オイル劣化の診断装置　オイル診断計ODS / WIO

PRオイルの状態をリアルタイムで監視し、機械・設備のトラブルを防ぐ予知保全…

機械設備に重要なオイルは、酸化・異物(コンタミ)・水分の混入等により機能の低下や機械の故障へと繋がるため、設備保全が重要となります。 保全方法には３つのカテゴリーがあり、オイル診断計ODS/WIOは「予知保全」として、オイル劣化による設備トラブルを未然に防ぎ、 設備の長寿命化やランニングコスト削減等の効果が期待される製品です。 [カテゴリー] ・不具合が発生してから対策する「事後保全」 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＭＫＴタイセー

コニカミノルタの色彩計測（物体色）セミナー

PR色彩値の基本から各測定対象物に適した測定手法・色彩値を管理する上での注…

色彩値の基本から、各測定対象物に適した測定手法・色彩値を管理する上での注意点まで、測色をお仕事にされる方にとって必須となる色彩知識を一通り解説するライブ配信形式のオンラインセミナーです。 測定器を使用するときの様子も交えて、色を表す仕組みから測色計の扱い方、日常管理における注意点までを分かりやすく解説いたします。 基礎、実測、運用編の3部構成で、お客様のご興味のあるパートをご受講頂けます。 ...

メーカー・取り扱い企業： コニカミノルタジャパン株式会社 センシング事業部

SUSS MicroTec 両面位置精度測定器 DSM8Gen2

ウェハ表面/裏面のパターンの位置ズレを高精度で測定

DSM8/200 Gen2は2～8インチウェハに対応した両面位置測定装置です。 TIS（装置起因誤差）を除去する機能を備えており、MEMS、パワーデバイス、光デバイスといった分野の両面パターニング基盤において、高精度な測定を実現しています。...

メーカー・取り扱い企業： 兼松ＰＷＳ株式会社

水銀プローバ　CV/IV測定システム

水銀プローバ　CV/IV測定システム

アメリカFour Dimensions社の再現性、安全性に非常に優れた水銀プローブ方式を用いたCV/IV測定システムです。Si、化合物、SOI、バルクといった様々なウェハの特性を測定できます。 【特長】 ◆電極作製が不要。水銀自体が電極となるため、コスト／時間の掛かる 　パターン形成工程が不要。...

メーカー・取り扱い企業： 雄山株式会社 東京支店

抵抗率／シート抵抗測定器【CRESBOX】

抵抗率／シート抵抗測定器【CRESBOX】

ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたし...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

膜厚測定装置『LF-1000』

ウェハ・ガラス基板+鏡面基板上の膜厚測定も可能な膜厚測定装置

『LF-1000』は、分光器と光干渉式膜厚解析ソフトを搭載し、各種パラメータの 設定をする事により膜厚測定を可能とした非接触式自動膜厚測定装置です。 本解析ソフトは薄膜の表面及び基盤との界面からの干渉波形を解析することにより、 非接触で、透明もしくは半透明の薄膜の膜厚、屈折率及び吸収係数を簡単に...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ラポールシステム

半導体パラメータ測定ソフト

簡単操作、高精度測定！安価で、初心者でも使いやすい半導体パラメータ測定…

最大12種類のパラメータを全自動で測定し、そお結果をexcelシートに出力します。その測定したトレースデータをexcelに出力し、同時にI-V特性の作図を行うことも出来ます。さらにパラメータの温度特性の測定ができます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムハウス・サンライズ

高精度測定・簡単操作　有機トランジスタ測定ソフト

高精度測定・簡単操作

MS-Excel上で測定する有機トランジスタ測定ソフト ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムハウス・サンライズ

半導体　簡易型　測定　マークハンドラー　『TM226』

簡易型　測定検査　　測定　マーク　分類　収納　する装置です。

プラステイックステイックに収められた　ICデバイス デイスクリートデバイスを取り出し　接続されたテスターで電気的特性を測定して、レーザーマーキングする　簡易型　常温 測定　マーク　ハンドラー　です ...

