リードテクノ株式会社 圧電セラミックス 変位 測定システム
- 最終更新日:2017-11-22 09:53:46.0
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圧電体の分極及び変位特性を計測
・圧電体の分極及び変位特性を計測
・圧電体のヒステリシスループ(ソーヤー回路)を計測し、残留分極、抗電界を算出
・圧電体の変位量を計測(DC ヒステリシス、バタフライカーブ)
基本情報圧電セラミックス 変位 測定システム
・測定周波数:1mHz~1Hz
・変位計分解能:0.01μm
・静電容量:10nF~10μF
・試料加熱:Max.150℃
価格帯 | 100万円 ~ 500万円 |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 圧電体の分極及び変位特性を計測 PLZT(9/65/35) の分極曲線、電界誘起歪み曲線を測定 試料厚さ:360um 測定周波数:0.1Hz |
取扱企業圧電セラミックス 変位 測定システム
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