• 3DCADのシュミレーション時間を大幅短縮!AIを用いた工数削減 製品画像

    3DCADのシュミレーション時間を大幅短縮!AIを用いた工数削減

    PR自動車、機械、電子機器などの3DCADエンジニアの方必見!シミュレーシ…

    『3D Surrogate Model』は、既存のCAE解析ソルバーで実施した シミュレーション結果をAIにトレーニングさせ、そのトレーニングされた AIモデルを用いて、同様のシミュレーションをAIに実施させる意図で 開発された製品です。 シミュレーションにAIを利用しており、計算時間が早く、単純な乗算のみのため 発散により解析結果が止まることがありません。 また、メッシュをそのままAIモデル...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アストライアーソフトウエア

  • 流体解析AIパッケージ『DeepLiquid Lite』 製品画像

    流体解析AIパッケージ『DeepLiquid Lite』

    PR排水処理設備の無事故継続なら!流体解析AIを異常発見の「目」にしません…

    流体解析AIパッケージ『DeepLiquid Lite』は、排水処理施設の現場にて、担当者が実施している巡回監視業務を自動化し、水質・水面などにおける異常発生の見逃し防止&早期発見にご利用いただけるサービスです。 流体解析AIのベースモデルにより、低価格、短期間での導入が可能です。 また、めったに異常発生がない現場でも、正常データで学習するため、 少数の異常データでユーザーの課題に合わせた異常判...

    メーカー・取り扱い企業: AnyTech株式会社

  • FPD 評価・検証 製品画像

    FPD 評価・検証

    特性・構造上の潜在的問題点がないかを評価!信頼性試験手法・条件をご提案

    当社では、FPDを様々な角度から徹底評価、検証いたします。 構造解析では、FPD製品・先端技術が組み込まれた製品に対して、特性・構造上 の潜在的問題点がないかを評価し、ご報告。不良解析では、増え続ける 海外調達品の製品不良に対して最短ルートでアプローチ・原因究明...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ICの不良解析 製品画像

    ICの不良解析

    不良モードに適した様々な手法を組み合わせることで、不良ノードの特定から…

    株式会社アイテスの『ICの不良解析』についてご紹介します。 当社では、ICに対して、不良モードに適した手法を組み合わせることで、 不良ノードの特定から物理解析までを一貫して対応致します。 Layout Viewerによ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワーデバイスの故障解析 製品画像

    パワーデバイスの故障解析

    ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

    あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等の パワーデバイスに対し最適な前処理を行い 裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理-裏面研磨-  各種サンプル形態に対応します。  Siチップサイズ:200um~15mm角 ■不良箇所特定-裏面I...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 液晶パネルの不良解析 製品画像

    液晶パネルの不良解析

    点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます…

    不良現象の確認から原因の解明、詳細な不良解析まで 液晶パネルの不良診断メニューをご提供いたします。 初期解析では、現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、 不良症状に合わせて実施。 詳細解析では、初期解析での診断結果...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSD解析 製品画像

    EBSD解析

    結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能!EBSD(電子線後方散乱回折)法を…

    EBSD法とは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターン の結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を 解析する手法です。 金属やセラミック等の結晶質のものは、立方体等の結晶格子が多数集まって 構成されていると考えられおり、当解析法では、それがどのような方向を 向いているのか(結晶方位)を解析。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 静電破壊した橙色LEDの不良解析 製品画像

    静電破壊した橙色LEDの不良解析

    良品と静電気(ESD)破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光…

    当社では、静電破壊した橙色LEDの不良解析を行っております。 ESD試験にて破壊され、発光強度の低下したLEDはエミッション発光と IR-OBIRCH法を用いて解析し、不良現象を明らかにすることが可能です。 「良品と静電気(E...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワー半導体の解析サービス 製品画像

    パワー半導体の解析サービス

    故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…

    株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。 当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンド...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • LCDパネル良品解析 製品画像

    LCDパネル良品解析

    LCD部品、製品の品質状態を確認!液晶パネルの各構造を当社の持つ分析手…

    アイテスでは、LCD部品/製品の良品解析を行っており、当社の持つLCDの 知見から製品の品質状態を確認いたします。 対象パネルは、SEG-LCD,AM-LCD(a-Si TFT/LTPS TFT),OLED 車載,モニター,モバ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 海外製 液晶ディスプレイの良品解析 製品画像

