ジーフロイデ株式会社 表面粗さ測定装置『MFT』

サンプル表面の細かい面粗さが測れる!コストパフォーマンスに優れております

『MFT(MicroFinish Topographer)』は、シンプルでコストパフォーマンスに
優れた小口径から大口径、そして特大口径のサンプルの表面粗さ測定装置です。

高精度なフェイズ測定干渉計はApre社のソフトウェアREVEALにより
制御駆動され、直観的かつ容易な作業で様々な解析環境をご提供致します。

【特長】
■シンプルな特大口径光学パーツ測定
■小口径パーツの測定を素早く
■仕上がりの情報を迅速にフィードバック
■迅速な非接触粗さ測定
■簡単でかつ大口径対象を直接測定

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基本情報表面粗さ測定装置『MFT』

【その他の特長】
■ダイヤモンドターニングマシンに搭載可能
■安価でシンプル、フレキシブルな測定プラットフォーム

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価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせください。

カタログ表面粗さ測定装置『MFT』

取扱企業表面粗さ測定装置『MFT』

ジーフロイデ株式会社

【取扱製品】 ■非接触式レンズ中心厚測定機(CT-gauge) ■光学システム調芯用干渉計 コマフリンジアナライザー(CFA-1) ■非接触ポータブル粗さ計(MFT)

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