函館電子の技術紹介『Auスタッドバンプ加工』

PR少量加工に対応可能。実装面積を抑えられ、製品の小型化に貢献。正確・迅速…

当社は半導体製造で実績があり、IC一貫製造で培った技術をもとに 『Auスタッドバンプ加工』をはじめとした半導体の組み立て加工を手掛けています。 正確・高品質で、スピーディーかつリーズナブルな加工体制を実現しており 仕様や用途に合わせて条件出しを行った上で、少量品から対応できます。 【特長】 ■実装面積を小さく抑えられ、製品の小型化が可能 ■直径25μmの極小径加工が可能 ■パ...

メーカー・取り扱い企業： 函館電子株式会社

アルミ・鋼の金属部品加工＜事例集進呈＞

PR高品質・高精度の製品を製作。アルミ部品は平行・平坦度2/100mmに対…

アルミ・鋼の角物の加工を手掛ける当社は、高性能な立型マシニングセンタや 横型マシニングセンタをはじめとする設備を多数導入しており、 高品質・高精度の製品ニーズにお応えしています。 アルミで2/100mm、鋼で1/100mm（研磨込み）の平行・平坦度を誇るなど、 高い技術力を保有。半導体業界水準のキズの無い美しい仕上がりを提供します。 手のひらサイズから約20kgまでの幅広い製品に...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジーエスピー

【測定事例】　半導体レーザ 電極部の熱伝導性評価　【TM3】

半導体レーザ 電極部を評価！！

半導体 電極部の熱物性評価ができます。 事例では、Au電極部の下にAl2O3の絶縁膜が存在する部分と、そうではない部分がありますが、サーマルマイクロスコープTM3で評価することで、熱浸透率の違いが観察されています。これは絶縁層による放熱性定価を可視化したことになります。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ベテル　ハドソン研究所

ダイヤモンドのクラリティ観察

マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察することができま…

一見きれいに見えるモノでも、拡大すると内包物があったり割れが あったりします。マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を 観察することができます。 また、マイクロスコープでは半導体電子部品やシリコンチップなどの 検査、観察も行っています。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察可能 ■半導体電...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

スキャン方式FFP計測装置

スキャン方式FFP計測装置

　FFP1003は、半導体レーザ・LED・光ファイバなどからの出射光ビームの拡がり角度分布を測定するシステムです。検出器としてPDを用いることにより、短波長帯・長波長帯を問わず、高感度・高ダイナミックレンジな計測を実現して...

メーカー・取り扱い企業： プレサイスゲージ株式会社

光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』

電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム

ELやLEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、 測定器等を組合せて、光半導体素子の電気・光学諸特性をウエハレベルで解析・ データ収集を行うシステ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

プローバー用導電性ナノプローブ

プローバー用導電性ナノプローブ

マイクロおよびナノスケールでの多探針を用いたサンプル表面へのプロービングは、半導体デバイスの故障解析のための表面電気特性測定等、半導体デバイスの研究開発および生産の分野で活用されています。近年、デバイス構造の微細化に伴い、検査用プローブの先鋭化、表面酸化膜の抑制などプローブに要...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ユニソク

10X光学ズームマイクロスコープAZ9T/AZ9C

本体と連携してチャンバー内のリアルタイム観察・記録が可能なマイクロスコ…

マウント） ■鏡体全長：AZ9T 約2500g/ AZ9C 約2000g ・ズーム比10倍レンジは、接眼視野Φ10.6mm～Φ1.06mmと3μm以下の分解能を達成 ・作動距離90mmは、半導体検査・チャンバー内観察・ピンセット作業・輻射熱対策などの多岐にわたるアプリケーションに対応 ・開口絞り機構により、コントラストや焦点深度の調整が自由 ・AZ9Tカメラ直筒とAZ9C三眼鏡筒（2...

メーカー・取り扱い企業： 日精株式会社 本社

NFP計測装置

NFP計測装置

NFP1006は光導波路、SMファイバ、MMファイバ、POF、半導体レーザ出射端のビーム形状を計測するシステムです。 カメラ方式と専用光学系の組合せにより、二次元強度分布をリアルタイム計測します。 最大×100倍の拡大機能により、分解能0.07μmまで計測可能...