メーカー・取り扱い企業： 綜和機電株式会社

半導体チップ温度Tj測定法の種類と特長

試験を実施するにあたりどの方法で測定するのかを選択することが重要な要素…

半導体チップ温度Tj測定法の種類と特長について説明します。 パワーサイクル試験は、デバイスへの通電電流による発熱により Tj(半導体チップ温度)が一定の温度変化を繰り返した際の 熱ストレスに対し、その耐久性を確認...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

拡がり抵抗測定装置『SRP-170/2100』

PN接合の深さおよびキャリヤ濃度分布を測定！オプションにより表面抵抗測…

当社が取り扱う、拡がり抵抗測定装置『SRP-170/2100』をご紹介します。 斜め研磨したSiウェハーを深さ方向に2探針をコンタクトさせ、 そのプローブ間の拡がり抵抗値からSiの深さ方向の比抵抗プロファイル、 EPI...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

抵抗率・厚み測定器 【EC-80SCAN】

抵抗率・厚み測定器 【EC-80SCAN】

ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたし...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

非接触表面抵抗測定器

最大20mm！広い測定ギャップにて測定することが可能！

ドイツNAGY社による渦電流磁界を利用したオンライン、オフラインに対応可能な非接触表面抵抗測定器です。最大20mmという他社製品と比べて広い測定ギャップにて測定することが可能であるため、お客様の様々なアプリケーションにも対応いたします。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー

超高感度DLTS　バルク内欠陥・界面準位測定装置

不良及び結晶欠陥の解析に有効！幅広いクライオスタット用のインターフェイ…

『DLS-83D/1000』は、温度、周波数スキャン、C-V特性等の測定が可能な バルク内欠陥・界面準位測定装置です。 「DLS-1000」は、10^8cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な 測定に対応。ライブラリーを標準装備しておりますので解析が容易...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

評価試験サービス(過渡熱抵抗測定)

使用材料別の放熱特性を比較！過渡熱抵抗測定を行った事例をご紹介

当社では、半導体関連製品の放熱特性評価などの「評価試験サービス」を 行っております。 サンプル3種類(接合材違い)の放熱特性を、過渡熱抵抗測定で確認して 比較した事例をご紹介。 各サンプルを比較したとき、熱抵抗の差が一番大きく見れるのが 「接合材」の領域であり、接合材の選定は放熱特性に大きな影響を 与えることが確認できました。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社佐用精機製作所

測定ハンドラー テーピング装置『TH288LD』

パワートランジスタ　測定検査　外観検査　テープ収納　チューブ収納

『TH288LD』は、プラステイックチューブに収められた ガルウイングリード形状のパワートランジスターを高温状態および 常温状態で接続されたテスターで電気的特性を測定し、その後 外観検査を行い、チューブ収納または、テーピング収納する装置です。 各構成は必要に応じて変更可能。また、デバイスのリード形状について ストレートリードL曲げ品など対応も可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 綜和機電株式会社

抵抗率／シート抵抗測定器【WS-3000】

抵抗率／シート抵抗測定器【WS-3000】

ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたし...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

測定装置『SemiScope PLIS-TEC』

拡張欠陥も測定可能！スペクトル線分析ができるSemiScope

『SemiScope PLIS-TEC』は、PLによる結晶欠陥の研究において 画期的な測定装置です。 PLイメージング画像で選択した線分において、その線分を1000点に分割した 各スペクトルを同時に測定することができます。 また、線分をスペクトル化するため、基底面転移のよう...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フォトンデザイン

抵抗率／シート抵抗測定器【RT-3000/RS-1300】

抵抗率／シート抵抗測定器【RT-3000/RS-1300】

ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたし...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

TDDB測定用プローバー

TDDB測定用プローバー

TDDB測定用専用プローバーです。 専用セラミックカードを使用すれば、8インチウエハー の全面一括コンタクト測定が可能で、測定時間の短縮に 大きく役立ちます。...

メーカー・取り扱い企業： イーエスジェー・プローブテクノロジー・ジャパン株式会社 関東事業所

エレクトロニクス･半導体業界向け硬さ･弾性率･粘弾性評価

セミコンダクタ・スマートフォンなどの研究開発のためのナノインデンテーシ…

ンデンテーションテスタによる表面機械特性評価が用いられます。 微小荷重にてダイヤモンド圧子を対象サンプルに押し込むことにより、硬さ・弾性率・粘弾性・貯蔵弾性率・損失弾性率・クリープ率などの物性値を測定することができます。 ナノインデンテーション試験では数百ナノ～数百ミクロンの薄膜や柔らかいポリマーの評価が可能です。 測定例 -スマートフォン等のディスプレイ用有機材料・ポリマーフィルム ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アントンパール・ジャパン

抵抗率／シート抵抗測定器【NC-10】

抵抗率／シート抵抗測定器【NC-10】

ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたし...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

抵抗率／シート抵抗測定器【NC-80MAP】

抵抗率／シート抵抗測定器【NC-80MAP】

ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたし...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

非接触3D表面形状測定システム

非接触3D表面形状測定システム

お客様にてご導入されております金属顕微鏡に取付けるだけで、表面形状の3D自動検査を実現するための3D表面形状測定モジュール ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ウェル

