製品ランキング
- 1
- 電子顕微鏡『CD-SEM』株式会社TCK
- 2
- JSM-IT200 InTouchScopeTM 走査電子顕微鏡アズサイエンス株式会社
- 3
- 微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM)株式会社イオンテクノセンター
- 3
- JEM-F200 多機能電子顕微鏡アズサイエンス株式会社
- 5
- JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡アズサイエンス株式会社
更新日: 集計期間:〜 ※当サイトの各ページの閲覧回数などをもとに算出したランキングです。
製品一覧
電子顕微鏡『CD-SEM』
クラウドによる遠隔操作などソフトウェア面も充実!高分解能電子顕微鏡『CD-SEM』は、寸法計測機能を付加した電子顕微鏡です。 本装置は、幅294mm、奥行き450mm、高さ1 440m、120kgと移動可能な サイズ・重量であり、AC100Vの家庭用電源で動作可能です。 ミニSEMクラスですが、FE電子銃を用いて高分解能を実現しています。 【特長】 ■電子顕微鏡に寸法計測機能を付加 ■世界最小クラス ■AC100Vの家庭用電源で動作可能 ■レジストパターンの計測を行う ■シンプルで直感的な専用ソフトによって、パターン線幅の計測が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。- メーカー・取扱い企業:
- TCK
- 価格帯:
- お問い合わせ
微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM)
物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行っています主な装置は「HR-TEM」「Q-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM)】 ○高速電子線を薄く加工された試料に照射し、透過および散乱する電子の結像により拡大像や結晶構造の情報を提供する手法。 ○薄膜の構造、結晶性の評価に適している。また高分解能観察により結晶構造の観察が可能。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。- メーカー・取扱い企業:
- イオンテクノセンター
- 価格帯:
- お問い合わせ
【コラム】デジタルマイクロスコープと電子顕微鏡の違い
デジタルマイクロスコープと電子顕微鏡の違いとは?適切な機器を選ぶことが大切です電子顕微鏡とデジタルマイクロスコープはそれぞれに得意とする 観察分野が違います。それぞれの特長や使い勝手などを知らないで 選んでしまうと、意図に沿った観察ができないかもしれません。 当コラムでは、デジタルマイクロスコープと電子顕微鏡の特長や 違いについて紹介しています。 どちらを導入すべきか迷っている方は参考にしてください。 詳しくは、関連リンクをご覧ください。 【掲載内容】 ■デジタルマイクロスコープと電子顕微鏡の特長 ■デジタルマイクロスコープと電子顕微鏡の違い ■それぞれの用途にあったものを選ぼう ※コラム(ブログなど)の詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。 詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。- メーカー・取扱い企業:
- アクティブウェーブ
- 価格帯:
- お問い合わせ
JEM-1400Flash 電子顕微鏡
新しい透過電子顕微鏡JEM-1400Flashはバイオロジーからナノテクノロジー、ポリマー、最先端材料に至るまで幅広い分野で活用され用途を多岐に広げています。中でも生物分野をはじめ高分子材料研究、医薬品、病理切片、ウイルス、蛍光顕微鏡でマーキングを施した試料等では、まず低倍率観察で組織や構造、位置、視野の全体的な様子を確認し、その上で注目する微細な構造を高倍率で詳細に観察をしていくというフローが多く、近年この一連の観察フローをより簡単に、スループット良く、ハイスピードでデータを取得したいというニーズが高まっております。 JEM-1400Flashはこのニーズに応えるため、高感度sCMOSカメラや超広視野モンタージュシステム、さらには光学顕微鏡画像と電子顕微鏡のリンク機能を拡張させた加速電圧は120kVの新しい透過電子顕微鏡です。- メーカー・取扱い企業:
- アズサイエンス
- 価格帯:
- ¥50,000,000~¥100,000,000
卓上走査型電子顕微鏡『Phenom XL』
大きな試料室と安定した自動ステージを採用し多彩なアプリケーションに対応します!『Phenom XL』は、金属や製品等サイズの加工が難しい試料や、 そのまま観察したい試料など最大100×100mmまでの試料をセットできる 卓上走査型電子顕微鏡です。 最大36個の試料を一度に観察でき、多検体試料の観察や測定を自動化可能。 また、試料を自由自在に傾斜・回転させて観察したり、 引張・圧迫しながらの観察も行えます。 【特長】 ■試料サイズ最大100×100mm ■試料数最大36個 ■アプリケーション:傾斜・回転、引張・圧縮、自動化 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。- メーカー・取扱い企業:
- ジャスコインタナショナル
- 価格帯:
- お問い合わせ
NeoScopeTM ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡
「誰でもSEM/EDSを操作できる卓上走査電子顕微鏡」JCM-7000は、「誰でもSEM/EDSを操作できる」がコンセプトの卓上走査電子顕微鏡です。 光学像を拡大すればSEM像が観察できる「Zeromag」、分析装置を立ち上げなくても観察中の視野の元素が分かる「Live Analysis」、SEM観察中に三次元観察が可能な「Live 3D」等の機能を搭載しました。 光学顕微鏡の隣に一台置けば、異物分析や品質管理を、よりスピーディーに、より詳細におこなうことができます。- メーカー・取扱い企業:
- アズサイエンス
- 価格帯:
- ¥5,000,000~¥10,000,000
JSM-IT200 InTouchScopeTM 走査電子顕微鏡
すぐ観察!すぐ分析!すぐ報告!SM-IT200は、上位機種であるJSM-IT500の機能を、よりシンプルに、使いやすくしたコストパフォーマンス重視の走査電子顕微鏡です。 初心者に優しい試料交換ナビで、試料セットから視野探し、SEM画像の観察開始まで容易に行うことができます。視野探しを光学顕微鏡感覚で行えるZeromag、分析を意識しなくても元素分析結果が分かるLive Analysis、観察/分析をまとめてレポート作成が行えるSMILE VIEWTM Labなど、分析業務のためのソフトが一つになりました。- メーカー・取扱い企業:
- アズサイエンス
- 価格帯:
- ¥10,000,000~¥50,000,000
卓上低電圧電子顕微鏡『LVEM 5』
卓上でナノスケールを!1つのベンチトップに4つのイメージングモードを搭載しています『LVEM 5』は、1つのベンチトップ機器に4つの異なるイメージング機能を シームレスに組み合わせている為、顕微鏡間で試料の移動が不要な 卓上低電圧電子顕微鏡です。 さらに、ボタンをクリックするだけでTEM SEMおよびSTEMモードで 試料の同じ関心領域を画像化できます。 【特長】 ■高コントラスト ナノスケールイメージング ■独自のベンチトップ設計 ■シンプルなワークフロー ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。- メーカー・取扱い企業:
- FITリーディンテックス
- 価格帯:
- お問い合わせ
ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡『JSM-7900F』
操作性に優れオペレーターのスキルに依存せずに常に高いパフォーマンスを発揮します!当社では、レンズ制御システムと自動機能技術を統合させた 次世代型電子光学制御システム「Neo Engine」を搭載した ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡『JSM-7900F』を取り扱っております。 電子光学条件を変更しても、光軸のズレがほとんどなく、 操作性や観察の精度が大きく向上し、どなたでも容易に装置本来の性能を 引き出すことができます。 【特長】 ■オート機能の向上 ・数秒でフォーカスを合わせることが可能 ■倍率精度の向上 ・高精度の測長も可能 ■エネルギーフィルタの使い勝手向上 ・設定値を大きく変えても、視野やフォーカスのズレがほとんどない ※詳細はお問い合わせください。- メーカー・取扱い企業:
- コスモトレーディング
- 価格帯:
- お問い合わせ
低電圧電子顕微鏡『LVEM25』
ナノ粒子の観察、スクリーニング用TEMとして世界中で使用されています『LVEM25』は、従来の方法で用意された試料から、高コントラストな画像を 提供する低電圧電子顕微鏡です。 コンパクトな1台の機器で3つのパワフルなイメージングモードが使用可能。 モードの切り替えはソフトウェアを介して簡単に操作ができ、 同じ関心領域をTEM STEM EDモードで迅速に画像化できます。 【主な技術的特長】 ■コンパクトデザイン ■特別な施設不要:さまざまな場所に設置可能 ■永久磁石レンズ:冷却不要 ■電解放出電子銃:高コントラスト ■制御装置とソフトウェア:完全な撮像制御 など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。- メーカー・取扱い企業:
- FITリーディンテックス
- 価格帯:
- お問い合わせ
卓上型 電子顕微鏡『JCM-7000 Neo Scope』
光学画像からSEM観察までがシームレス!観察しながら同時に元素分析!当社では、観察中に元素分析も同時測定できる 卓上型電子顕微鏡『JCM-7000 Neo Scope』を取り扱っております。 観測範囲は10倍から100 000倍でSEMのすべての機能が簡単に操作可能。 低倍率の光学画像からSEM画像まで自動拡大し、非導電性試料も そのまま観察できます。 【特長】 ■10倍から100 000倍の観測範囲 ■SEMのすべての機能が簡単操作 ■低倍率の光学画像からSEM画像まで自動拡大-Zeromag-(新機能) ■観察中に元素分析も同時測定-Live Analysis-(新機能)※オプション ■ミクロの寸法測定機能が標準 他 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。- メーカー・取扱い企業:
- 三友商行
- 価格帯:
- お問い合わせ
CRYO ARM 200 電界放出形クライオ電子顕微鏡
タンパク質の単粒子解析法に特化した新型冷陰極電界放出形クライオ電子顕微鏡【特長】 <1>単粒子解析法に最適化した電子光学系 高い分解能とコントラストをもたらす、球面収差係数 (Cs) 1.8mm、色収差係数 (Cc)1.8mmのポールピースを新規に 設計いたしました。また冷陰極電界放出形電子銃、オメガフィルター を搭載し、前機種よりも高分解能データが期待できます。 <2>操作性の向上 オメガフィルターの自動校正機能を搭載し、またフリンジを少なくし た照明系を採用し、ユーザビリティをさらに高めました。 <3>安定性の向上 真空排気系や冷却系などを改善し、装置の安定性をさらに高めまし た。- メーカー・取扱い企業:
- アズサイエンス
- 価格帯:
- お問い合わせ
卓上走査型電子顕微鏡『Phenom ParticleX』
全自動粒子解析が可能な「粒子を測る」ためのシステム!『Phenom ParticleX』は、粒子の検出からサイズ・形状計測、元素分析、 分類までを完全自動化した卓上走査型電子顕微鏡です。 高輝度・長寿命のCeB6電子銃と大きな試料室を搭載。 清浄度検査や粒子の評価を全自動で実施します。 また、通常のSEMとして多彩な観察・解析にも対応しており、 1台で品質管理の現場から研究開発まで多彩にニーズにお応えします。 【特長】 ■CeB6電子銃による安定した測定が可能 ■検出~分類まで1粒子1秒、短時間で解析可能 ■測定レシピやレポートが自由自在にカスタマイズ可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。- メーカー・取扱い企業:
- ジャスコインタナショナル
- 価格帯:
- お問い合わせ
卓上タイプ 低電圧透過型電子顕微鏡(TEM)LVEM 5
