STAr Technologies, Inc. 信頼性テストシステム
- 最終更新日：2013-03-15 11:46:21.0
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半導体テスト アーキテクツ
Semicondcutor Reliability Test, Advanced Device Reliability, Power Device Reliability
基本情報信頼性テストシステム
STAr's excellent semiconductor reliability engineering system comprises of design for reliability, wafer-level and package-level reliability, device/process qualification and continuous reliability monitoring.
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | 信頼性テストシステム |
| 用途／実績例 | Semicondcutor Reliability Test, Advanced Device Reliability, Power Device Reliability |
取扱企業信頼性テストシステム
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STAr Technologies, Inc. STAr Technologies, Inc.
特にパラメトリック電気特性試験、ウエハ・レベル信頼性認証試験やパッケージ・レベル信頼性認証試験、ミックスドシグナル試験装置、組み立て／パッケージングサービス、プローブカード／ソケットを主な事業としている。
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