RFID用ICチップ測定プローブ -HF・UHF帯対応プローブ-

接続同軸ケーブルを校正するだけで正確にＩＣチップの測定ができます

□■RFID用ICチップ測定プローブ の特徴■□ ・ 接続同軸ケーブルを校正するだけで、簡単にICチップのインピーダンスが測定できます ・ UHF帯用測定プローブ、HF帯測定プローブを提供可能 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ペリテック 神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所

500℃温度サイクル用薄膜ストレス測定装置　FLX-2320-S

500℃温度サイクル用　薄膜ストレス測定装置　FLX-2320-S

室温から500℃までの温度範囲で 非接触・非破壊にて薄膜ストレスを 正確に測定することが可能な測定装置 【特徴】 ○膜付けされた薄膜によって生じる基板の曲率半径の変化量を算出 　曲率半径は、基板上を走査するレーザーの反射角度から計算されるため 　膜付けの前後で曲率...

メーカー・取り扱い企業： ヤマト科学株式会社

動的遠心加速度試験装置　Ｍｏｄｅｌ DAT-1

今までリアルタイムで測定できなかった半導体の加速度試験が測定できます。

半導体デバイスの品質管理において、動作状況での加速度を印加し半導体デバイスの特性を測定する方法として、衝撃試験機の単独試験や振動試験機を用いた方法で行われてきました。しかし、これらの方法では印加加速度に限界があり、しかも連続的な高加速度を印加することができませんでした。 動的遠心加...

メーカー・取り扱い企業： 三井電気精機株式会社

光学式細孔率・細孔分布測定装置

世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター）細孔…

■ 前処理が必要がなく、 20分/ポイントと従来型に比べて高速に測定が可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

パワー半導体ウェーハ同時測定テストシステム

パワー半導体のウェーハを32個まで測定が可能

テストボックスは、パワー半導体のウェーハを1個から最大32個まで、弊社のテストシステムと組み合わせることにより、同時測定を実現しました。 テストボックスは、他社製のプローバに対応しており、それぞれ異なったメーカーのプローバでも接続が可能です。 また、本体のテストシステムは、最大、2000V/30Aにまで対応してお...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シバソク

ライフタイム測定装置

u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケッ…

オプションにて様々な電気的測定のマッピング測定が可能です。 (拡散長、鉄濃度、比抵抗、シート抵抗、LBIC、反射率、IQE、PN判定)...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

携帯型鉄筋腐食診断器 CM-V　レンタル

コンクリート構造物をより長く・より美しく！

「携帯型鉄筋腐食診断器 CM-V」は、表面の劣化・はく離を測定するとともに、独自の研究により表面劣化の影響を受けにくいコンクリートの強度推定を実現しました。 測定結果は従来のハンマータイプの非破壊検査装置に比べ、格段に精度を増しています。 パソコン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社レックス

RFID測定およびコンサルティングサービス -レポートを提示-

独自の『LabVIEW』計測技術を用いた複数規格対応『RFID総合試験…

■□■RFIDテスターの特徴■□■ ・LabVIEWプログラムのため迅速なカスタマイズが可能 ・タグ及びリーダーの測定結果を瞬時に表示 ・周波数特性をビジュアルに測定 ・タグ・リーダーの信号をシュミレート ・開発から生産までスムーズに対応 ・ISO・EPC Global仕様、セキュアRFIDプロトコル完全対...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ペリテック 神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所

半導体基板直径測定装置(DMC-03型）

Green LED光にてウェーハ端面の検出を行い、校正用ウェーハ（基準…

直径測定値(平均直径値等）を付属パソコンにエクセル形式で保存します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジャステム

比抵抗測定器

渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵…

太陽電池のブロック/ウェハー/セルのマッピング測定可能な装置もご提供可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

薄膜太陽電池パネル測定装置

薄膜太陽電池パネル測定装置

太陽電池で必要な様々な光学系、電気系測定が1台で可能です。 　- 分光エリプソ(膜厚、光学特性) 　- ライフタイム測定 　- シート抵抗測定 　- 比抵抗測定 　- ラマン分光 第10世代パネル対応まで対応可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置

単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置

ライフタイム測定器 WT-2000PIは、e-PCD技術を使用し、パッシベーション処理なしの単結晶シリコンインゴット状態で少数キャリアライフタイムを測定します。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

300mmウェハ対応バンプテスター CondorSigmaW12

最大300mm（12インチ）ウェハ上のバンプのシェア、ツィーザープルテ…

最大300mmのウェハバンプのシェアテスト、ツィーザープルテストに最適な多機能ボンドテスター。回転式測定ヘッドにより、センサー（ロードセル）の作業者による付け替え不要。最高50mm/secのステージ移動速度により広範囲のバンプを短時間で測定。回転式シェアセンサーによりウェハの回転が不要。パターン認識対...

