STAr Technologies, Inc. ウェーハソート用プローブカード
- 最終更新日：2013-03-15 11:39:50.0
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半導体テスト アーキテクツt
SOC IC Test, LCD Driver IC Test, Memory IC Test
基本情報ウェーハソート用プローブカード
STAr's wafer sort tests cantilever probe cards represents the finest epoxy technology on the market for wafer-sort, built-in self-tests (BIST), known good die (KGD), burn-in, etc.
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | ウェーハソート用プローブカード |
| 用途／実績例 | SOC IC Test, LCD Driver IC Test, Memory IC Test |
取扱企業ウェーハソート用プローブカード
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STAr Technologies, Inc. STAr Technologies, Inc.
特にパラメトリック電気特性試験、ウエハ・レベル信頼性認証試験やパッケージ・レベル信頼性認証試験、ミックスドシグナル試験装置、組み立て／パッケージングサービス、プローブカード／ソケットを主な事業としている。
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