株式会社コアシステム レーザ走査表面形状検査機『CSM&CSYSシリーズ』
- 最終更新日:2018-06-26 17:55:38.0
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広い範囲の微小な高さの変化を測定可能な表面形状検査機!極めて振動に強く除震台・防振装置が不要です!
『CSM&CSYSシリーズ』は、広い測定範囲を超高感度で速く測定が可能な
レーザ走査表面形状検査機です。特許技術の「レーザ表面形状検査機」で、半導体ウエハ(Si,SiC,GaN,etc.)、MEMS、ハードディスク、FPD用機能性フイルム、スパッタ薄膜などの「表面形状」「粗さ」「うねり」「パーティクル」「キズ欠陥」を高感度で、早く、広い範囲を検査して「デジタルデータ」と「3D画像データ」を表示します。
【特長】
■レーザ走査式非接触で表面形状 測定データ表示
■高い検出感度で広い測定範囲を、速く測定してデジタル画像表示
■シンプルな光学検出原理と構造のために、信頼性が高い
■極めて振動に強く除震台・防振装置不要
■インライン工程内の全数非破壊検査、自動化対応可能
※詳細は資料請求して頂くか、ダウンロードからPDFデータをご覧下さい。
基本情報レーザ走査表面形状検査機『CSM&CSYSシリーズ』
【ラインアップ】
■CSYS 12-450
■CSYS 12-300
■CSYS 12-200
■CSYS 12-100
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 【測定対象ワーク】 ■半導体ウエハ、ハードディスク、マスク、FPDなどの鏡面 ■研削加工表面、薄膜スパッタ、機能性フイルムなどの、 表面形状・粗さ(Ra)・キズ欠陥・汚れ等の表面検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログレーザ走査表面形状検査機『CSM&CSYSシリーズ』
取扱企業レーザ走査表面形状検査機『CSM&CSYSシリーズ』
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