メーカー・取り扱い企業： テクノアルファ株式会社

卓上AFM

電磁スキャナー式（特許取得済み） ダメージレスで非破壊で測定可能 …

初心者でも正確な測定が可能です！ サンプルをセットするだけで非破壊で測定できます！ ハンディタイプからカセット付の全自動測定までラインナップがあります。 【製品特徴】 　・奥行幅、共に１５cmの超小型でどこにで...

メーカー・取り扱い企業： ブルーオーシャンテクノロジー株式会社

MEMSテストハンドラ『ULTRA P』

MEMSデバイスの測定に好適！温度環境下測定にも対応

『ULTRA P』は、加速度センサー、ジャイロセンサー等MEMSデバイスの ファイナルテスト用に開発されたハンドラーです・ 独自の搬送方式を用いることで最大96サイトの同時測定数を実現し、低温・ 高温測定、6DOF（3ポジション、3軸ジャイロ）の測定が可能。 また、研究開発用にマニュアル測定を行える『ULTRA L』という測定部 ユニットも準備しております。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テセック

フイルム膜圧測定装置システム

画像処理装置と位置決め装置及び光学顕微鏡などを用いて2枚のフイルムを位…

位置決め装置を総合的にアドバイスし、御客様のニーズに会わせた製品を構築する会社です。 設計、製作、検査、納入まで一環した製品作りに取組みかゆいところに手が届く小回りのきく対応が出来ます。 ...画像処理装置と位置決め装置及び光学顕微鏡などを用いて2枚のフイルムを位置決めし(十字マーク)、貼り合わせる装置です。 ...

メーカー・取り扱い企業： ワイヤード株式会社

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

シリコンウェハーの結晶欠陥が高速測定可能。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

非接触式 直径測定器(DMC-02型)

レーザ光にてウェーハ端面の検出を行い、校正用ウェーハ（基準ウェーハ）と…

・非接触にてウェーハの直径を測定します。 ・ステージを回転する事で、A直径（3ポイント）・B直径を測定することが出来ます。 ・バーコードリーダにてLOT NO. 等の読込が出来ます。 ・測定値は、付属パソコンにExcel形式...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジャステム

インライン型ウェハー測定モジュール

インライン型ウェハー測定モジュール

結晶系太陽電池向け品質管理、製造歩留向上のためのインライン全自動ウェハー測定モジュールです。　 搬送用ベルト上でノンストップにてライフタイム、比抵抗/厚さ、シート抵抗を測定します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

ＮＥＷ温度可変レーザ三次元測定機

リフロー時における熱変形を高精度測定　半導体パッケージ・プリント基板・…

正確な温度制御 　試料の加熱・冷却・温度保持をおこなう恒温チャンバは、液体窒素流量制御とヒータ出力制御によりマイナス７０℃から３５０℃までの温度範囲で正確な温度制御をおこないます。 充実した測定機能　各種解析サポート機能　多彩な解析と機能 　◇Surface測定・Clossline測定・Lead・BGAコプラナリティ測定 　◇解析機能は、断面形状出力・曲率算出・温度プロファイル設定機能...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日立テクノロジーアンドサービス

高機能SoC/AnalogテストシステムModel 3680

高機能SoC/Analogテストシステム 優れたマルチメディアオーディ…

デジタル測定及びアナログ測定基板を24枚実装可能(組合せ自由) 最大データレート150 Mbps 最大512パラレルテスト対応 最大2048デジタルI/Oピン 最大256 MWパターンメモリ(512MWオプショ...

メーカー・取り扱い企業： クロマジャパン株式会社

スキャナーシステム CS-700 シリーズ

測定デバイスを自動的に切り替える「スキャナーシステムCS-700シリー…

CS-700シリーズは、半導体に高電圧・大電流を与えながら、測定デバイスの安全な連続切り替えが可能です。 従来は、測定のたびに必要だった結線作業が不要となり、実験や評価作業が大幅に改善されます。リレーユニット 1 台で最大10 チャネルの信号切り替えが可能な上...

メーカー・取り扱い企業： 岩崎通信機株式会社

驚異的超高速・高精度・ディジタル抵抗チェッカ

Ｄ，Ｆ，Ｇ，Ｊ，Ｋ級、チップ、メルフ、リードタイプ抵抗の選別機、テーピ…

●極小チップ対応（低測定電力） ●超高速：0.7msec. ●熱起電力キャンセル測定により高精度／高安定度 ●アナログ部〜ディジタル部アイソレーションにより耐ノイズ向上により高安定度 ●レンジごとに測定値積分時間設...

メーカー・取り扱い企業： アデックスエール株式会社