッチアップ試験・強度試験・光学特性 ■物理解析/化学分析 　物理解析・表面分析・化学分析...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス