株式会社クレブ 瞬間変動検知 高速マルチチャンネル分光分析システム

いつ起こるかわからない瞬間的な変動を見逃さない!かつてない高速・長時間計測

100μsの高速計測を無制限にモニタリングし続けられます。

 いつ発生するかわからない…
 一瞬だけピークが変動する…
 でも、従来の高速分光器ではデータの取りこぼしや
 モニタ可能時間の短さがネックだ。

このような声にお応えしました。
この速度でデータを取りこぼさないマルチチャンネル型分光器は他にありません。

しかも、プロセスモニタに大変便利な機能もご用意しています。
 ・信号出力機能
 ・プロセス終了後の再生機能
 ・プラズマ発光のリアルタイムバックグラウンド除去

基本情報瞬間変動検知 高速マルチチャンネル分光分析システム

■装置仕様
・マルチチャンネル(多波長同時)分光計測
・測定波長範囲 200nm~950nm
・波長分解能 3nm以下
・露光時間 100μs~2ms

■システム仕様
・シングルショット波長グラフ
・指定波長タイムライングラフ
・2波長比率計算
・信号出力機能(エンドポイント機能)
・データ再生機能
・リアルタイムバックグラウンド除去(部分ベースライン方式)

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
※時期によって異なりますので、お気軽にお問い合わせください。
用途/実績例 エッチングのモニタリング
半導体等の成膜監視
溶接のモニタリング
バイオ・サイエンスの研究用途

カタログ瞬間変動検知 高速マルチチャンネル分光分析システム

取扱企業瞬間変動検知 高速マルチチャンネル分光分析システム

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株式会社クレブ

自社開発ソフトウェア販売  ・発光分光分析システム CrevPEM  ・原子スペクトルデータ閲覧ツール AtomSpectraDBViewer  ・画像形状分析システム ShapeAnalyzer  ・太陽電池特性評価・IV計測 CrevIV  ・その他 太陽電池評価システムの提案  ・装置一式(シミュレータ、計測器、冷却装置等)  ・ソフトウェア 工業系ソフトウェア請負開発  ・装置制御  ・生産ライン監視  ・RFIDシステム  ・計測・分析  ・画像解析

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