FtrPIA 粒子計測システムフローテック・リサーチ

可視化から定量化までをスムーズに融合する粒子計測システム

分散二相流の特性を表す重要な物理量は粒子個々の粒子径と速度の情報です。
FtrPIA (Particle Image Analyzer) は、背景照明と直接撮影を利用した粒子計測システムです。粒子形成過程から飛翔状況までを可視化しながら定量化できるため、分散二相流の特性把握に威力を発揮します。

PIA（Particle Image Analyzer）は、飛翔している粒子を顕微鏡レンズ等を用いて拡大撮影し、粒子像を画像解析することによって粒子径と速度を測定する手法で、球形/非球形、透明/不透明、固体/液体の別なく測定できることが利点です。
測定精度は撮像デバイスの空間分解能と撮影光学系の分解能によって規定されます。
FtrPIAシステムでは、被写界深度の問題を解決したFtrPIA-TCL、濃密粒子群の計測のためのFtrPIA-Endoscopeをラインアップしております。

関連リンク - http://www.ft-r.jp/system/particle.html

基本情報FtrPIA 粒子計測システム

・多彩な粒子形状の計測を可能とするシステムラインナップ
・独自開発ソフトウェア（ FtrPIA）が誇る操作性と解析速度
・完全自社開発による抜群のコストパフォーマンス
・既存装置を利用した柔軟なシステム構築が可能
・多様なカメラや光源の選択による幅広い適用性
・豊富な計測実績が保障する高い信頼性
・専門家によるコンサルテーションと技術サポート
・受託計測サービス（オプション）

価格情報	柔軟なカスタマイズに対応します。お気軽にお問い合わせください
納期	お問い合わせください ※お気軽にお問い合わせください
型番・ブランド名	FtrPIA
用途／実績例	【FtrMVP】飛翔する濃密粒子群の特性を「その場計測」するためのマイクロ可視化プローブです。プローブを粒子群に挿入することによって濃密に飛翔する粒子群の深部を撮影することができます。背景照明による直接撮影法を利用しており、透明／不透明、球形／非球形、粒子材質を問わず、様々な粒子に適用可能です。

ラインナップ

型番	概要
FtrPIA-Shadow	背景照明式PIA計測のための標準システム DIT ( Direct Image Technique )法による粒子計測システムです。背景照明と直接撮影を利用した粒子計測システムの基本システムです。
FtrPIA-TCL	Two-color Laser（TCL）を利用した被写界深度チェック機能付のPIAシステムです。DIT法の欠点とされた被写界深度の影響による測定精度低下を克服した高精度粒子計測システムです。＊特許取得
FtrPIA-Endoscope	独自開発エンドスコープを利用した濃密粒子群計測用PIA ＊本システムの開発はJST（科学技術振興機構）の平成19年度科学技術振興機構の独創モデル化事業における開発費支援を受けて開発されたものです。＊特許取得