メーカー・取り扱い企業： プレサイスゲージ株式会社

遠赤外線マイクロスコープ

ご要望の対物距離や倍率に合わせて、レンズとカメラの組合せを提案いたしま…

『遠赤外線マイクロスコープ』は、遠赤外線顕微鏡レンズと当社カメラを 組合わせた、高倍率の遠赤外線カメラです。 加冷却熱源との組合せで、半導体部品の非破壊検査などに好適。 顕微鏡レンズのラインアップも充実しておりますので、ご要望の対物距離 （WD：ワークディスタンス）や倍率に合わせて、レンズとカメラの組合せを 提案いたします。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ビジョンセンシング

SEM用 極高真空装置

SEM用 極高真空装置

●特徴 本装置は細く絞った電子プローブで試料上を走査し、試料内部から発生する二次電子で結像させることにより表面形状観察をCRTで観察を行う電子検出形表面分析装置です。半導体の側長、検査装置、マスク描画装置などに応用されます。...

メーカー・取り扱い企業： 北野精機株式会社

【測定分野】　微小サイズ　【TM3】

薄膜と微小領域の熱物性測定に。微小サイズ粒子も自在に測定可能

ーザにより周期加熱 ○従来困難だった微小サイズ粒子も自在に測定可能 【その他の特長】 ○ＳｉＣ複合材料の評価 →粒子サイズは約１００μｍ、粒子はＳｉＣ（シリコンカーバイド） →次世代半導体材料（ワイドバンドギャップ半導体）、研磨用砥粒などに利用 ○樹脂中に埋め込んだフィラーの熱伝導率測定 →フィラー単独の熱物性値管理が可能 →さらなる熱伝導性向上に必要不可欠なデータが得られる...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ベテル　ハドソン研究所

熱物性顕微鏡 サーマルマイクロスコープ/TM3

フィラー、セラミックス、絶縁薄膜、半導体薄膜等、薄膜・微小領域の熱伝導…

サンプルの熱物性を点、線、面で測定することを可能にした装置です。 従来の熱物性測定装置では難しいとされていましたミクロンオーダーでの熱物性値分布も測定出来ます。 非接触かつ高分解能で熱物性の測定を可能にした世界初の装置です。熱浸透率が測定できます。好条件であれば熱伝導率も直接測定可能。...【特徴】 ○検出光スポット径３μmにより高分解能で微小領域の熱物性測定（点・線・面測定）が可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ベテル　ハドソン研究所

【測定分野】　薄膜　【TM3】

薄膜と微小領域の熱物性測定に。構造部材用耐熱コーティングの評価が可能

加熱ダメージ部で熱浸透率の低下（２％程度）を確認 ○試料表面のコーティングの評価（茨城大学工学部） →構造部材用の耐熱コーティングの評価が可能 →超硬工具のコーティングも同様に評価可能 ○半導体レーザの電極部 →絶縁層による放熱性低下を可視化 →薄膜による放熱特性の変化が把握可能 ●詳しくはお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ベテル　ハドソン研究所

XYZ 3軸 ナノマニピュレータ/プローバ

SEM、FIB、光学顕微鏡観察下でのナノ/マイクロ マニピュレーション…

格はお問い合わせください) ・市販のSEM/FIB/光学顕微鏡に組み合わせ可能 ・大気中～超高真空、常温～極低温までの広範囲な動作環境 ・マルチプロービングにも対応 ・マニピュレーション、半導体ナノデバイスのIV測定、抵抗測定、EBIC測定など幅広い用途に対応...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ユニソク

【測定事例】<LED材料>窒化ガリウムGaNの熱的評価【TM3】

青色LEDや半導体の材料で知られる窒化ガリウムを熱的に評価！！

窒化ガリウム（GaN）は、青色LED材料のほか、 シリコンカーバンド（SiC）と同様に、 次世代の「ワイドバンドギャップ半導体材料」として注目されています。 GaN は、Si や SiC のように単体のウエハーで作成されるわけではなく、 Si やサファイア上にエピタキシャル成長で薄膜上に作成されます。 したがっ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ベテル　ハドソン研究所