阪和電子工業株式会社 Wafer ESD試験器 「HED-W5100D」
- 最終更新日：2014-10-27 09:37:05.0
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Waferレベル、パッケージ品のESD試験が可能！
WaferESD試験器 HED-W5100Dは、300mmウェハーまで対応できる自動印加/自動測定のESD試験器です。
完璧な安全機能を装備し、フレンドリーで使いやすい操作性を実現しています。
ウェハーの試験チップや印加ポジションの選択を含めた試験条件は、全てモニター上から設定可能。作業性の向上に大きく貢献します。
また、本装置は一般のパッケージ品に対しても試験が可能です。
【特徴】
○最大300mmのウェハーに対応
○印加ピンでの波形保証
○多様な規格波形への対応
○画像認識機能（オプション）
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
基本情報Wafer ESD試験器 「HED-W5100D」
【特徴】
○チップサイズを入力するだけで試験有効チップのエリアを作成できる
○最大99mm×99mmの範囲で自動印加できる
○PassとFailの試験結果はカラー色で自動識別して、
ウェハー上のESD耐性分布を視覚的に見ることができる
○マルチ・チップへの印加に対して、
4階層に分けた印加のワーク条件を設定することができる
○各試験チップの試験データを保存することができる
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カタログWafer ESD試験器 「HED-W5100D」
取扱企業Wafer ESD試験器 「HED-W5100D」
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半導体用評価測定器事業（ESD事業） プリント基板アッセンブリ事業(OEM事業)
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