基盤外観検査装置 Hi-SPECKER Sherlock-500L<AOI>
【特長】
◇超微小部品から大型部品まで検査可能!
1. Lサイズ、高さ最大45mm部品もOK
2. 高被写界深度で背高部品もOK
3. 高剛性カメラ2軸駆動でリフロー前もOK
4. 最高分解能10μmで小型部品もOK
◇トップクラスの検査速度で高速ラインにも対応可能
1. 毎秒7,500mm2超高速検査を実現
2. 高速駆動部×高速撮像カメラ×高精度大口径レンズ
これら全てを最適・専用設計!性能とコストを両立
◇スマートオペレーション、簡単操作!
1. 簡単!直感的タッチ操作
2. 便利なティーチング支援ツール搭載
カタログダウンロードより詳細をご覧頂き、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報基板外観検査装置 『Sherlock-500L』
【主要仕様・オプション】
◇Editor〔オフラインティーチングソフト〕
検査基盤の操像データの取り込み後、ライン稼動を妨げることなくオフラインでティーチングデータを作成。
◇Repair Station〔修理サポートシステム〕
不良箇所の位置・モードを画像と共に確認できるため、リペア作業を効率よく行え、
修理履歴のデータ化も可能。
◇SPC System〔検査状況統計ソフト〕
1.工程内不良分析(バレート図分析)
不具合内容別、部品別、時間別、装置別による表示。工程改善、品質向上に活用可能。
2.工程異常の発見
統計的平均値(CL)、管理限界値(LCL、UCL)のリアルタイム表示による工程異常判別機能。(警報表示)
カタログでは詳細情報をご覧頂けます。
是非ダウンロード頂き、お気軽にお問い合わせください。
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