    海外製 液晶ディスプレイの良品解析

    不具合が出れば詳細解析も!海外製LCD導入ご検討のお客様向け簡易版解析

    株式会社アイテスの液晶ディスプレイの良品解析についてご紹介します。 まず、外観観察としてセルパネル状態で、FPC、FOG、COG、 シール材に着目して光学顕微鏡観察を行い、次にセルパネルを解体して、 シール材やPI膜、TFT形状を確...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • SiCデバイスの裏面発光解析 製品画像

    SiCデバイスの裏面発光解析

    SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対…

    当社では、『SiCデバイスの裏⾯発光解析』を行っております。 SiCは従来のSi半導体と比べ、エネルギーロスの少ない パワーデバイスであり注目を集めていますが、Si半導体とは 物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となりま...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • フレキシブル基板(FPC)のEBSD解析 製品画像

    フレキシブル基板(FPC)のEBSD解析

    屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所などが分かる、EBSD解析をご紹介…

    フレキシブル基板(FPC)のEBSD解析をご紹介します。 可動部や折り曲げ機構がある製品に使用されるフレキシブル基板について、 屈曲部と固定部でCu配線に違いがあるかEBSDによる確認を実施。 その結果、光学像では屈曲部と固...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 発光解析のための半導体の裏面研磨 製品画像

    発光解析のための半導体の裏面研磨

    様々な形態の半導体で裏面研磨が可能!素子、不具合の様子の観察が出来ます

    裏面OBIRCH/発光解析や裏面発光解析の前処理として各種形態のサンプルの 裏面研磨を行います。 これは、裏面から解析を行うため不可欠な前処理です。 裏面から解析することで、不良を保持したまま発光を検出できるだけで...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 接合・接着・実装部の不良解析をはじめとした解析技術のあり方 製品画像

    接合・接着・実装部の不良解析をはじめとした解析技術のあり方

    分析・解析技術をどのような観点から進めるべきかをご紹介!

    当社では、電子部品ばかりではなく無機・有機素材をはじめ、多くの製品、 部品、素材を故障・不良解析、構造解析、良品解析、信頼性評価といった面で お客様の課題・問題解決に向けてサポートしています。 当資料は、分析・解析技術をどのような観点から進めるべきかをご紹介。 お客様にとっても問...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • LEDの故障解析 製品画像

    LEDの故障解析

    高度な試料作製技術と半導体用の故障解析装置を応用!不点灯や輝度劣化の原…

    当社の「LEDの故障解析」では、高度な試料作製技術と半導体用の 故障解析装置を応用し、LEDの故障解析を行い不点灯や輝度劣化の 原因を調査します。 「LED不良モードの切り分け」では、レンズ研磨後の点灯試験、 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パネル偏光板劣化解析 製品画像

    パネル偏光板劣化解析

    パネル偏光板の劣化解析例を掲載!信頼性試験やHS-GCMS分析によるア…

    ス、ポリビニルアルコール、 ポリエチレンテレフタレートなどを貼り合わせた多層フィルムで出来ています。 当資料では、信頼性試験後のパネル偏光板をHS-GCMS分析、熱脱着GCMS分析により劣化解析した事例をご紹介しています。 目に見えない劣化でも、この分析なら見つかるかも?! 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■信頼性試験 ■HS-GCMS分析によるアウトガス分析 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します! 製品画像

    電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します!

    過渡熱測定可能パワーサイクル試験、カスタマイズ発光/OBIRCH解析装…

    アイテスでは信頼性試験、分析・解析などパワーデバイスのトータルソリューションサービスを行っております。過渡熱測定を同時に行える「パワーサイクル試験機」をはじめ、「化合物半導体の故障解析」「拡散層の濃度解析」「モジュールの断面解析」な...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料集】LCDパネル解析資料集 製品画像

    【資料集】LCDパネル解析資料集

    LCD解析でお困りのあなたに、 私たちアイテスが解決のお手伝いをしま…

    LCD解析でお困りのあなたに、 私たちアイテスが解決のお手伝いをします! 構造解析:  刻々と進化するFPD製品・先端技術が組み込まれた製品に対して、  特性・構造上の潜在的問題点がないかを評価し...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 海外製ディスプレイの不良解析 製品画像

    海外製ディスプレイの不良解析

    不良解析の実績多数!現象の確認から不良発生メカニズムの推測など、詳細な…

    当社では、「海外製ディスプレイの不良解析」を行っております。 現象の確認から、不良発生メカニズムの推測、原因となった 生産工程の絞り込みなど、詳細な解析が可能です。 点灯観察、パネル解体、光学顕微鏡観察を不良症状に合わせて実...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • TEMによる電子部品・材料の解析 製品画像

    TEMによる電子部品・材料の解析

    TEM(透過型電子顕微鏡)は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…

    TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、 あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の 解析を行う事ができます。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 化学反応機構研究所材料劣化解析(PETの分解・劣化) 製品画像

    化学反応機構研究所材料劣化解析(PETの分解・劣化)

    ポリマー材料やサンプルの状態などに応じて適切な分析方法をご提案!

