高精細画像診断システム『CLIP MICRO』ジャパンシステム

基本ライブラリを使用し検査プログラムを作成！ウエハやプリント基板などの検査に

ジャパンシステム株式会社では、画像処理、波形自動処理判定、お客様の
ニーズに従ったシステムを設計、製作し提供しています。

『CLIP MICRO』は、ウエハ、フィルムのゴミ、ガラス印刷、
プリント基板のパターン検査が可能な高精細画像診断システムです。

測定、欠陥、ゴミ検出など基本のライブラリを使用し、対象に合わせた
検査プログラムを作成します。

【特長】
■ウエハ、フィルムのゴミ、ガラス印刷、プリント基板のパターン検査が可能
■測定、欠陥、ゴミ検出など基本のライブラリを使用
■対象に合わせた検査プログラムを作成
■焦点：オートフォーカス

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連リンク - http://www.jpnsys.co.jp/index.html

基本情報高精細画像診断システム『CLIP MICRO』

【対物レンズと分解能　測定視野】
＜対物レンズ倍率／分解能／測定視野＞
■X5／0.68μm／5440μm
■X10／0.34μm／2720μm
■X20／0.17μm／1360μm
■X50／0.068μm／680μm

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯	お問い合わせください
納期	お問い合わせください
用途／実績例	【用途】 ■ウエハ、フィルムのゴミ、プリント基板、ガラス印刷のパターン検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。