ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社
最終更新日:2023-07-03 15:40:48.0
ローデ・シュワルツの掃引ツールを用いたI/V半導 体特性評価曲線V 01.00
基本情報ローデ・シュワルツの掃引ツールを用いたI/V半導 体特性評価曲線
回路設計・評価に関するソース・メジャー・ユニットを用いたアプリケーションノート
掃引ツールには、半導体を特性評価するためのさまざまなR&S NGUソース・メジャー・ユニット機能があります。
課題
ダイオード、発光ダイオード(LED)、太陽電池などの半導体テクノロジーは絶えず進化しています。そのため、半導体の特性を理解することが非常に重要です。I/V曲線で電流(I)と電圧(V)を組み合わせる手法は、電気回路のコンポーネントやデバイスの主な特性を特定するための一般的なツールです。多くの電子デバイスがあるため、I/V曲線で表すことのできるパラメータは無限にあります。
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ソース・メジャー・ユニット『R&S NGU』
極めて精度が高く、過渡応答時間の短いR&S NGU ソース・メジャー・ユニット(SMU)は、困難なアプリケーションへの挑戦に最適です。特殊な電流計デザインにより1回の掃引でnAからAまでの電流ドレインを正確に測定するため、測定掃引を複数回行う必要がありません。測定器の回復時間が短いので、例えば移動体通信機器がスリープモードから送信モードに切り替わるときに発生する高速負荷変動に対処可能です。高速データ収集では、最小2 μsの分解能であらゆる詳細が検出されます。R&S NGU ソース・メジャー・ユニットは、2象限または4象限アーキテクチャーの採用により、バッテリーと負荷をシミュレートする際、ソースとシンクの両方として機能できます。 (詳細を見る)
取扱会社 ローデ・シュワルツの掃引ツールを用いたI/V半導 体特性評価曲線
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