    株式会社アイテスでは、材料劣化解析を行っております。 ポリマー材料やサンプルの状態などに応じて適切な分析方法をご提案。 材料がどのような劣化過程を辿ったかを解析し、ポリマー材料や使用環境を 適切にすることで製品の寿命を...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 酸化物系全固体電池の故障解析事例 製品画像

    酸化物系全固体電池の故障解析事例

    高い安全性を持ち、様々な環境下で使用できる!一貫した解析が可能です

    信頼性試験によって破壊した酸化物系全固体電池に対して、故障箇所 特定~断面観察までの一連の解析を実施した事例をご紹介します。 発熱解析により側面で発熱が強い傾向が認められ、X線透過観察では、 X線透過像で発熱が認められた境界付近に白い線状のコントラスト異常 が見られました。白線部で...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】太陽電池の不具合と解析事例 製品画像

    【資料】太陽電池の不具合と解析事例

    様々なアプローチにより不具合解析・分析を行った事例を掲載しています!

    当資料は、太陽電池モジュールの不具合の紹介と、その解析に当たって 様々な断面加工を行い、観察・分析を行った事例を劣化要因とともに 掲載しています。 「太陽電池の基本構造」をはじめ「非破壊解析と破壊解析」について 図や写真を用いてご紹介。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • LEDのトータルサポートサービス 製品画像

    LEDのトータルサポートサービス

    LEDをあらゆる角度から徹底評価、検証します

    ■総合力  信頼性試験から電気特性測定、光学特性測定、さらに分析・解析までの一貫評価耐性 ■充実した解析手法  ・順方向バイアス解析/逆方向バイアス解析  ・可視~赤外まで検出  ・発光解析/OBIRCH解析 ■特殊技術  可視光領域をフィルタリングするこ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 発熱解析による電子部品の故障箇所特定 製品画像

    発熱解析による電子部品の故障箇所特定

    故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能!高精度な発熱箇…

    発熱解析は、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • UV照射によるフィルム物性変化の解析 製品画像

    UV照射によるフィルム物性変化の解析

    ブルーライトカットフィルムの光透過性がどのように変化するか、分光光度計…

    を用いて検証。 波長350~400nmの光の透過性が、UV照射によって、さらに低下しました。 また、フィルム内部で起こっている反応に関して、GC-MSを用いて分析を 行いました。 【解析内容】 ■通常PETフィルムとブルーライトカットフィルムの光透過特性 ■ブルーライトカットフィルムへのUV照射 ■フィルム内成分のGC-MS分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ナイロン6.10の構造解析 製品画像

    ナイロン6.10の構造解析

    特長を当社のFT-IR、熱分解GC-MSを使用して分子レベルで解き明か…

    アイテスでは『ナイロン6.10の構造解析』を行っています。 ナイロンはしなやかさを備え、絹に近い感触を持ち、その一方で、 「鋼鉄より強く、クモの糸より細い」という天然繊維にない高い強度や 耐久性を持ちます。 その特長を当社...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • Liイオン電池セパレータの解析 製品画像

    Liイオン電池セパレータの解析

    高温時におけるポリマー溶融の遮断機能について確認しました!

    リマー溶融の遮断機能について 確認しました。 資料では、Liイオン電池セパレータの材料分析や高温環境下における セパレータの状態変化観察をグラフや写真を用いてご紹介しております。 【解析概要】 ■Liイオン電池セパレータの材料分析 ■高温環境下におけるセパレータの状態変化観察 ・セパレータを135℃の一定温度で時系列的に断面の状態変化を  FIB/SEMにて観察 ※詳...

