かつてない低コストで実現
●特殊ハーフミラー（特許取得済）の採用により、裏面反射光をカットし、裏面処理無しで短時間で正確な測定ができます。（薄板0.2mmの反射率測定が可能：×20倍対物レンズ使用時）
●レンズ曲面、コーティングむらも測定可能です。（試料面に微小スポット（φ50μm）を結ぶ）
●低反射試料でも短時間で再現性の高い測定ができます。（独自の光学設計により光量を最大限に取り込み、512素子のリニアPDA、16bit A/Dコンバータ内蔵、USB2.0インターフェース高速演算でスピーディな測定を実現）
●色度測定、L*a*b*測定ができます。分光反射率から分光測色法に基づき物体測定ができます。
●Microsoft Excel(R)形式でのデータ保存が可能です。
●単層膜を非接触、非破壊で測定ができます。
●同一の画面上に複数の測定結果を表示機能付きです。測定結果の比較が容易になります。
基本情報反射率測定装置 MSP-100
測定波長： 380～1050nm
測定再現性： ±0.2％(380～450nm)、±0.02％(451～950nm)、±0.2％(951～1050nm)
試料側N.A.： N.A. 0.12(10×対物レンズ使用時)
試料の測定範囲： φ50μm(10×対物レンズ使用時)
試料の曲率半径： -1R～-∞、+1R～∞
表示分解能： 1nm
測定時間 ： 数秒～十数秒(サンプリング時間により異なる)
外形寸法 ： (W)230×(H)560×(D)460mm(本体のみ)
使用温度範囲： 18～28℃
使用湿度 ： 60％以下(結露なきこと)
| 価格情報 | 4,000,000円 |
|---|---|
| 価格帯 | 100万円 ~ 500万円 |
| 納期 |
お問い合わせください
※お問い合わせください。 |
| 用途／実績例 | 微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定。 デモのご希望がございましたらお問い合わせください。 |
取扱企業反射率測定装置 MSP-100
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