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      マイクロCTスキャナ

      ミクロンオーダーで内部観察可能。電子部品開発・不良解析に

      • 【カタログ】X線非破壊検査システム 総合カタログ 製品画像

        【カタログ】X線非破壊検査システム 総合カタログ

        豊かな経験をベースに先端技術とシステム技術で各種ニーズをトータルサポート

        東芝は、19世紀末のX線発見の直後からX線発生技術、応用技術の開発に着手するなど、産業界のいろいろな製品の各種ステージにおいて検査ニーズに積極的に対応し、幅広い分野で各種検査装置を提供してまいりました…

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