株式会社イオンテクノセンター透過型電子顕微鏡

透過型電子顕微鏡(TEM)でサンプルの微細構造がナノレベルで観察が可能に！

弊社では、高精度なTEM観察用薄片サンプル作製と高度なTEM観察技術から鮮明なサブナノオーダーの構造観察が可能です。

TEM観察
・ナノオーダーの構造把握や格子像の観察を行います。
・TEM画像を使用した解析・評価、EDXによる局所的元素分析を行っております。

TEM画像を用いた解析、評価
・高分解能TEM像による結晶欠陥の解析や歪みマッピング評価を行います。

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用途／実績例	半導体やその他各種試料の物理分析は国内企業様、大学様に多くご利用頂いております。