3DCADのシュミレーション時間を大幅短縮！AIを用いた工数削減

PR自動車、機械、電子機器などの3DCADエンジニアの方必見！シミュレーシ…

『3D Surrogate Model』は、既存のCAE解析ソルバーで実施した シミュレーション結果をAIにトレーニングさせ、そのトレーニングされた AIモデルを用いて、同様のシミュレーションをAIに実施させる意図で 開発された製品です。 シミュレーションにAIを利用しており、計算時間が早く、単純な乗算のみのため 発散により解析結果が止まることがありません。 また、メッシュをそのままAIモデル...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アストライアーソフトウエア

【CAEの受託解析・委託解析・請負】受託解析・技術者派遣サービス

PRダイコーテクノでは、CAE（解析）サービスとして、受託解析から解析技術…

ダイコーテクノでは、CAE（解析）サービスとして、以下のようなお客様にご利用頂いております。 【受託解析】 ・解析が必要だが人材もツールもない ・どのような手法で対応すればよいか判らない ・定型的な作業の為、外部委託で効率化させたい ・トラブル対応の為、至急確認を行いたい ・解析用のモデル作成だけを外部にお願いしたい ・試験結果と解析の合わせ込みをしたい 【技術者派遣】 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ダイコーテクノ

白色干渉計搭載 レーザ顕微鏡『VK-X3000』

ナノ・マイクロ・ミリが一台で測れるトリプルスキャン方式のレーザ顕微鏡

サンプルワークの素材や形状や測定範囲に合わせて好適なスキャン方式を 選択することにより、高精度に測定が可能。 高さや寸法を計測するだけの従来型の測定ソフトではなく、さらに一歩 踏み込んだ解析を豊富な解析ツールによって思いのままに実現します。 【特長】 ■ナノ・マイクロ・ミリが一台で測れるトリプルスキャン方式 ■292種類の解析ツールにより、知りたいことはこの一台で完結 ■光...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社キーエンス

比類なき高視野・高分解能な干渉型３Ｄレーザー走査顕微鏡

他に比類なき高視野・高分解能を実現した、干渉型３Ｄレーザー走査顕微鏡（…

） 　　サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞計測可能。 　　走査範囲は30ｍｍ×50ｍｍ、モニター上で拡大観察可能 　　セラミックスなどの細い傷、研磨不良、欠けなどが検査可能 　　干渉縞解析ソフトはオプション ●円筒用レーザ走査干渉計（型番：LSMi-7500） 　　円筒の全面で干渉縞を観察可能、円筒の精密検査が可能 ●正立型レーザ走査干渉計（型番：LSMi-8000） 　　非...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ワイ・ドライブ

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder30A

限界に迫る感度・空間分解能を追求、他システムとの複合機「ラマン分光測定…

Nanofinder（ナノファインダー） ―　空間分解能200ナノメートルで品質の良いラマン分光分析と解析評価を。 東京インスツルメンツは20年前に業界初の「空間分解能200ナノメートルのラマンイメージング」を先駆け開発し、いまも「最先端の分析と評価技術」に挑み続けています。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東京インスツルメンツ

白色干渉計搭載　レーザ顕微鏡　VK-X3000

ナノ・マイクロ・ミリ　これ一台で測定は完結する

■レーザ共焦点・フォーカスバリエーション・白色干渉の3つの異なるスキャン原理を一台に ■最高分解能0.01mm ■292種類の解析ツールで一歩踏み込んだ解析を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社キーエンス

超解像共焦点レーザー顕微鏡システム AX/AX R

AIを活用した画像取得・解析機能を搭載し、信頼性の高いデータを効率的に…

株式会社ニコンソリューションズ 超解像共焦点レーザー顕微鏡システム AX/AX R with NSPARCは、かつてない広視野と高いピクセル解像度で、組織深部までの広範囲にわたる生命現象の詳細を逃さず捉えます。また、圧倒的な高感度と高速スキャンにより、生体試料に与える光毒性を抑えてダメージを低減します。 〇特長 ・広視野イメージングで、より多くの情報をキャッチ ・生細胞にやさしい高速イメージング...

メーカー・取り扱い企業： アズサイエンス株式会社 松本本社

単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡 Luminosa

単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡。最高のデータ品質と使い易さ兼ね備え、自動…

◆最も信頼性の高い品質と精度 同じ顕微鏡でガルバノスキャン (最大速度) と対物スキャン (最大光子検出効率)を搭載。 ◆時間を短縮しサンプル解析に集中可能 直感的なワークフローで効率的で最小限のユーザー操作でデータ取得が可能。 ◆高度な柔軟性 ワンクリックで観察範囲を調整可能。ソフトウェア経由でオプトメカニクスコンポーネントにアクセス可能...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

走査電子顕微鏡観察の受託サービス｜JTL

SEM/FE-SEMによる高倍率での表面形態観察を実施します。

SEM観察では表面の凹凸状態だけでなく、組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察も実施可能です。FE-SEM観察では走査型電子顕微鏡（SEM）より高倍率での観察が可能で、さらにEBSDによる結晶方位解析も実施可能です。また、SEM/FE-SEMに付属するEDXにて、元素分析を行うことも可能です。 JTLでは、SEM/FE-SEMによる観察・分析の前後に必要な工程である、評価試験や断面研磨、寸法測...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社