LVEM 5 は他に類を見ない「卓上タイプ」「低価格」の「透過型電子顕微鏡(TEM)」。オプションでSEM/STEM追加可能。【LVEM5の主な特徴】 ◆1台でTEM(電子回析含む)、SEM、およびSTEMイメージングモードが搭載できる汎用性。サンプルの同じ領域を、TEM、SEM、STEMモードを切り替えるだけで観察が可能。(各イメージモード搭載時) ◆抜群の省スペース設計、卓上タイプなので特別な施設も不要。 ◆低電圧(5KV)の為、生体材料観察時に試料へのダメージ軽減及び、染色無しでの観察、軽元素・軽金属の観察に有効。 ◆簡単操作で誰にでも扱える為、専任オペレータは不要。 ◆独自設計の永久磁石レンズは冷却が不要 ◆イオンゲッターポンプの採用によりクリーンで振動が無く、高真空を実現。 ◆簡単に切替が出来るイメージングモード 複数のイメージングモードを切替えて実行出来る為、表面画像と透過画像の両方をキャプチャする事が可能です。 また、カラムを再調整したり試料を調整をすることなく、ワンクリックでモードを切替え使用が出来ます。- メーカー・取扱い企業:
- 入江
- 価格帯:
- お問い合わせ
原子間力走査型電子顕微鏡『AFSEM』
SEMとAFMを同時測定!お手持ちのSEMやFIBに取付けての使用が可能『AFSEM』は、お手持ちのSEMやFIBに取付けての使用が可能な 原子間力走査型電子顕微鏡です。 SEMとSPMをin-situで測定でき、試料を取り出すことなく同一環境下の 中での測定が可能。AFM、MFM、KPFMなどに対応しております。 また、ピエゾ素子を内蔵したカンチレバーを使用しており、 カンチレバーの交換後の調整は不要です。 【特長】 ■SEMとAFMのin-situ測定が可能 ■多様な測定モード ■セルフセンシング・カンチレバー ■お手持ちのSEM/FIBに取り付け可能 ※卓上型SEMなど、一部の機種には、取付できない場合がございます。 対応機種については、お問い合わせください。 ※詳しくはHPをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。- メーカー・取扱い企業:
- 日本カンタム・デザイン
- 価格帯:
- お問い合わせ
立体電子顕微鏡『CT-SEM』
試料を傷めずに表面層を掘削可能!掘削面積は最大で2mm×2mmと非常に広範囲です『CT-SEM』は、ナノメートルオーダーの分解能を有したSEMを基本体として、 その試料室に導入されたレーザーによって有機物表面をアブレーション させながら取得したSEM画像を3次元再構築するナノレベルのCT装置です。 断層撮像は、レーザー照射による試料表面のアブレーションとSEMによる 表面画像取得を交互に行いません。 また、アブレーションの際にほとんど熱を発生しないので試料を傷めません。 【特長】 ■有機系材料の表面をレーザーでアブレーションする ■アブレーションの際に殆ど熱を発生しないので材料を傷めない ■1回のアブレーション量は10nmから400nm程度まで連続的に制御可能 ■1回のアブレーション面積は最大で2mm×2mmと非常に広範囲 ■1秒あたり最大で40um以上の高速アブレーションも可能 ■200秒の画像の3Dデータ化であれば、2時間以内に取得可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。- メーカー・取扱い企業:
- TCK
- 価格帯:
- お問い合わせ
JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡
当社の新しいコンセプトカラーであるピュアホワイトとJEOLシルバーを採用しより洗練されたフォルムデザインに仕上がりました。NEOARM は、当社独自の技術で開発された冷陰極電界放出形電子銃(Cold-FEG)と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置(ASCOR)を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。 また、当社独自の収差補正アルゴリズムを開発し高速かつ正確な収差補正を自動的に行うシステムを搭載しました。これにより、ハイスループットな原子分解能観察を提供します。 さらに、加速電圧によらず高い軽元素のコントラストが得られる新型STEM検出器を搭載しました。これにより軽元素のコントラストを向上させゆく新たなSTEMイメージング手法(e-ABF法)が可能となり軽元素を含む材料の明瞭なコントラスト観察が容易になります。 昨今、主流となっておりますリモート操作のご要求に応えるため、本体と操作卓を分離し当社の新しいコンセプトカラーであるピュアホワイトとJEOLシルバーを採用しより洗練されたフォルムデザインに仕上がりました。- メーカー・取扱い企業:
- アズサイエンス
- 価格帯:
- ¥50,000,000~¥100,000,000
19件中1~19件を表示中
- 1