株式会社クレブ 瞬間変動検知 高速マルチチャンネル分光分析システム

瞬間変動検知 高速マルチチャンネル分光分析システム http://www.ipros.jp/public/product/image/334/2000184760/IPROS3359924086096378865.png ■装置仕様 ・マルチチャンネル(多波長同時)分光計測 ・測定波長範囲 200nm~950nm ・波長分解能 3nm以下 ・露光時間 100μs~2ms ■システム仕様 ・シングルショット波長グラフ ・指定波長タイムライングラフ ・2波長比率計算 ・信号出力機能(エンドポイント機能) ・データ再生機能 ・リアルタイムバックグラウンド除去(部分ベースライン方式) 株式会社クレブ 測定・分析 > 分析機器 > 分光分析装置
いつ起こるかわからない瞬間的な変動を見逃さない!かつてない高速・長時間計測

100μsの高速計測を無制限にモニタリングし続けられます。

 いつ発生するかわからない…
 一瞬だけピークが変動する…
 でも、従来の高速分光器ではデータの取りこぼしや
 モニタ可能時間の短さがネックだ。

このような声にお応えしました。
この速度でデータを取りこぼさないマルチチャンネル型分光器は他にありません。

しかも、プロセスモニタに大変便利な機能もご用意しています。
 ・信号出力機能
 ・プロセス終了後の再生機能
 ・プラズマ発光のリアルタイムバックグラウンド除去

基本情報瞬間変動検知 高速マルチチャンネル分光分析システム

■装置仕様
・マルチチャンネル(多波長同時)分光計測
・測定波長範囲 200nm~950nm
・波長分解能 3nm以下
・露光時間 100μs~2ms

■システム仕様
・シングルショット波長グラフ
・指定波長タイムライングラフ
・2波長比率計算
・信号出力機能(エンドポイント機能)
・データ再生機能
・リアルタイムバックグラウンド除去(部分ベースライン方式)

価格 -
※お問い合わせください
価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
※時期によって異なりますので、お気軽にお問い合わせください。
発売日 取扱い中
用途/実績例 エッチングのモニタリング
半導体等の成膜監視
溶接のモニタリング
バイオ・サイエンスの研究用途
よく使用される業種 化学、石油・石炭製品、ガラス・土石製品、樹脂・プラスチック、鉄/非鉄金属、電子部品・半導体、光学機器、試験・分析・測定、医療機器、医薬品・バイオ、印刷業、教育・研究機関

カタログ瞬間変動検知 高速マルチチャンネル分光分析システム

瞬間変動検知モニタ 高速マルチチャンネル分光分析システム

瞬間変動検知モニタ 高速マルチチャンネル分光分析システム 表紙画像

従来存在しなかった高速かつ長時間モニタが可能なプロセス監視用分光分析システムです。
いつ発生するかわからない…
一瞬だけピークが変動する…
このようなお声にお応えしました。
従来の高速分光器で問題になっていたデータの取りこぼしやモニタ可能時間の短さを克服しました。

しかも、プロセスモニタに大変便利な機能もご用意しています。
・信号出力機能
・プロセス終了後の再生機能
・プラズマ発光のリアルタイムバックグラウンド除去

取扱企業瞬間変動検知 高速マルチチャンネル分光分析システム

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株式会社クレブ

自社開発ソフトウェア販売  ・発光分光分析システム CrevPEM  ・原子スペクトルデータ閲覧ツール AtomSpectraDBViewer  ・画像形状分析システム ShapeAnalyzer  ・太陽電池特性評価・IV計測 CrevIV  ・その他 太陽電池評価システムの提案  ・装置一式(シミュレータ、計測器、冷却装置等)  ・ソフトウェア 工業系ソフトウェア請負開発  ・装置制御  ・生産ライン監視  ・RFIDシステム  ・計測・分析  ・画像解析

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