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  • 実装部品接合部の解析 製品画像

    実装部品接合部の解析

    機械研磨法に化学エッチング、イオンミリング、FIB加工を施すことにより…

    電子部品の接合部は基板全体の信頼性に大きな影響を及ぼします。 特にはんだ接合部においては、形状のみならず、 金属組織の観察が重要になります。...■基板接合部機械研磨  +化学エッチング  +イオンミリング  光学顕微鏡、SEMによる観察 ■FIBによる断面作成  SEMによる観察...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • スイッチ接点不良の解析事例 製品画像

    スイッチ接点不良の解析事例

    外観確認、電気的な確認、X線での内部観察を実施!解析事例のご紹介

    電源が入らなくなった家電のスイッチ部にて故障が推測されたことから、 解析事例を作業フローと共に紹介します。 最初に外観の観察にて、膨れや⻲裂、変⾊などの形状変化がないか確認。 電気的な確認では不具合が再現されるか確認したりオープンなのか ショートなのか等を確認...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【不良解析事例】ACアダプターのX線観察 製品画像

    【不良解析事例】ACアダプターのX線観察

    非破壊で行えるX線観察は初期観察に有効!不良解析事例をご紹介します

    ACアダプターのX線観察による不良解析事例をご紹介します。 出力が安定しないACアダプターをX線観察装置(YXLON社製Cheetah EVO) により観察したところ、断線部位が発見されました。 透視観察で、内部の部品や実...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • アイテス 装置一覧 製品画像

    アイテス 装置一覧

    アイテスの解析・評価・試験サービスに使用する装置一覧です

    アイテスは、最先端産業分野でお客様の課題に真摯に取り組む 解決提案型企業です。 各種保有装置を駆使し、最適なソリューションを提供します。 ■製品解析/不良解析/故障解析  形態観察・電気特性測定・不良解析・故障解析・試料加工 ■信頼性評価試験  信頼性評価試験・ESD/ラッチアップ試験・強度試験・光学特性 ■物理解析/化学分析  物理...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 品質技術トータルソリューション 製品画像

    品質技術トータルソリューション

    製品企画段階から性能、信頼性、廃棄、リサイクルまで考慮した品質への取組…

    ●製品ライフサイクル全般をカバーする総合的な技術サービス  電子部品の品質向上のために必要な開発時の原材料評価、信頼性試験と結果解析、出荷後の故障解析と結果の開発・製造現場へのタイムリーなフィードバック、さらには品質問題解決のコンサルティングまで、製品ライフサイクル全体にわたりご支援します。 ●信頼性試験の結果を速やかに解析...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 半導体製品の信頼性トータル・ソリューション 製品画像

    半導体製品の信頼性トータル・ソリューション

    半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難をサポート

    【試験・評価・分析・解析】  ●信頼性試験   ■温度サイクル試験   ■冷熱衝撃試験   ■高温保存試験   ■高度加速寿命試験   ■プリコンディショニング   ■ホットオイル試験   ■In-situ...

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  • EBSD法による解析例 製品画像

    EBSD法による解析

    EBSDパターン(菊池パターン)、金ワイヤーボンド接合部の解析例をご紹…

    【金ワイヤーボンド接合部 解析例】 ■逆極点図方位マップ(Inverse Pole Figure:IPFマップ) ■逆極点図を基にした結晶方位マップ ■Grain Reference Orientation Deviati...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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    【EBSDによる結晶解析】 アルミ溶接部(スポット溶接)

    溶接部は大きな結晶粒が多く分布していることが確認できた解析例をご紹介!

    ポット溶接したサンプルについて、 溶接部の断面を作製し、EBSD分析を実施。 結晶粒サイズの分布では、母材部に比べ、溶接部は大きな 結晶粒が多く分布していることが確認できました。 【解析概要】 ■結晶粒の可視化 ・母材部に比べ、溶接部は結晶粒の形状や大きさが異なることが分かる ■結晶粒サイズの分布 ・母材部に比べ、溶接部は大きな結晶粒が多く分布していることが確認できる ...

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  • 【資料】MEMS部品の構造解析 製品画像

    【資料】MEMS部品の構造解析

    MEMS部品の構造を非破壊・破壊的手法を組み合わせ、総合的に解析

    当資料では、MEMS部品の構造解析についてご紹介しています。 X線透視観察にて、パッケージ内部の構造を観察する“加速度センサーの 非破壊観察”をはじめ、“加速度センサーの機械研磨後、光学顕微鏡・ SEM観察”や“マイクロフ...

