基盤外観検査装置 Hi-SPECKER Sherlock-3D-1100S<3D-AOI>
【特長】
◇レーザスキャンによる3次元計測
1.光切断による3次元計測
2.高速検査を実現する光学ユニット
＝業界トップクラスの検査速度2,700mm2/秒＝
◇3D形状を用いた高い検査能力
1.「代替」検査から「直接」検査へ
2."おおきいもの～小さなものまで高精度に"を実現する「マルチスキャン」
＝業界トップの計測レンジ<高さ最大20mm>＝
◇オペレータにやさしいユーザ インタフェース
1.様々な角度から観察可能な目視判定システム
2.「検査結果リスト」でひと目で以異常を確認
◇作業効率を高める"らくらく"ティーチング"
1.プリインストール ライブラリ
2.対象部品に特化した検査コマンド
カタログダウンロードより詳細をご覧頂き、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報基板外観検査装置 『Sherlock-3D-1100S』
【主要仕様・オプション】
◇Editor〔オフラインティーチングソフト〕
検査基盤の操像データの取り込み後、ライン稼動を妨げることなくオフラインでティーチングデータを作成。
◇Repair Station〔修理サポートシステム〕
不良箇所の位置・モードを画像と共に確認できるため、リペア作業を効率よく行え、
修理履歴のデータ化も可能。
◇SPC System〔検査状況統計ソフト〕
1.工程内不良分析
不具合内容別、部品別、時間別、装置別による表示。工程改善、品質向上に活用可能。
2.工程異常の発見
統計的平均値（CL)、管理限界値（LCL、UCL）のリアルタイム表示による工程異常判別機能。
カタログでは詳細情報をご覧頂けます。
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取扱企業基板外観検査装置 『Sherlock-3D-1100S』
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○エレクトロニクス応用製品 ○自動車部品 ○精密機械加工品 ○スキー・スノーボードブーツ ○ビールの開発・設計・製造・販売
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