卓上型X線回折装置（XRD）　Aeris（エアリス）スペクトリス株式会社マルバーン・パナリティカル事業部

【2021年透過測定・薄膜測定オプション登場】卓上型X線回折装置(XRD)!1％以下の低濃度の結晶相まで検出可能な高感度分析装置

スペクトリス(株)マルバーン・パナリティカル事業部は、卓上型粉末X線回折装置Aerisで、この度大きく機能を追加したリニューアルモデルを発売しました。

薄膜XRD（GIXRD）測定の機能拡張により、薄膜やコーティング材料の結晶性や残留応力の測定が可能になったほか、透過率測定機能の拡張により、サンプル前処理時の配向の影響を低減し、製剤試料のような試料でも、より正確なデータが得られるようになりました。

今回のリニューアルで、以前は床置き型の大型装置でのみ対応していた機能が搭載できるようになりました。

新しいAerisは、多結晶材料から高品質のデータをスループットよく提供することが出来る卓上型の多目的X線回折装置であり、すべての環境で使用できるように設計されています。

また従来のAerisでも定評のあったユーザフレンドリな操作性、X線暴露の心配のない安心設計、詳細な解析が可能な大型の床置き装置と同じ解析ソフトウエアは今回のリニューアルでもしっかりと引き継がれています。

製品の詳細説明、測定事例のご紹介、お見積りのご要望などは是非お問合せください！

関連リンク - https://www.malvernpanalytical.com/jp/products/pro…

基本情報卓上型X線回折装置（XRD）　Aeris（エアリス）

マルバーン・パナリティカルでは高感度・詳細解析が可能な卓上型のX線回折装置 Aeris（エアリス）の他、卓上の蛍光X線分析装置、詳細な分析を可能にする床置き型の各種X線分析装置、粒度分布測定のグローバルスタンダートであるマスターサイザーシリーズ、ナノ粒子分析のゼータサイザーシリーズなども取り扱っています。

マルバーン・パナリティカルは、粒子計測装置を主に取り扱うMalvern Instruments社(イギリス)とX線分析装置を主に取り扱うPANalytical社(オランダ)の統合により2018年に誕生した、精密計測機器、制御機器を供給するSpectris PLC （イギリス）の一事業部で、日本ではスペクトリス（株）マルバーン・パナリティカル事業部として活動をしています。

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型番・ブランド名	Aeris (エアリス)
用途／実績例	【粉末多結晶試料のアプリケーション】 ●結晶相定性分析、定量分析（リートベルト法） ●結晶化度解析、結晶子サイズ、結晶構造解析ならびに精密化 ●２Ｄ検出器のよるデバイ環による結晶状態確認 ●温度可変状態観測 ※配向がデータに影響する製薬材料や薄膜試料に対応する透過測定・薄膜測定オプションもございます。 ※詳しくはPDFをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。