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  • 【資料】反応熱分解によるポリカーボネート劣化解析 製品画像

    【資料】反応熱分解によるポリカーボネート劣化解析

    材料評価や不良品解析に!分解生成物の違いから、かかった負荷や劣化機構に…

    す。 しかし優れた性質を持つポリマーであっても、使用環境や経時変化により 化学変化、いわゆる劣化が生じます。 当資料では、UV照射及び恒温恒湿試験を行ったポリカーボネート材料の 劣化解析例を紹介します。 【掲載内容】 ■ポリカーボネートの反応熱分解GC-MS分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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  • EBSD法によるCu結晶解析 製品画像

    EBSD法によるCu結晶解析

    Cu板における圧縮前後での変化を観察!圧縮前後の結晶粒径の半化を比較で…

    EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折 パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに 定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や 応力ひずみ等の材料組織状態を調べる手法です。 Cu板における圧縮前後での変化観察では、IQマップ、GRODマップ、 IPFマップ(Axis3方向)を使用し、圧縮前後の結晶粒径...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】液晶材料とその分析技術 製品画像

    【資料】液晶材料とその分析技術

    分子構造から解析する、アイテスの技術力を図や表とともにわかりやすく解説…

    当資料では、分子構造解析のための分析手法として一例をご紹介しています。 液晶高分子(LCP)をはじめ、IRによる構造解析やラマンによる構造解析、 GC-MS分析による低分子液晶(for LCD)のTICデータ、およ...

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  • ラマンUV硬化樹脂 製品画像

    ラマンUV硬化樹脂

    ラマンスペクトルには有機化合物の官能基が反映!硬化反応がある程度推定可…

    当社では、UV硬化性樹脂のUV照射前後のスペクトルを 解析しております。 UV硬化樹脂(アクリル系)に紫外線を照射し、照射前後の ラマンスペクトルを取得。 ラマンスペクトルの解析により硬化反応がある程度推定可能です。 より詳しい硬化モード硬...

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  • 液晶ディスプレイの信頼性トータル・ソリューション 製品画像

    液晶ディスプレイの信頼性トータル・ソリューション

    海外製液晶ディスプレイの信頼性に問題を抱えるお客様のために、信頼性試験…

    場で問題を起こしています。 アイテスでは豊富な経験と最新設備により、信頼性試験のデザインから 試験前後の目視検査を行い、お客様の抱える信頼性問題を解決します。 さらに、故障モードの分類から故障解析、材料分析まで御支援します。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ウィスカ評価 製品画像

    ウィスカ評価

    検査員が逃さず観察!信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能で…

    鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生 する金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。 当社では、信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です。 基板中のどの部品、どのピンにウィスカが発生しているか検査員が 逃さず観察します。 【特長】 ■信頼性試験後に実装基板の外観観察を行い、ウィスカ有...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 似て非なる物の解析基本手法 製品画像

    似て非なる物の解析基本手法

    応用範囲が広い光学顕微鏡観察からSEM観察、EDX元素分析までの流れを…

    解析手法の基本的で応用範囲が広い光学顕微鏡観察からSEM観察、 EDX元素分析までの流れをご紹介致します。 光学顕微鏡による観察は基本的な観察手法の一つであり、大まかな 形状観察等を素早く行えます。また、特長は色情報が得られる事で、 腐食等の変食を伴う異常の観察に活躍。 当資料では、この他にも「SEMによる観察」や「EDXによる元素分析」を 写真やグラフを用いて詳しく解説しております...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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    【EBSDによる解析例】シリコンウエハ

    測定したシリコンウエハは単結晶!IPFマップ、極点図、逆極点図は比較的…

    EBSDで解析したシリコンウエハの事例をご紹介いたします。 ウエハから小片を切り出し、中央50×50μmの領域にてIPFマップを取得。 測定範囲内は、{001}面を表す赤色を示し、また、粒界が見られないこ...

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  • パワーデバイスのトータルソリューションサービス 製品画像

    パワーデバイスのトータルソリューションサービス

    パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します

    囲内でマイグレーションが発生しないことを確認する試験 ・高温逆バイアス/ゲートバイアス試験  高温高湿環境下の絶縁抵抗値の連続モニター  チャネル数 120チャネル ■パワーデバイスの分析・解析 ・パワーチップの故障解析 ・はんだ接合部の解析 ・極低加速特殊SEMによるAlワイヤーのグレイン観察 ・半導体・パッケージ剥離部の非破壊観察...

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